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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 動態(tài)測試

動態(tài)測試WBG功率半導(dǎo)體裸片

  • 雙脈沖測試將在電力電子的未來中發(fā)揮關(guān)鍵作用。電源設(shè)計人員和系統(tǒng)工程師依靠它來評估 MOSFET 和 IGBT 等功率半導(dǎo)體在動態(tài)條件下的開關(guān)特性。通過評估開關(guān)期間的功率損耗和其他指標(biāo)，這些測試使工程師能夠優(yōu)化最新電源轉(zhuǎn)換器、逆變器和其他電源電路的效率和可靠性。推動采用雙脈沖測試的是它能夠在設(shè)計過程的早期評估最壞情況下工作條件下的電力電子設(shè)備。這有助于降低將來出現(xiàn)不可預(yù)見問題的風(fēng)險。然而，由于 SiC MOSFET 的開關(guān)速度更快，GaN 功率 FET 的頻率更高，因此基于氮化
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是德科技在寬禁帶半導(dǎo)體裸片上實現(xiàn)動態(tài)測試

  • ●? ?無需焊接或探針，即可輕松準(zhǔn)確地測量寬禁帶功率半導(dǎo)體裸片的動態(tài)特性●? ?是德科技夾具可在不損壞裸片的情況下實現(xiàn)快速、重復(fù)測試●? ?寄生功率回路電感小于10nH，實現(xiàn)干凈的動態(tài)測試波形是德科技在寬禁帶半導(dǎo)體裸片上實現(xiàn)動態(tài)測試是德科技增強(qiáng)了其雙脈沖測試產(chǎn)品組合，使客戶能夠從寬禁帶（WBG）功率半導(dǎo)體裸芯片的動態(tài)特性的精確和輕松測量中受益。在測量夾具中實施新技術(shù)最大限度地減少了寄生效應(yīng)，并且不需要焊接到裸芯片上。這些夾具與是德科技的兩個版本的
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筑波科技與美商泰瑞達(dá)攜手ETS 開創(chuàng)化合物半導(dǎo)體IC的動態(tài)測試新紀(jì)元

  • 圖 筑波科技華南區(qū)銷售總監(jiān)黃博彥Fred Huang、ETS動態(tài)測試方案筑波科技(ACE Solution)與美商泰瑞達(dá)(Teradyne)攜手合作，推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT測試整合方案，為半導(dǎo)體行業(yè)市場帶來突破性的競爭優(yōu)勢。半導(dǎo)體功能測試（FT）向來需要克服各種挑戰(zhàn)，包括復(fù)雜的案例設(shè)計、執(zhí)行和系統(tǒng)維護(hù)、數(shù)據(jù)分析管理，以及對測試環(huán)境穩(wěn)定性的高度要求。如何以單一機(jī)臺實現(xiàn)CP與FT測試的一機(jī)多用，實現(xiàn)DUT批次特性驗證，產(chǎn)線大批量生產(chǎn)並兼顧「動態(tài)和靜態(tài)」測試，成為了業(yè)界關(guān)
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彈性材料的動態(tài)測試

  • 現(xiàn)代彈性體的動態(tài)材料性能數(shù)據(jù)比以前任何時候更為重要。彈性組份在所有產(chǎn)品，從汽車、計算機(jī)到高爾夫球中都起...
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基于虛擬儀器技術(shù)的無線電高度表動態(tài)測試系統(tǒng)

  • 摘要：從無線電高度表工作原理的分析與研究出發(fā)，提出了基于虛擬儀器技術(shù)和I／Q調(diào)制器的無線電高度表動態(tài)測試系統(tǒng)的總體設(shè)計，同時對測試數(shù)據(jù)的處理理論進(jìn)行了一定的分析和研究。結(jié)合高度表測試實例，采用基于數(shù)據(jù)采
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基于PC／104的陀螺儀動態(tài)測試系統(tǒng)設(shè)計

  • 0 引 言
    陀螺儀是平臺穩(wěn)定系統(tǒng)的敏感測量元件，它敏感臺體的角運動信號，通過平臺伺服回路，建立平臺的穩(wěn)定基準(zhǔn)。因此陀螺儀的性能直接影響到平臺穩(wěn)定系統(tǒng)的性能，對嚴(yán)格測試其動態(tài)性能指標(biāo)具有重要的意義。
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動態(tài)測試介紹

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