筑波科技與美商泰瑞達攜手ETS 開創(chuàng)化合物半導體IC的動態(tài)測試新紀元

圖 筑波科技華南區(qū)銷售總監(jiān)黃博彥Fred Huang、ETS動態(tài)測試方案

筑波科技(ACE Solution)與美商泰瑞達(Teradyne)攜手合作，推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT測試整合方案，為半導體行業(yè)市場帶來突破性的競爭優(yōu)勢。半導體功能測試（FT）向來需要克服各種挑戰(zhàn)，包括復雜的案例設計、執(zhí)行和系統(tǒng)維護、數(shù)據(jù)分析管理，以及對測試環(huán)境穩(wěn)定性的高度要求。如何以單一機臺實現(xiàn)CP與FT測試的一機多用，實現(xiàn)DUT批次特性驗證，產(chǎn)線大批量生產(chǎn)並兼顧「動態(tài)和靜態(tài)」測試，成為了業(yè)界關注的焦點。

ETS 動態(tài)測試整合方案結合多種專為IPM/PIM測試而設計之硬體配置（包括Teradyne ETS-88、PDU、OSCILLOSCOPE、LCR Meter和Test Head），ETS-88擁有雙扇區(qū)設計，為系統(tǒng)帶來高度靈活性，使其能在LAB環(huán)境下驗證CP&FT。該方案集成動態(tài)RDSon測試和AC測試功能，其獨特一體化測試頭設計，更在靜動態(tài)測試實現(xiàn)重大突破，確保高度的穩(wěn)定整合與便利。

該方案展現(xiàn)業(yè)界領先的多項優(yōu)勢：DC測試提供1000V/100A (Option: 3KV/1KA)、IV source (12A)、AC測試(2KV/2KA)、SC測試(8KA)、支持動態(tài)RDSon、至多10組的多脈沖測試、動靜一體式的測試頭、小于20nH的測試頭雜散電感、最小的電流精度nA等，同時提供多Site的FT測試和CP測試，搭配標準軟件客制化，整體開發(fā)周期短于兩個月，同時能夠獲得本地服務支持?？傮w而言，ETS GaN Mos FT以其價格合理、靈活性高和一體化整合等特點，為客戶帶來全新測試體驗。

透過與泰瑞達ETS的合作，筑波科技為客戶提供全面的解決方案，實現(xiàn)高效、高便捷性的測試。ETS GaN Mos整合四大關鍵性能：業(yè)界領先的高測試效率、100%高穩(wěn)定性、靈活高效的動態(tài)測試性能，以及自主研發(fā)的便捷使用及調適功能軟件。這些性能實現(xiàn)重復循環(huán)測試，支持任意脈沖數(shù)開關測試，實現(xiàn)不同電流等級開關參數(shù)的一次性測試，不影響測試時間。此外，還支持多模式的短路電流測試，可實現(xiàn)上下管單管短路和上下管直通短路測試，并可選擇VIN和ITRIP(CSC)作為關斷信號，測試程序的自動轉載及數(shù)據(jù)輸出工具一鍵操作，在批次測試結束時自動生成Excel格式數(shù)據(jù)，實現(xiàn)繼電器的可視化調適和壽命管控，以及測試項目的快速選擇工具。

筑波科技結合泰瑞達ETS在全球超過6600臺以上的裝機量市場優(yōu)勢，共同提供軟件客制化整合策略：融合方案整合設計(探針臺/卡、分選機、Load Board、Socket之一站式ATE連接DUT設計)、特殊環(huán)境模擬設備、ETS系列、研發(fā)類One Box機臺，實現(xiàn)AC to DC一體測試（AC/DC），現(xiàn)在到未來的一機實現(xiàn)（650 vs 3KV），單工位到多工位的一架多位（1~16 Site），從研發(fā)到量產(chǎn)（CP/FT/Module）、單機到整合（Customized Software）等全方位方案。筑波科技在臺灣及中國深圳設有半導體工程中心，可提供本地化的即使服務。