碳化硅(sic)mosfet 文章 最新資訊
單片驅動器+ MOSFET (DrMOS)技術如何改善電源系統(tǒng)設計

- 本文介紹最新的驅動器+ MOSFET (DrMOS)技術及其在穩(wěn)壓器模塊(VRM)應用中的優(yōu)勢。單片DrMOS器件使電源系統(tǒng)能夠大幅提高功率密度、效率和熱性能,進而增強最終應用的整體性能。引言隨著技術的進步,多核架構使微處理器在水平尺度上變得更密集、更快速。因此,這些器件需要的功率急劇增加。微處理器所需的這種電源由穩(wěn)壓器模塊(VRM)提供。在該領域,推動穩(wěn)壓器發(fā)展的主要有兩個參數。首先是穩(wěn)壓器的功率密度(單位體積的功率),為了在有限空間中滿足系統(tǒng)的高功率要求,必須大幅提高功率密度。另一個參數是功率轉換效率
- 關鍵字: ADI MOSFET 電源系統(tǒng)設計
UnitedSiC(現(xiàn)為 Qorvo)針對電源設計擴展更高性能和效率的750V SiC FET 產品組合

- Qorvo?今天宣布推出采用表面貼裝 D2PAK-7L 封裝的七款 750V 碳化硅 (SiC) FET,借助此封裝選項,Qorvo 的 SiC FET可為車載充電器、軟開關 DC/DC 轉換器、電池充電(快速 DC 和工業(yè))以及IT/服務器電源等快速增長的應用量身定制,能夠為在熱增強型封裝中實現(xiàn)更高效率、低傳導損耗和卓越成本效益的高功率應用提供更佳解決方案。Qorvo 的第四代 UJ4C/SC 系列在 650/750V 時具有9mΩ的業(yè)界更低 RDS(on),其額定值分別為 9、11、18、23、33、
- 關鍵字: UnitedSiC Qorvo 電源 SiC FET
碳化硅助力電動汽車的續(xù)航和成本全方位優(yōu)化

- 與傳統(tǒng)的硅器件相比,碳化硅(SiC)器件由于擁有低導通電阻特性以及出色的耐高溫、高頻和耐高壓性能,已經成為下一代低損耗半導體可行的候選器件。此外,SiC 讓設計人員能夠減少元器件的使用,從而進一步降低了設計的復雜程度。SiC 元器件的低導通電阻特性有助于顯著降低設備的能耗,從而有助于設計出能夠減少 CO2 排放量 的環(huán)保型產品和系統(tǒng)。羅姆在 SiC 功率元器件和模塊的 開發(fā)領域處于先進地位,這些器件和模塊在許多行業(yè)的 應用中都實現(xiàn)了更佳的節(jié)能效果。水原德健, 羅姆半導體(北京)有限公司技術中心總經理
- 關鍵字: 202207 碳化硅 電動汽車 羅姆
安森美: 打造可提供從襯底到模塊的端到端SiC方案供應商

- 由于 SiC 具有更快的開關速度,因此對于某些拓撲結構,可縮減無源元器件如電感器的尺寸以降低系統(tǒng)尺寸和成本。光伏發(fā)電和大規(guī)模儲能變得越來越重要,最終將取代所有的污染性能源。由于可再生能源目前僅占全球總發(fā)電量的一小部分,因此 SiC 將有長遠的發(fā)展路向。隨著電動車采用率的增加,充電樁將大規(guī)模部署,另外,SiC 最終還將成為電動車主驅逆變器的首選材料,因為它可減少車輛的整體尺寸和重量,且能效更高,可延長電池使用壽命。安森美首席碳化硅專家,中國汽車OEM技術負責人 吳桐 博士安森美 (onsemi) 在收購上游
- 關鍵字: 202207 安森美 SiC
TrendForce:估今年車用SiC功率組件市場破10億

- 為進一步提升電動車動力性能,全球各大車企已將目光鎖定在新一代SiC(碳化硅)功率組件,并陸續(xù)推出了多款搭載相應產品的高性能車型。依TrendForce研究,隨著越來越多車企開始在電驅系統(tǒng)中導入SiC技術,預估2022年車用SiC功率組件市場規(guī)模將達到10.7億美元,2026年將攀升至39.4 億美元。 隨著越來越多車企開始在電驅系統(tǒng)中導入SiC技術,預估2022年車用SiC功率組件市場規(guī)模將達到10.7億美元。TrendForce指出,目前車用SiC功率組件市場主要由歐美IDM大廠掌控,關鍵供貨
- 關鍵字: TrendForce SiC 功率組件
破解SiC、GaN柵極動態(tài)測試難題的魔法棒 — 光隔離探頭

- SiC、GaN 作為最新一代功率半導體器件具有遠優(yōu)于傳統(tǒng) Si 器件的特性,能夠使得功率變換器獲得更高的效率、更高的功率密度和更低的系統(tǒng)成本。但同時,SiC、GaN極快的開關速度也給工程師帶來了使用和測量的挑戰(zhàn),稍有不慎就無法獲得正確的波形,從而嚴重影響到器件評估的準確、電路設計的性能和安全、項目完成的速度。SiC、GaN動態(tài)特性測量中,最難的部分就是對半橋電路中上橋臂器件驅動電壓VGS的測量,包括兩個部分:開關過程和Crosstalk。此時是無法使用無源探頭進行測量的,這會導致設備和人員危險,同時還會由
- 關鍵字: SiC GaN 柵極動態(tài)測試 光隔離探頭
碳化硅(sic)mosfet介紹
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