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先進(jìn)半導(dǎo)體封裝技術(shù)趨勢(shì):2.5D和3D深度解析

作者: 時(shí)間:2024-01-15 來(lái)源:EEPW 收藏

半導(dǎo)體技術(shù)已經(jīng)從最初的1D PCB水平發(fā)展到最尖端的3D混合鍵合技術(shù)在晶圓級(jí)別。這一進(jìn)步實(shí)現(xiàn)了一位數(shù)微米的互連間距,以高能效實(shí)現(xiàn)超過(guò)1000 GB/s的帶寬。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202401/454810.htm

四個(gè)關(guān)鍵參數(shù)塑造了先進(jìn)半導(dǎo)體:功耗、性能、面積和成本:

  • 功耗:通過(guò)創(chuàng)新的封裝技術(shù)提高功耗效率。

  • 性能:通過(guò)縮短互連間距以增加輸入/輸出(I/O)點(diǎn),提高帶寬并減少通信長(zhǎng)度,從而提高性能。

  • 面積:在用于高性能計(jì)算領(lǐng)域的芯片中需要較大的封裝面積,而在3D集成中需要較小的z形狀因子。

  • 成本:通過(guò)采用替代材料或提高制造設(shè)備效率,持續(xù)降低封裝成本。

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2.5D和3D封裝技術(shù)包括各種封裝技術(shù)。

在2.5D封裝中,互聯(lián)墊的選擇將其分為基于硅、基于有機(jī)和基于玻璃的互聯(lián)墊,如上圖所示。與此同時(shí),在3D封裝中,微球技術(shù)的演進(jìn)旨在實(shí)現(xiàn)更小的間距尺寸。然而,通過(guò)采用混合鍵合技術(shù),即直接連接Cu-Cu,實(shí)現(xiàn)了今天一位數(shù)間距尺寸的可能性,這標(biāo)志著該領(lǐng)域的重大進(jìn)展。

每種2.5D和3D配置中每種封裝類型的優(yōu)勢(shì)和缺點(diǎn):

2.5D

硅:在這個(gè)類別中有兩種選擇:使用完整的無(wú)源硅晶片的硅互聯(lián)墊,和Si橋,它可以采用基于風(fēng)扇外的模壓化合物或基于具有腔的基板的局部Si橋的形式。硅互聯(lián)墊通常用于高性能計(jì)算集成的2.5D封裝,因?yàn)樗軌驅(qū)崿F(xiàn)最精細(xì)的路由特征,但在材料和制造方面與有機(jī)材料等替代方案相比成本較高,并且存在封裝面積限制的挑戰(zhàn)。為了解決這個(gè)問(wèn)題,局部Si橋形式正在嶄露頭角,戰(zhàn)略性地利用Si在精細(xì)特征至關(guān)重要的情況。此外,Si橋結(jié)構(gòu)有望在Si互聯(lián)墊在面積上受到限制的情況下得到更廣泛的應(yīng)用,超越4x或5x遮光板的限制。

有機(jī):在報(bào)告中,我們特別考慮了使用風(fēng)扇外模壓化合物而不是有機(jī)基板的有機(jī)封裝。有機(jī)材料具有將它們的介電常數(shù)調(diào)整到低于硅的能力,有助于降低封裝中的RC延遲。此外,與硅相比,這些材料是一種更經(jīng)濟(jì)的替代品。這些優(yōu)勢(shì)推動(dòng)了有機(jī)2.5D封裝的出現(xiàn)。然而,一個(gè)關(guān)鍵的缺點(diǎn)在于實(shí)現(xiàn)與Si基封裝相同水平的互連特征減小所面臨的挑戰(zhàn)。

玻璃:玻璃基方法在英特爾今年早些時(shí)候推出其基于玻璃的測(cè)試車載封裝后引起了極大的關(guān)注。玻璃具有可調(diào)的熱膨脹系數(shù)、高維度穩(wěn)定性和平滑、平坦的表面等有利特性。這些特性使玻璃成為一種有望成為互聯(lián)墊的有力候選,其路由特征有望與硅媲美。然而,玻璃的主要缺點(diǎn)在于其生態(tài)系統(tǒng)不成熟,以及在封裝行業(yè)中目前缺乏大規(guī)模的量產(chǎn)能力。盡管如此,隨著生態(tài)系統(tǒng)的成熟和生產(chǎn)能力的提高,半導(dǎo)體封裝中玻璃基技術(shù)的應(yīng)用可能會(huì)進(jìn)一步增長(zhǎng)。

3D

微球:基于熱壓縮鍵合(TCB)工藝的成熟微球技術(shù)在各種產(chǎn)品中擁有長(zhǎng)期存在。其路線圖包括不斷縮小凸點(diǎn)間距。然而,在這一過(guò)程中,由于較小的錫球尺寸導(dǎo)致插層化合物(IMCs)形成增加,電導(dǎo)率和機(jī)械性能降低。此外,接觸間隙過(guò)小可能導(dǎo)致錫球橋接,從而在回流過(guò)程中導(dǎo)致芯片故障。由于錫和IMCs的電阻率高于銅,它們?cè)诟咝阅芙M件封裝中的使用受到限制。

混合鍵合:混合鍵合涉及通過(guò)將介電材料(SiO2)與嵌入的金屬(Cu)結(jié)合來(lái)創(chuàng)建永久性互聯(lián)。由于Cu-Cu混合鍵合的間距可達(dá)到10微米以下(通常在一位數(shù)微米左右),其優(yōu)勢(shì)包括擴(kuò)展的I/O、增加的帶寬、增強(qiáng)的3D垂直堆疊、提高的功耗效率以及由于無(wú)需填充而減少的寄生電阻和熱阻。挑戰(zhàn)包括與這種先進(jìn)技術(shù)相關(guān)的制造復(fù)雜性和較高的成本。

IDTechEx的新報(bào)告,“Advanced Semiconductor Packaging 2024-2034: Forecasts, Technologies, Applications”,深入探討了半導(dǎo)體封裝技術(shù)的最新創(chuàng)新,涵蓋了關(guān)鍵技術(shù)趨勢(shì)、分析價(jià)值鏈、評(píng)估主要參與者,并提供了詳細(xì)的市場(chǎng)預(yù)測(cè)。

該報(bào)告認(rèn)識(shí)到先進(jìn)半導(dǎo)體封裝作為下一代IC的基礎(chǔ)的關(guān)鍵作用。它關(guān)注于其在關(guān)鍵市場(chǎng)(如人工智能和數(shù)據(jù)中心、5G、自動(dòng)駕駛汽車和消費(fèi)電子)中的應(yīng)用。借助IDTechEx在這些領(lǐng)域的專業(yè)知識(shí),該報(bào)告全面了解半導(dǎo)體封裝技術(shù)在這些關(guān)鍵領(lǐng)域中的影響和未來(lái)軌跡。



關(guān)鍵詞: 封裝

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