安立公司將在2014年EDI CON上呈遞一系列關(guān)于高頻測(cè)試的報(bào)告

　　通信測(cè)試解決方案的全球領(lǐng)導(dǎo)者安立公司宣布，將在于 4 月 8 日至 10 日在中國(guó)北京北京國(guó)際會(huì)議中心舉行的 2014 年電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新會(huì)議 (EDI CON) 上進(jìn)行一系列展示。由安立公司的代表所做的三場(chǎng)演講將解答工程師們?cè)跍y(cè)定以微波及毫米波 (mm-wave) 頻率運(yùn)行的器件特征時(shí)遇到的問(wèn)題。

　　高達(dá) 110 GHz 的穩(wěn)定表征晶圓寬帶器件分析

　　安立公司產(chǎn)品營(yíng)銷經(jīng)理 Bob Buxton 將于 4 月 8 日進(jìn)行一場(chǎng)演講。該演講報(bào)告將涵蓋器件分析工程師們遇到的測(cè)試問(wèn)題，并提供可進(jìn)行 S 參數(shù)測(cè)量的解決方案——使用基于 VectorStar™ 的寬頻矢量網(wǎng)絡(luò)分析系統(tǒng)(頻率覆蓋范圍為 70 kHz 至 110 GHz)。 還將介紹將這種功能擴(kuò)展至 145 GHz 的全新操作。

　　準(zhǔn)光學(xué)、自由空間毫米波和 THz 范圍材料測(cè)量方面的進(jìn)展

　　由安立公司的 Jon Martens 博士與 Virginia Diodes, Inc. 的 Jeffery Hesler 和 Alex Arsenovic 提供的本報(bào)告將匯報(bào)從 100 GHz 范圍內(nèi)的自由空間測(cè)量到 1 THz 準(zhǔn)光學(xué)測(cè)量的技術(shù)。報(bào)告中將討論所有這些測(cè)量中的校準(zhǔn)流程、需要的樣品形態(tài)以及預(yù)期可重復(fù)性水平。該演講報(bào)告計(jì)劃于 4 月 10 日進(jìn)行。

　　真實(shí)差分驅(qū)動(dòng)測(cè)量中的不確定性和穩(wěn)定性

　　Martens 博士將于 4 月 10 日星期四做第二場(chǎng)演講報(bào)告，將著重介紹差分驅(qū)動(dòng)測(cè)量。 許多高速元件的特征分析和模型開發(fā)可能包括在真實(shí)驅(qū)動(dòng)條件下的差分回饋損耗、傳輸及模式轉(zhuǎn)換測(cè)量。因此，真實(shí)的差分驅(qū)動(dòng)通常需要處于大信號(hào)水平，其測(cè)量具有挑戰(zhàn)性。本演講將討論一種可以高度可靠地進(jìn)行這些測(cè)量的方法以及了解不確定性降級(jí)對(duì)盡可能減少重新校準(zhǔn)次數(shù)和提高數(shù)據(jù)可信度的重大幫助。