邊界掃描解決的測試問題(06-100)

　　邊界掃描測試技術(shù)正在變熱。從1990年開始，它是針對解決基于物理接觸技術(shù)(如針床和浮動探針系統(tǒng))的傳統(tǒng)板測試的有限接入問題。IEEE1149.1邊界掃描應(yīng)用擴展已超出JTAG原來成員的想象。

　　現(xiàn)在有不少的相關(guān)IEEE標準，如1149.4、1149.6、1532和5001,加上兩個主要的起初標準IJTAG(現(xiàn)在是IEEEP1687和SJTAG)。

　　·IJTAG(I指內(nèi)部)用測試接入端口(TAP)做為進入系統(tǒng)芯片(SoC)或類似器件內(nèi)部測試和調(diào)試儀器的主要通路形式。

　　·SJTAG(S指系統(tǒng))用系統(tǒng)中由邊界掃描使能板和某些背板總線形式(可用做測試總線)構(gòu)成的邊界掃描架構(gòu)。

　　現(xiàn)在邊界掃描應(yīng)用正在向兩個完全不同的方向發(fā)展。邊界掃描能很好地解決某些邊界問題，但不能解決全部問題。

　　邊界掃描發(fā)展概況

　　圖1示出自IEEE1149.1第一版本發(fā)布以來邊界掃描技術(shù)蓬勃發(fā)展情況。邊界掃描不僅僅在單板級擴展(1149.1、1149.6和1532),而且已進入核基設(shè)計(1500、5001,現(xiàn)在的P1687/IJTAG)并進入多板系統(tǒng)設(shè)計。

　　邊界掃描能解決有關(guān)芯片、板和系統(tǒng)測試的所有問題嗎？在做答此問題之前，我們必須定義一些共同術(shù)語以防誤解。

　　器件定義為板上的實體。一旦器件組裝在板上，則可以結(jié)構(gòu)或功能觀點測試板。結(jié)構(gòu)測試可驗證制造的性能指標，如制造過程期間引起的失效檢測。