手機(jī)靜電放電抗擾度影響

1 引言

手機(jī)作為無(wú)線通信產(chǎn)品中應(yīng)用最廣泛、最貼近人民生活的數(shù)字蜂窩通信產(chǎn)品，在國(guó)內(nèi)是人們主要的通信工具。因此，為保證手機(jī)的電磁兼容性能，解決手機(jī)的電磁兼容問(wèn)題，使得手機(jī)的電磁兼容測(cè)試顯得越來(lái)越重要。本文介紹了手機(jī)靜電放電測(cè)試的要求和方法， 總結(jié)分析了手機(jī)靜電放電抗擾度試驗(yàn)的主要失效現(xiàn)象和模式， 可供手機(jī)靜電放電抗擾度試驗(yàn)及提高手機(jī)抗靜電能力設(shè)計(jì)時(shí)參考。

2 手機(jī)靜電放電抗擾度的方法及要求

雖然在進(jìn)行不同制式的手機(jī)電磁兼容測(cè)試時(shí)，可以選擇不同的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，但依據(jù)的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)是相同的。對(duì)手機(jī)進(jìn)行電磁兼容測(cè)試，出現(xiàn)問(wèn)題的主要項(xiàng)目有：靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾。以下主要針對(duì)900/1 800 MHz GSM 手機(jī)的靜電放電抗擾度試驗(yàn)及其問(wèn)題展開(kāi)討論。

電磁兼容測(cè)試中靜電放電抗擾度(ESD)抗擾性是產(chǎn)品的一個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)，也是產(chǎn)品主要不合格項(xiàng)目之一。ESD 抗擾性低時(shí)，產(chǎn)品不適用于相對(duì)濕度低的環(huán)境使用，也不可避免地會(huì)影響產(chǎn)品的性能指標(biāo)，產(chǎn)品更容易損壞，導(dǎo)致用戶對(duì)產(chǎn)品的認(rèn)可度下降。因此手機(jī)的ESD 抗擾性已成為產(chǎn)品的主要指標(biāo)之一。

手機(jī)ESD 測(cè)試實(shí)驗(yàn)布置如圖1 所示。

2.1 手機(jī)工作狀態(tài)

手機(jī)在電磁兼容測(cè)試過(guò)程中，有兩種典型的工作狀態(tài)，即專用模式(通話狀態(tài)) 和空閑模式(待機(jī)狀態(tài))。

a) 專用模式

被測(cè)手機(jī)與基站模擬器通過(guò)空間鏈路建立并保持通信連接，通過(guò)把ARFCN 設(shè)置為一個(gè)適當(dāng)?shù)闹祦?lái)選定射頻輸入信號(hào)頻率。例如：對(duì)于GSM 900MHz，可選擇60~65 之間的值?；灸M器命令被測(cè)手機(jī)工作在最大的輸出功率電平下。手機(jī)分別工作在充電狀態(tài)和電池供電狀態(tài)并進(jìn)行ESD 抗擾度試驗(yàn)。

當(dāng)要求被測(cè)手機(jī)處于專用模式時(shí)，應(yīng)滿足下列條件：

1) 被測(cè)手機(jī)工作在最大的發(fā)射功率情況下;

2) 監(jiān)視下行鏈路的RXQUL;

3) 在測(cè)試之前，下行鏈路和上行鏈路的語(yǔ)音輸出信號(hào)的參考電平都應(yīng)記錄在測(cè)試儀器中(把被測(cè)手機(jī)的音量設(shè)成額定音量或中等音量);

4) 被測(cè)手機(jī)下行鏈路的語(yǔ)音信道輸出信號(hào)在ERP 處的電平應(yīng)通過(guò)測(cè)量SPL 來(lái)評(píng)估;

5) 在基站模擬器的模擬輸出口測(cè)量手機(jī)上行語(yǔ)音信道輸出的譯碼后的信號(hào)電平(使被測(cè)手機(jī)的麥克風(fēng)拾取的外來(lái)背景噪聲達(dá)到最小)。

b) 空閑模式

被測(cè)手機(jī)與基站模擬器通過(guò)空間鏈路連接，BCCH 信道激活，被測(cè)手機(jī)與基站模擬器保持同步，處于待機(jī)狀態(tài)，手機(jī)分別工作在充電狀態(tài)和電池供電狀態(tài)進(jìn)行ESD 抗擾度測(cè)試。

ESD 抗擾度測(cè)試是模擬手機(jī)在遭受到ESD 時(shí)其性能是否會(huì)下降或失效，放電分為直接放電和間接放電兩類。對(duì)導(dǎo)電表面采用直接接觸放電的方式，對(duì)絕緣表面采用空氣放電方式。接觸放電為首選形式，只有在不能用接觸放電的地方(如表面涂有絕緣層，手機(jī)非金屬鍵盤(pán)縫隙等情況)才改用空氣放電。

2.2 測(cè)試過(guò)程中的性能監(jiān)測(cè)

專用模式：被測(cè)手機(jī)與基站模擬器建立并保持通信連接，在加擾過(guò)程中，觀察被測(cè)手機(jī)是否維持通信連接。整個(gè)加擾過(guò)程結(jié)束后，觀察被測(cè)手機(jī)是否仍能保持通信連接，是否能正常工作，有無(wú)用戶可察覺(jué)的通信質(zhì)量的降低，有無(wú)用戶控制功能的喪失或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的丟失。

空閑模式：觀察手機(jī)是否誤操作，試驗(yàn)結(jié)束后，觀察被測(cè)手機(jī)是否能正常工作，有無(wú)用戶可察覺(jué)的通信質(zhì)量的降低，有無(wú)用戶控制功能的喪失或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的丟失。

具體試驗(yàn)點(diǎn)和試驗(yàn)條件見(jiàn)表1。

表1 手機(jī)ESD 試驗(yàn)點(diǎn)和試驗(yàn)條件

2.3 ESD 測(cè)試導(dǎo)致手機(jī)失效的現(xiàn)象

ESD 測(cè)試產(chǎn)生失效的現(xiàn)象有兩種：一種是永久性失效，即導(dǎo)致手機(jī)損壞;另一種是軟失效，即測(cè)試結(jié)束后或重新啟動(dòng)手機(jī)后失效的功能可以恢復(fù)。

ESD 測(cè)試過(guò)程中手機(jī)軟失效的現(xiàn)象有：

1) 手機(jī)自動(dòng)關(guān)機(jī)，重啟后能恢復(fù)工作;

2) 手機(jī)通話中斷;

3) 手機(jī)自動(dòng)重啟;

4) 手機(jī)死機(jī)，重啟后可恢復(fù)工作;

5) 屏幕顯示異常，如屏幕顯示白屏、黑屏、屏幕顯示模糊、屏幕出現(xiàn)亂碼、或屏幕出現(xiàn)條紋等;

6) 觸摸屏功能或按鍵功能喪失;

7) 軟件出現(xiàn)錯(cuò)誤提示，如在充電器沒(méi)有插拔的情況下屏幕頻繁提示，“充電器已移除，充電器已連接”;

8) 測(cè)試過(guò)程中通話質(zhì)量降低，聲音消失或斷續(xù)或出現(xiàn)嘯叫聲等。

ESD 導(dǎo)致手機(jī)損壞的現(xiàn)象有：

1) 自動(dòng)關(guān)機(jī)后不能再次開(kāi)機(jī);

2) 由于部分器件損壞，手機(jī)的某些功能已無(wú)法恢復(fù);

3) 處于充電狀態(tài)測(cè)試時(shí)，充電器發(fā)生損壞甚至爆炸等現(xiàn)象。

筆者試驗(yàn)了213 批次手機(jī)，其中ESD 試驗(yàn)不合格的有41 批次，不合格比例為19.2 %。試驗(yàn)結(jié)果表明，ESD 抗擾性是電磁兼容測(cè)試主要不合格項(xiàng)目之一。試驗(yàn)中失效最多的工作狀態(tài)為充電、專用模式，放電模式為空氣放電;失效點(diǎn)多集中在按鍵、接縫和LCD 顯示屏;出現(xiàn)失效現(xiàn)象頻率由高到低依次為：通話中斷;通話中斷，手機(jī)轉(zhuǎn)充電狀態(tài);手機(jī)自動(dòng)重啟;死機(jī)，重啟后可恢復(fù)工作;試驗(yàn)過(guò)程中充電器壞或爆炸;死機(jī)，試驗(yàn)后不能恢復(fù)工作;實(shí)驗(yàn)中白屏、死機(jī)、試驗(yàn)后不能恢復(fù)工作等。

3 ESD 失效對(duì)策

手機(jī)ESD 試驗(yàn)不合格，大部分是可恢復(fù)的暫時(shí)性功能失效，這些失效與手機(jī)抗靜電設(shè)計(jì)密切相關(guān)，為了提高手機(jī)的抗靜電能力，可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行改進(jìn)：

1) 從結(jié)構(gòu)接地保護(hù)方面考慮，最好能實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)接地，間隙要小。接地點(diǎn)應(yīng)盡可能地多，縮短接地線長(zhǎng)度，結(jié)構(gòu)應(yīng)盡可能地密封;

2) 敏感元件遠(yuǎn)離縫隙或固定開(kāi)孔;

3) 選用抗靜電等級(jí)較高的器件;
4) 加大塑膠墊的面積，加長(zhǎng)靜電干擾路徑，削減ESD 對(duì)線路的影響;

5) 保持地電流遠(yuǎn)離敏感電路及有關(guān)線路;

6) 對(duì)于敏感器件，通過(guò)使用保護(hù)器件(如TVS、ESD 防護(hù)器件) 來(lái)加強(qiáng)保護(hù);

7) 保持敏感器件與靜電源隔離;

8) 減少回路面積，電源與地盡可能地近，走線盡可能地短，信號(hào)線盡可能地靠近地線。

4 結(jié)束語(yǔ)

本文介紹了手機(jī)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及手機(jī)ESD 測(cè)試要求、方法和手機(jī)ESD 抗擾度試驗(yàn)的主要失效現(xiàn)象、模式的分析，明確了電磁兼容測(cè)試中ESD 抗擾性是影響手機(jī)合格的一個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)。希望本文能對(duì)關(guān)心手機(jī)的ESD 抗擾性的生產(chǎn)廠家和設(shè)計(jì)人員有所幫助，同時(shí)也引起那些對(duì)ESD 抗擾性不太了解的生產(chǎn)廠家和設(shè)計(jì)人員的重視。