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NI LabVIEW軟件平臺(tái)用智能多核加速了設(shè)計(jì)與測試

  •   NI 隆重發(fā)布了可應(yīng)用于控制、測試及嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺(tái)的最新版本 -- LabVIEW 8.6。得益于 LabVIEW 軟件平臺(tái)天生并行的圖形化編程方式, LabVIEW 8.6版本提供了全新工具幫助工程師和科學(xué)家們從多核處理器、現(xiàn)場可編程門陣列 (FPGAs) 及無線通信等商業(yè)技術(shù)中獲益。   為了提升性能, LabVIEW 8.6包含了超過1,200個(gè)重新優(yōu)化的高級(jí)分析函數(shù),在多核系統(tǒng)的控制測試應(yīng)用中提供更快速、更強(qiáng)大的數(shù)學(xué)及信號(hào)處理功能。視覺應(yīng)用同樣能從多核系統(tǒng)中獲益,NI 視
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采用EEPROM對(duì)大容量FPGA芯片數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)串行加載

  •   自大規(guī)模現(xiàn)場可編程邏輯器件問世以來,先后出現(xiàn)了兩類器件,一類是基于SRAM體系結(jié)構(gòu)的FPGA系列,如XILINX公司的4000系列和最新的Virtex系列;另一類是基于faxtFLASH技術(shù)的CPLD器件,如XILINX公司的9500系列和Lattice公司的ispLSxx系列芯片。FPGA具有容量大、設(shè)計(jì)資源豐富、片內(nèi)ROM及RAM設(shè)計(jì)靈活等特點(diǎn)1,但是它們需要在每次上電時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)加載。目前實(shí)現(xiàn)加載的方法有以下三種:①采用PROM并行加載;②采用專用SROM串行加載;③采用單片機(jī)控制實(shí)現(xiàn)加載。  
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基于USB的ARINC429總線接口模塊設(shè)計(jì)

  •   引言    ARINC429總線由美國航天無線電設(shè)備公司所資助,是廣泛應(yīng)用于當(dāng)前航空電子設(shè)備中的一種數(shù)據(jù)總線傳輸標(biāo)準(zhǔn)。與傳統(tǒng)的航空電子設(shè)備間的模擬傳輸相比,ARINC429總線具有抗干擾能力強(qiáng)、傳輸精度高、傳輸線路少以及成本低等優(yōu)點(diǎn)。ARINC數(shù)據(jù)總線協(xié)議規(guī)定一個(gè)數(shù)據(jù)由32位組成,采用雙極性歸零碼,以12.5Kb/s或100Kb/s碼速率傳輸。本設(shè)計(jì)利用USB即插即用、FPGA可靈活配置等特點(diǎn),設(shè)計(jì)了基于USB總線的ARINC429總線接口模塊。   接口模塊總體設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)   接口
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基于AD9957的USB側(cè)音測距信號(hào)發(fā)生器設(shè)計(jì)

  •   0 引言   隨著我國航天技術(shù)的不斷進(jìn)步,深空測距技術(shù)受到越來越多的關(guān)注。在深空測距系統(tǒng)中,中頻信號(hào)發(fā)生器對(duì)系統(tǒng)性能有著重要的意義。在USB(統(tǒng)一S頻段)系統(tǒng)中,原有的模擬電路實(shí)現(xiàn)的發(fā)射模塊存在性能不完善、輸入動(dòng)態(tài)范圍小、可控性能差、不能適應(yīng)中心頻率大范圍變化、體積大等問題,為了解決上述問題,可在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化通用數(shù)字調(diào)制信號(hào)發(fā)生器的平臺(tái)上,通過外圍的控制電路,實(shí)現(xiàn)對(duì)載波中心頻率、輸出功率、調(diào)相指數(shù)、測距音通/斷控制等參數(shù)的改變。   以軟件無線電思想為核心,基于PLD(可編程邏輯器件)的通用調(diào)制信號(hào)
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基于FPGA的自然對(duì)數(shù)變換器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

  • 本文利用CORD IC算法在FPGA上實(shí)現(xiàn)了自然對(duì)數(shù)運(yùn)算器。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該對(duì)數(shù)運(yùn)算器的輸出誤差為10-4數(shù)量級(jí),最高頻率可達(dá)到80MHz。該運(yùn)算器適用于高速大數(shù)據(jù)量的數(shù)據(jù)處理。
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IC業(yè)在拐點(diǎn)生存

  • 分析了IC業(yè)的眾多特點(diǎn),例如從90nm向65nm、45nm、32nm、22nm等拐點(diǎn)演進(jìn)的困難,以及ESL、DFM拐點(diǎn),制造是設(shè)計(jì)的拐點(diǎn),F(xiàn)PGA與ASIC之間的拐點(diǎn)等熱門問題。
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基于FPGA和AD1836的I2S接口設(shè)計(jì)

  • 本文以FPGA為控制單元,完成了AD1836中D/A部分的I2S接口設(shè)計(jì),它在數(shù)字音頻系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中有一定的參考和實(shí)用價(jià)值。該設(shè)計(jì)已經(jīng)成功運(yùn)用在某話路特性綜合測試系統(tǒng)中,性能良好。
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Altera FPGA開發(fā)板為XLoom提供誤碼率測試環(huán)境

  •   進(jìn)一步展示其FPGA靈活性和通用性,Altera公司宣布,XLoom通信公司采用Stratix® II GX FPGA信號(hào)完整性開發(fā)套件來提供獨(dú)特的誤碼率(BER)測試環(huán)境。和傳統(tǒng)的BER測試設(shè)備相比,Altera基于FPGA的開發(fā)板支持XLoom以更高的性價(jià)比來測試芯片級(jí)光電互聯(lián)模塊。這一獨(dú)特的測試環(huán)境更貼近實(shí)際的客戶狀態(tài),同時(shí)進(jìn)一步節(jié)省了空間,降低了功耗。   傳統(tǒng)的BER測試儀成本高達(dá)100,000美元,而Stratix II GX FPGA信號(hào)完整性開發(fā)套件在這方面的成本節(jié)省了90%
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基于FPGA的空間存儲(chǔ)器的糾錯(cuò)系統(tǒng)

  •   1、引言   阿爾法磁譜儀(Alpha Magnetic Spectrometer,AMS)實(shí)驗(yàn)室是丁肇中博士領(lǐng)導(dǎo)的由美、俄、德、法、中等16個(gè)國家和地區(qū)共300多名科學(xué)家參加的大型國際合作項(xiàng)目。它是國際空間站上唯一大型物理實(shí)驗(yàn),是人類第一次在太空中精密地測量高能量帶電原子核粒子的實(shí)驗(yàn)。其目的是為尋找反物質(zhì)所組成的宇宙和暗物質(zhì)的來源以及測量宇宙線的來源。   但是對(duì)于AMS實(shí)驗(yàn)的空間電子系統(tǒng),同樣會(huì)受到高能粒子的襲擊,導(dǎo)致存儲(chǔ)器的內(nèi)容發(fā)生變化,改寫半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的邏輯狀態(tài),導(dǎo)致存儲(chǔ)單元在邏輯&ls
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Actel推出Libero集成開發(fā)環(huán)境 8.4

  •   Actel公司宣布其Libero® 集成開發(fā)環(huán)境 (IDE) 增添全新的功耗優(yōu)化和增強(qiáng)的設(shè)計(jì)創(chuàng)建功能。全新的Libero IDE 8.4針對(duì)基于 Flash的IGLOO®、IGLOO PLUS和 ProASIC®3L現(xiàn)場可編程門陣列 (FPGA),提供由1.14V至 1.575V的FPGA內(nèi)核工作電壓范圍,為設(shè)計(jì)人員提供額外的內(nèi)核電壓選擇,以實(shí)現(xiàn)更低的功耗。新版本Libero IDE改進(jìn)了SmartPower功耗分析工具,便于比較同一設(shè)計(jì)的多種設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)和器件不同工作條件下的狀況
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Altera在40nm:抖動(dòng)、信號(hào)完整性、功耗和工藝達(dá)到最佳的收發(fā)器

  •   1. 引言   在摩爾定律的推動(dòng)下,半導(dǎo)體行業(yè)技術(shù)發(fā)展非常迅速,集成電路晶體管數(shù)量每兩年翻倍,對(duì)器件或者系統(tǒng)之間的通信鏈路數(shù)據(jù)速率要求越來越高。而工藝節(jié)點(diǎn)的減小又促進(jìn)了摩爾定律。減小體積可以在單位邏輯中容納更多的功能,提高工作速率、邏輯密度和集成度,同時(shí)降低了。通常采用高級(jí)設(shè)計(jì)方法和工藝技術(shù)來提高數(shù)據(jù)速率,支持固網(wǎng)和無線通信、計(jì)算機(jī)、存儲(chǔ)、軍事應(yīng)用以及廣播電子系統(tǒng)發(fā)送接收大量數(shù)據(jù),以滿足不斷增長的數(shù)據(jù)傳輸和帶寬要求。   微處理器和FPGA等前沿產(chǎn)品采用了65-nm工藝技術(shù)。這些產(chǎn)品的后續(xù)型號(hào)將采
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ARM7與FPGA在工業(yè)控制的結(jié)合

  •   工業(yè)控制中往往需要完成多通道故障檢測及多通道命令控制(這種多任務(wù)設(shè)置非常普遍),單獨(dú)的CPU芯片由于其外部控制接口數(shù)量有限而難以直接完成多路檢控任務(wù),故利用ARM芯片與FPGA相結(jié)合來擴(kuò)展檢控通道是一個(gè)非常好的選擇。這里介紹用Atmel公司ARM7處理器(AT91FR40162)和ALTERA公司的低成本FPGA芯片(cyclone2)結(jié)合使用完成多通道檢控任務(wù)的一種實(shí)現(xiàn)方法。   各部分功能簡介   圖1為此系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)連接框圖。如圖所示,ARM芯片與FPGA芯片之間通過數(shù)據(jù)總線、地址總線及讀寫控
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基于ARM的嵌入式系統(tǒng)中從串配置FPGA的實(shí)現(xiàn)

  •   1 引言   ARM(Advanced RISC Machines)既可以認(rèn)為是一個(gè)公司。也可以認(rèn)為是對(duì)一類微處理器的統(tǒng)稱,還可以認(rèn)為是一項(xiàng)技術(shù)?;贏RM技術(shù)的微處理器應(yīng)用約占據(jù)了32位RISC微處理器75%以上的市場份額,ARM技術(shù)正在逐步滲入到人們生活的各個(gè)方面[1]。到目前為止,ARM微處理器及技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用到各個(gè)領(lǐng)域,包括工業(yè)控制領(lǐng)域、網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用、消費(fèi)類電子產(chǎn)品、成像和安全產(chǎn)品等。   FPGA(Field Programmable Gate Array)是一種高密度現(xiàn)場可編程邏輯器件,
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基于FPGA的數(shù)據(jù)無阻塞交換設(shè)計(jì)

  •   0 引言   隨著FPGA和大規(guī)模集成電路的發(fā)展,數(shù)據(jù)交換的實(shí)現(xiàn)有了新的方法。在該設(shè)計(jì)中,F(xiàn)PGA完成串口數(shù)據(jù)信號(hào)(TXD、RXD)的交換,專用的時(shí)隙交換芯片完成串口握手線(RTS、CTS、DTR、DSR、DCD、RI)的交換。內(nèi)部有硬件沖突監(jiān)測功能,能夠自動(dòng)檢測到2個(gè)終端同時(shí)連接到同一個(gè)信道或2個(gè)信道連接到同一個(gè)終端,并自動(dòng)將舊的連接狀態(tài)拆除,建立新的鏈路。這樣就使原來的連接終端進(jìn)入空閑狀態(tài),保證終端和信道時(shí)間軸上的無縫隙切換。通過判斷RI的狀態(tài),它還可以監(jiān)視信道DCE的狀態(tài),判斷出信道是否有請(qǐng)求
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FPGA躋身汽車系統(tǒng)關(guān)鍵應(yīng)用領(lǐng)域

  •   消費(fèi)者迫切需求的輔助駕駛系統(tǒng)技術(shù)需要具有先進(jìn)精密功能且外形尺寸又非常小的高可靠性元件。由于這些系統(tǒng)尺寸很小,而且彼此非常靠近,因此還要求器件具有超低功耗和良好的耐久性??臻g受限的系統(tǒng)在設(shè)計(jì)方面存在的熱可靠性問題可通過采用較少的元件及超低的功耗來解決。Actel公司以Flash為基礎(chǔ)的ProASIC3 FPGA具有固件錯(cuò)誤免疫力、低功耗和小外形尺寸等優(yōu)勢,因而消除了FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)用于安全關(guān)鍵汽車應(yīng)用領(lǐng)域的障礙。   汽車工程師過去通常依賴于MCU(微控制器)和定制ASIC(專用集成電
  • 關(guān)鍵字: FPGA  ASIC  MCU  ProASIC3  半導(dǎo)體器件  
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fpga介紹

FPGA是英文Field-Programmable Gate Array的縮寫,即現(xiàn)場可編程門陣列,它是在PAL、GAL、EPLD等可編程器件的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展的產(chǎn)物。它是作為專用集成電路(ASIC)領(lǐng)域中的一種半定制電路而出現(xiàn)的,既解決了定制電路的不足,又克服了原有可編程器件門電路數(shù)有限的缺點(diǎn)。 FPGA采用了邏輯單元陣列LCA(Logic Cell Array)這樣一個(gè)新概念,內(nèi)部包括可 [ 查看詳細(xì) ]
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