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GAA技術(shù)才開始,半導(dǎo)體大廠已著手研發(fā)下一代CFET技術(shù)

作者: 時間:2023-10-07 來源:科技新報 收藏

外媒eNewsEurope報道,英特爾和臺積電將在國際電子元件會議(IEDM)公布垂直堆疊式()場效晶體管進(jìn)展,這有望使成為十年內(nèi)最可能接替全環(huán)繞柵極晶體管()的下一代先進(jìn)制程。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202310/451192.htm

場效晶體管將n和p兩種MOS元件堆疊在一起,以實(shí)現(xiàn)更高的密度。該項技術(shù)最初由比利時微電子研究中心(IMEC)于2018年所提出的。雖然,大多數(shù)早期研究以學(xué)術(shù)界為主,但英特爾和臺積電等半導(dǎo)體企業(yè)現(xiàn)在已經(jīng)開始這一領(lǐng)域的研發(fā),借此積極探索這種下一代先進(jìn)晶體管技術(shù)。

英特爾表示,研究員建構(gòu)一個單片3DCFET,含三個n-FET納米片,層疊在三個p-FET納米片上,保持30納米垂直間隙,英特爾公司在題為 "60納米柵極間距的堆疊式CMOS逆變器演示(帶電源通路和直接背面器件觸點(diǎn))"的演講中將介紹利用60納米柵極間距CFET的功能性逆變器測試電路。該技術(shù)還采用了垂直分層雙電源漏外延和雙金屬柵極堆疊,并結(jié)合PowerVia背后供電等技術(shù)。

為了不被對手超越,臺積電也會展示CFET技術(shù)。據(jù)悉,臺積電客制邏輯芯片具有48納米柵極間距,專注放在p型晶體管上的分層n型納米片晶體管,擁有跨越六個等級的開關(guān)電流比。

臺積電表示,CFET晶體管已證明耐用性超過90%,且成功通過測試。雖然臺積電承認(rèn)需要研究更多,才能充分利用CFET技術(shù),但目前正在進(jìn)行的工作是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵一步。



關(guān)鍵詞: GAA CFET

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