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北京大學(xué)公開存儲器專利

作者: 時間:2024-03-12 來源:全球半導(dǎo)體觀察 收藏

是電子信息處理系統(tǒng)中不可或缺的組成部分。在過去,依靠CMOS工藝的不斷進步,的性能得以不斷提高。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202403/456245.htm

但近年來,一方面,尺寸微縮導(dǎo)致的晶體管漏電問題越來越嚴重,在增大功耗的同時,惡化了存儲單元的保持特性,存儲器的發(fā)展遇到較為明顯的瓶頸;另一方面,人工智能和物聯(lián)網(wǎng)等領(lǐng)域的快速發(fā)展又對存儲器的容量速度以及功耗等性能指標(biāo)提出了更高的要求。

在這樣的背景下,由于嵌入式鐵電隨機存取存儲器(Embedded Ferroelectric Random Access Memory,eFeRAM)具有非易失、高密度、低功耗以及讀取速度快等特點,可提高系統(tǒng)的整體性能,因此,嵌入式鐵電隨機存取存儲在近年來備受關(guān)注。

近日,北京大學(xué)公開了一項名為“一種鐵電隨機存取存儲器陣列及其控制方法”的專利,公開號CN117672288A,申請時間為2023年12月15日。

該據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告的高專利摘要顯示,該發(fā)明提供了一種鐵電隨機存取存儲器陣列及其控制方法,屬于半導(dǎo)體存儲器技術(shù)領(lǐng)域。

該發(fā)明包括由基本陣列沿橫向、縱向重復(fù)排列而成的總體陣列,基本陣列包括存儲單元、字線、控制線、基本板線、總體板線、基本位線和總體位線,由存儲單元沿橫向、縱向重復(fù)排列成矩陣結(jié)構(gòu);存儲單元包括一個晶體管和一個鐵電電容器,晶體管的柵極接字線、漏極接位線、源極接鐵電電容器上極板,鐵電電容器下極板接板線。

該發(fā)明還提供了對該鐵電隨機存取存儲器陣列進行數(shù)據(jù)寫入、數(shù)據(jù)讀出和數(shù)據(jù)重寫的控制方法。此外,該發(fā)明層次化的設(shè)計方法,可以在不犧牲讀出時間與讀出窗口的前提下,增大鐵電隨機存取存儲器陣列的規(guī)模。




關(guān)鍵詞: 存儲器 存儲技術(shù)

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