測試文章最新資訊

天線交換柜系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)性能的測試評估

CAN總線是德國BOSCH公司在上世紀(jì)80年代初為解決現(xiàn)代汽車中眾多的控制與測試儀器之間的數(shù)據(jù)交換而開發(fā)的一種串行數(shù)據(jù)通信協(xié)議。由于CAN總線的高可靠性和獨(dú)特的設(shè)計(jì)，目前在電力系統(tǒng)、移動(dòng)設(shè)備、醫(yī)療和測試儀器中得到廣
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2009年全球半導(dǎo)體設(shè)備銷售額達(dá)159.2億美元

　　SEMI報(bào)告顯示2009年全球半導(dǎo)體設(shè)備銷售額達(dá)159.2億美元，年降46%，其中日本銷量降幅最大，中國臺灣地區(qū)以43.5億美元設(shè)備銷售額位居銷量第一。　　國際半導(dǎo)體設(shè)備及材料協(xié)會(huì)(SEMI)3月10日消息，2009年全球半導(dǎo)體制造設(shè)備銷售總額達(dá)到159.2億美元，較2008年下降了46%。這些數(shù)據(jù)收錄入于《全球半導(dǎo)體設(shè)備市場統(tǒng)計(jì)報(bào)告》(Worldwide Semiconductor Equipment Market Statistics(SEMI)Report, WWSEMS)。　　該報(bào)告由
關(guān)鍵字：半導(dǎo)體設(shè)備測試晶圓加工

衛(wèi)星通訊的通道仿真和測試解決方案(圖)

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字：衛(wèi)星通訊 Aeroflex寬帶通道仿真測試

基于BIST的編譯碼器IP核測試

1 引言　　隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展，片上系統(tǒng)SOC已成為當(dāng)今一種主流技術(shù)。基于IP復(fù)用的SOC設(shè)計(jì)是通過用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個(gè)系統(tǒng)，提高了設(shè)計(jì)效率，加快了設(shè)計(jì)過程，縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間。但是隨著設(shè)
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雙絞線傳輸器橫紋干擾模擬測試實(shí)驗(yàn)和解決辦法

在使用雙絞線傳輸器時(shí)，有時(shí)因?yàn)榄h(huán)境的因素，造成監(jiān)視器上會(huì)出現(xiàn)網(wǎng)紋干擾的現(xiàn)象，為此，優(yōu)特普做了如下模擬實(shí)驗(yàn)進(jìn)行分析，并提出解決的辦法。一、實(shí)驗(yàn)設(shè)備：前端設(shè)備攝像機(jī)、后端設(shè)備監(jiān)視器、雙絞線傳輸器UTP101
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LTE測試解決方案：滿足LTE開發(fā)需求

2009年底，歐洲電信運(yùn)營商TeliaSonera宣布開通LTEFDD商用網(wǎng)絡(luò)，從而揭開了LTEFDD商用的大幕。2010年中國移動(dòng)將...
關(guān)鍵字： LTEFDD LTE 信號商用網(wǎng)絡(luò) 測試方案

力科在發(fā)布PCIe 3.0綜合測試解決方案

　　第一個(gè)支持PCIe 3.0的高性能通訊發(fā)生器和練習(xí)器 Summit Z3-16 Exerciser 　　同步2臺WaveMaster 8 Zi 在4通道上同時(shí)提供30GHz帶寬的Zi-8CH-SYNCH同步器　　第一個(gè)針對PCIe集成了示波器和協(xié)議分析儀的ProtoSync PE 　　第一個(gè)嵌入到仿真軟件的PCIe協(xié)議分析儀SimPASS 　　2010年2月2日，力科在DesignCon 2010上首次公布將PCIe 3.0測試解決方案延伸到芯片開發(fā)的所有階段。此外，力科還發(fā)布了Zi-8CH
關(guān)鍵字：力科 PCIe 3.0 測試

淺談TD-SCDMA智能天線基本原理和測試方法

1 引言作為第三代移動(dòng)通信系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)之一的TD-SCDMA，采用了兩項(xiàng)最為關(guān)鍵的技術(shù)，即智能天線技術(shù)和聯(lián)合檢測技術(shù)。其中智能天線對于系統(tǒng)的作用主要包括：（1）通過多個(gè)天線通道功率的最大比合并以及陣列信號處理，明顯
關(guān)鍵字：原理測試方法基本天線 TD-SCDMA 智能淺談

基于虛擬儀器的弱信號處理模塊測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

關(guān)鍵字：虛擬儀器弱信號處理模塊測試 GPIB

TD-HSDPA PS異系統(tǒng)間重試及外場測試疏導(dǎo)擁塞

　作為TD-SCDMA無線資源管理的關(guān)鍵算法之一，準(zhǔn)入控制(AC：AccessControl)是通過建立一個(gè)無線接入承載(RB：RadioBearer)來接納或拒絕一個(gè)請求。當(dāng)RB建立或發(fā)生改變的時(shí)候，需要執(zhí)行接入控制算法。當(dāng)系統(tǒng)負(fù)載比較高的
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電池電量的兩種測試方法

檢測普通鋅錳干電池的電量是否充足，通常有兩種方法。第一種方法是通過測量電池瞬時(shí)短路電流來估算電池的內(nèi)阻，進(jìn)而判斷電池電量是否充足；第二種方法是用電流表串聯(lián)一只阻值適當(dāng)?shù)碾娮?，通過測量電池的放電電流計(jì)算
關(guān)鍵字：方法測試電量電池

TD-LTE系統(tǒng)組網(wǎng)測試中下行流量的測試

無線網(wǎng)絡(luò)側(cè)用戶數(shù)據(jù)處理的流程圖1-1 3GPP LTE網(wǎng)絡(luò)的用戶面協(xié)議?！　D1-1是3GPP LTE網(wǎng)絡(luò)的用戶面協(xié)議棧 [1]。左邊藍(lán)色框內(nèi)是無線網(wǎng)絡(luò)側(cè)的用戶面協(xié)議棧。下行數(shù)據(jù)從核心網(wǎng)傳輸?shù)交緜?cè)后，經(jīng)過PDCP層、RLC層和MAC層
關(guān)鍵字： TD-LTE 測試系統(tǒng) 流量

電磁兼容設(shè)計(jì)及測試

摘要：針對當(dāng)前嚴(yán)峻的電磁環(huán)境，分析了電磁干擾的來源，通過產(chǎn)品開發(fā)流程的分解，融入電磁兼容設(shè)計(jì)，從原理圖設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)、元器件選型、系統(tǒng)布線、系統(tǒng)接地等方面逐步分析，總結(jié)概括電磁兼容設(shè)計(jì)要點(diǎn)，最后，介紹了
關(guān)鍵字：電磁兼容設(shè)計(jì) 測試

為存儲器測試開發(fā)低成本的解決方案

便攜式技術(shù)的發(fā)展使人們越來越依賴蜂窩電話、PDA和導(dǎo)航系統(tǒng)這類便攜式裝置。隨著處理器技術(shù)的不斷進(jìn)步，過去幾年中大容量存儲器件的設(shè)計(jì)和開發(fā)呈指數(shù)級增長。例如，從蘋果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano產(chǎn)品
關(guān)鍵字：存儲器測試方案

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測試介紹

　　中文名稱：　　測試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]