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理解功率MOSFET的UIS及雪崩能量

作者: 時(shí)間:2010-04-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

的數(shù)據(jù)表中,通常包括單脈沖EAS,電流IAR,重復(fù)脈沖EAR等參數(shù),而許多電子工程師在設(shè)計(jì)電源系統(tǒng)的過程中,很少考慮到這些參數(shù)與電源系統(tǒng)的應(yīng)用有什么樣的聯(lián)系,如何在實(shí)際的應(yīng)用中評(píng)定這些參數(shù)對(duì)其的影響,以及在哪些應(yīng)用條件下需要考慮這些參數(shù)。本文將論述這些問題,同時(shí)探討在非鉗位感性開關(guān)條件下的工作狀態(tài)。
  
EAS,IAR和EAR的定義及測(cè)量
的雪崩與器件的熱性能和工作狀態(tài)相關(guān),其最終的表現(xiàn)就是溫度的上升,而溫度上升與水平和硅片封裝的熱性能相關(guān)。功率半導(dǎo)體對(duì)快速功率脈沖(時(shí)間為100~200μs)的熱響應(yīng)可以由式1說明:
(1)
其中,A是硅片面積,K常數(shù)與硅片的熱性能相關(guān)。由式(1)得:
(2)
其中,tav是脈沖時(shí)間。當(dāng)長(zhǎng)時(shí)間在低電流下測(cè)量雪崩能量時(shí),消耗的功率將使器件的溫度升高,器件的失效電流由其達(dá)到的峰值溫度所決定。如果器件足夠牢靠,溫度不超過最高的允許結(jié)溫,就可以維持測(cè)量。在此過程內(nèi),結(jié)溫通常從25℃增加到TJMAX,外部環(huán)境溫度恒定為25℃,電流通常設(shè)定在ID的60%。雪崩電壓VAV大約為1.3倍器件額定電壓。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/180951.htm


雪崩能量通常在非鉗位感性開關(guān)條件下測(cè)量。其中,有兩個(gè)值EAS和EAR,EAS為單脈沖雪崩能量,定義了單次雪崩狀態(tài)下器件能夠消耗的最大能量;EAR為重復(fù)脈沖雪崩能量。雪崩能量依賴于電感值和起始的電流值。


圖1為VDD去耦的EAS測(cè)量電路及波形。其中,驅(qū)動(dòng)MOSFET為Q1,待測(cè)量的MOSFET為DUT,L為電感,D為續(xù)流管。待測(cè)量的MOSFET和驅(qū)動(dòng)MOSFET同時(shí)導(dǎo)通,電源電壓VDD加在電感上,電感激磁,其電流線性上升,經(jīng)導(dǎo)通時(shí)間tp后,電感電流達(dá)到最大值;然后待測(cè)量的MOSFET和驅(qū)動(dòng)MOSFET同時(shí)關(guān)斷,由于電感的電流不能突變,在切換的瞬間,要維持原來的大小和方向,因此續(xù)流二極管D導(dǎo)通。

圖1 VDD去耦的EAS測(cè)量圖


由于MOSFET的DS之間有寄生電容,因此,在D導(dǎo)通續(xù)流時(shí),電感L和CDS形成諧振回路,L的電流降低使CDS上的電壓上升,直到電感的電流為0,D自然關(guān)斷,L中儲(chǔ)存的能量應(yīng)該全部轉(zhuǎn)換到CDS中。


如果電感L為0.1mH,IAS=10A,CDS=1nF,理論上,電壓VDS為
CDSVDS2=LIAS2 (3)
VDS=3100V


這樣高的電壓值是不可能的,那么為什么會(huì)有這樣的情況?從實(shí)際的波形上看,MOSFET的DS區(qū)域相當(dāng)于一個(gè)反并聯(lián)的二極管。由于這個(gè)二極管兩端加的是反向電壓,因此處于反向工作區(qū),隨著DS的電壓VDS增加,增加到接近于對(duì)應(yīng)穩(wěn)壓管的鉗位電壓也就是 V(BR)DSS時(shí),VDS的電壓就不會(huì)再明顯的增加,而是維持在V(BR)DSS值基本不變,如圖1所示。此時(shí),MOSFET工作于雪崩區(qū),V(BR)DSS就是雪崩電壓,對(duì)于單次脈沖,加在MOSFET上的能量即為雪崩能量EAS:


EAS=LIAS2/2 (4)


同時(shí),由于雪崩電壓是正溫度系數(shù),當(dāng)MOSFET內(nèi)部的某些單元溫度增加,其耐壓值也增加,因此,那些溫度低的單元自動(dòng)平衡,流過更多的電流以提高溫度從而提高雪崩電壓。另外,測(cè)量值依賴于雪崩電壓,而在去磁期間,雪崩電壓將隨溫度的增加而變化。


在上述公式中,有一個(gè)問題,那就是如何確定IAS?當(dāng)電感確定后,是由tp來確定的嗎?事實(shí)上,對(duì)于一個(gè)MOSFET器件,要首先確定IAS。如圖1所示的電路中,電感選定后,不斷地增加電流,直到將MOSFET完全損壞,然后將此時(shí)的電流值除以1.2或1.3,即降額70%或80%,所得到的電流值即為IAS。注意到IAS和L固定后,tp也是確定的。


過去,傳統(tǒng)的測(cè)量EAS的電路圖和波形如圖2所示。注意到,VDS最后的電壓沒有降到0,而是VDD,也就是有部分的能量沒有轉(zhuǎn)換到雪崩能量中。

圖2 傳統(tǒng)的EAS測(cè)量圖


在關(guān)斷區(qū),圖2(b)對(duì)應(yīng)的三角形面積為能量,不考慮VDD,去磁電壓為VDS,實(shí)際的去磁電壓為VDS-VDD,因此雪崩能量為
(5)
對(duì)于一些低壓的器件,VDS-VDD變得很小,引入的誤差會(huì)較大,因此限制了此測(cè)量電路的在低壓器件中的使用。


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