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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 邊界掃描

嵌入式邊界掃描

  • 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級(jí)測(cè)試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個(gè)十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
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用下行鏈路實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程邊界掃描測(cè)試

  • 將內(nèi)部IEEE1149架構(gòu)與集成在產(chǎn)品中的通信端口鏈接起來(lái)，供外界使用。一段時(shí)間以來(lái)，工程師們按照IE...
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基于邊界掃描技術(shù)的混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

  • 分析了用于模數(shù)混合電路的邊界掃描測(cè)試技術(shù)的工作機(jī)制對(duì)測(cè)試主控系統(tǒng)的功能需求．提出了一種基于微機(jī)的符合IEEEll49.4標(biāo)準(zhǔn)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試主控系統(tǒng)。所采用的廣義特征分析法利用庫(kù)函數(shù)映射的思想，將傳統(tǒng)的各
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采用邊界掃描法測(cè)試系統(tǒng)級(jí)芯片互連的信號(hào)完整性

  • 互連中的信號(hào)完整性損耗對(duì)于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來(lái)說(shuō)是非常關(guān)鍵的問(wèn)題，因此經(jīng)常在設(shè)計(jì)和測(cè)試中采用一些特殊的方法來(lái)解決這樣的問(wèn)題。本文介紹如何利用片上機(jī)制拓展JTAG標(biāo)準(zhǔn)使其包含互連的信號(hào)完整性測(cè)試，從而利
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用JTAG邊界掃描測(cè)試電路板、BGA和互連

  • 當(dāng)?shù)谝慌娐钒鍢影宸旁谟布こ處熥烂娴臅r(shí)候，在測(cè)試時(shí)他會(huì)感到非常困擾。工程師耗費(fèi)幾個(gè)星期的時(shí)間設(shè)計(jì)電路圖和布板，現(xiàn)在電路板做出來(lái)了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現(xiàn)在必須確定它能否工作。工程師插上板
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對(duì)PLD進(jìn)行邊界掃描（JTAG）故障診斷

  • 對(duì)PLD進(jìn)行邊界掃描（JTAG）故障診斷,IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的邊界掃描技術(shù)是針對(duì)復(fù)雜數(shù)字電路而制定的。標(biāo)準(zhǔn)中的自治測(cè)試技術(shù)現(xiàn)已成為數(shù)字系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)的主流。在利用邊界掃描技術(shù)對(duì)芯片印刷電路板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，單芯片與多芯片電路板雖有相同點(diǎn)，但也有不
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基于邊界掃描的電路板快速測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 　摘要：本文設(shè)計(jì)了一套基于邊界掃描的電路板快速測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)利用計(jì)算機(jī)并行端口,通過(guò)適配器發(fā)送、接收測(cè)試向量,然后對(duì)采集數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,顯示測(cè)試結(jié)果。本文主要介紹了該系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)、軟件思想和診斷策略。經(jīng)
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邊界掃描和PXI Express(07-100)

  • 　　如同開發(fā)PXI做為PCI擴(kuò)展來(lái)滿足測(cè)試測(cè)量界專門要求那樣，PXI Express是基于PCI Express，為了該標(biāo)準(zhǔn)提供相應(yīng)擴(kuò)展。因?yàn)檫@種緊密關(guān)系，所以，PCI Express進(jìn)一步改進(jìn)也將適合于PXI Express。
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新型雷達(dá)數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 摘要：以新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路維修保障為背景，提出了“MERGE（組合）”邊界掃描測(cè)試模型的建立方法，基于此方法，設(shè)計(jì)了完善的便攜式數(shù)字電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，解決了ICT測(cè)試、功能測(cè)試及傳統(tǒng)邊界掃描測(cè)試TPS開發(fā)成本高，技術(shù)難度大，故障覆蓋率低的缺陷。該測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)已成功擔(dān)負(fù)新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路的維修保障任務(wù)，應(yīng)用表明，系統(tǒng)具有設(shè)計(jì)合理，性能穩(wěn)定、可靠，故障隔離準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。 關(guān)鍵詞：邊界掃描；MERGE；數(shù)字電路；故障診斷；自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)； 　　 引言 　　雷達(dá)，作為一種重要的軍事武
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邊界掃描與處理器仿真測(cè)試(05-100)

  • 　　當(dāng)前,PCB是越來(lái)越復(fù)雜,不言而喻,想要獲得滿意的測(cè)試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測(cè)試方法都有其固有的局限性。于是,測(cè)試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來(lái)以達(dá)到他們所要求的測(cè)試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱JTAG)和微處理器仿真測(cè)試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測(cè)試有各自的應(yīng)用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達(dá)到某種程度的測(cè)試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無(wú)縫地組合在一起,就有可能達(dá)到更高的總測(cè)試覆蓋范圍,是任何一種單獨(dú)技術(shù)無(wú)法比擬的。
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SJTAG技術(shù)在ATCA體系的應(yīng)用(圖)

邊界掃描在帶DSP芯片數(shù)字電路板測(cè)試中的應(yīng)用

  • 　　0 引言 　　在現(xiàn)代雷達(dá)系統(tǒng)中，帶有DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)芯片的數(shù)字電路板應(yīng)用很廣。DSP芯片基本支持IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)，并且在電路板中形成了邊界掃描鏈，支持邊界掃描測(cè)試。 　　在DSP電路板中有這樣一類集成電路，它們屬于非邊界掃描器件，位于電路板邊緣連接器和由DSP芯片形成的邊界掃描鏈之間。這部分器件的功能測(cè)試難以進(jìn)行。首先，這些帶DSP的電路板有獨(dú)立的時(shí)序，所以不能單獨(dú)采用傳統(tǒng)的通過(guò)外部接口輸入測(cè)試矢量的方法進(jìn)行測(cè)試；其次，邊界掃描測(cè)試只能對(duì)與DSP芯片相連的引腳進(jìn)行互連測(cè)試，可檢測(cè)
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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

  • 　　邊界掃描廣泛應(yīng)用在板級(jí)測(cè)試和系統(tǒng)內(nèi)編程中。這些應(yīng)用典型地包含了具有邊界掃描能力的器件與群集器件測(cè)試之間的連接性測(cè)試，來(lái)驗(yàn)證與非邊界掃描器件(存儲(chǔ)器和邏輯器件)的連接性。 　　測(cè)試性和可實(shí)現(xiàn)測(cè)試覆蓋范圍是UUT(被測(cè)單元)特定的，并依賴于邊界掃描實(shí)現(xiàn)的水平。特別是在產(chǎn)品測(cè)試中，利用連接到UUT上的外設(shè)I/O進(jìn)行測(cè)試來(lái)擴(kuò)展邊界掃描測(cè)試覆蓋范圍。最近幾年，第3方邊界掃描工具的集成流行于板級(jí)產(chǎn)品測(cè)試設(shè)備，如內(nèi)電路測(cè)試器。往往這樣的集成，比獨(dú)立應(yīng)用的邊界掃描系統(tǒng)優(yōu)越性并不多。某些方案靠組合邊界掃描和ATE資源
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邊界掃描解決的測(cè)試問(wèn)題(06-100)

  • 　　邊界掃描測(cè)試技術(shù)正在變熱。從1990年開始，它是針對(duì)解決基于物理接觸技術(shù)(如針床和浮動(dòng)探針系統(tǒng))的傳統(tǒng)板測(cè)試的有限接入問(wèn)題。IEEE1149.1邊界掃描應(yīng)用擴(kuò)展已超出JTAG原來(lái)成員的想象。 　　現(xiàn)在有不少的相關(guān)IEEE標(biāo)準(zhǔn)，如1149.4、1149.6、1532和5001,加上兩個(gè)主要的起初標(biāo)準(zhǔn)IJTAG(現(xiàn)在是IEEEP1687和SJTAG)。 　　·IJTAG(I指內(nèi)部)用測(cè)試接入端口(TAP)做為進(jìn)入系統(tǒng)芯片(SoC)或類似器件內(nèi)部測(cè)試和調(diào)試儀器的主要通路形式。 　　&mi
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AEROFLEX 推出5800系列自動(dòng)測(cè)試機(jī) 已完全集成邊界掃描功能(JTAG)

  • 　　AEROFLEX已向業(yè)界推出帶有集成邊界掃描功能的多功能，多配制的5800系列自動(dòng)測(cè)試機(jī)。這款機(jī)器的特點(diǎn)是把業(yè)界知名的JTAG供應(yīng)商GOEPEL所提供的邊界掃描功能集成到基AEROFLEX 的PXI 平臺(tái)中。為客戶提供更高的測(cè)試覆蓋率。 　　 　　5800新增的邊界掃描功能可以使用戶在產(chǎn)品的整個(gè)壽命周期內(nèi)對(duì)具有結(jié)構(gòu)化的器件，板級(jí)的器件進(jìn)行測(cè)試。通過(guò)把GOEPEL SCANFLEX的硬件和5800數(shù)字測(cè)試卡集成起來(lái)可以為用戶提供更高測(cè)試覆蓋率的集成測(cè)試方案。因?yàn)檫吔鐠呙璧膬?yōu)點(diǎn)不僅在于可以提高測(cè)試覆蓋
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邊界掃描介紹

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