為存儲(chǔ)器測試開發(fā)低成本的解決方案

便攜式技術(shù)的發(fā)展使人們越來越依賴蜂窩電話、PDA和導(dǎo)航系統(tǒng)這類便攜式裝置。隨著處理器技術(shù)的不斷進(jìn)步，過去幾年中大容量存儲(chǔ)器件的設(shè)計(jì)和開發(fā)呈指數(shù)級(jí)增長。例如，從蘋果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano產(chǎn)品，重新設(shè)計(jì)的關(guān)鍵部件不是速度更快的處理器，而是采用閃存取代了硬盤。這些裝置的可靠性取決于存儲(chǔ)器的正確設(shè)計(jì)和測試。

在開發(fā)和測試存儲(chǔ)器件方面，工程師面臨著許多挑戰(zhàn)。要獲得更低的消費(fèi)價(jià)格，就要不斷削減測試成本和時(shí)間。一直以來，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)不得不為每個(gè)設(shè)計(jì)購買或租賃昂貴的高端存儲(chǔ)器測試設(shè)備。而PC的普及和FPGA技術(shù)的發(fā)展則催生出一種用于驗(yàn)證存儲(chǔ)器件的新型、低成本測試設(shè)備?；赑C的混合信號(hào)平臺(tái)，諸如圖1所示的PXI(用于儀器的PCI擴(kuò)展)測試系統(tǒng)，可以安裝在工程師的桌面上并提供比其它方案成本更低的、測試所必需的功能。利用這些平臺(tái)，工程師可以盡早測試其設(shè)計(jì)，并將測試貫穿到整個(gè)開發(fā)過程之中。

本文將探討存儲(chǔ)器測試解決方案的開發(fā)以及驗(yàn)證功能和物理連接所需的測試設(shè)備功能。并分析除了滿足存儲(chǔ)器基本功能測試之外，如何擴(kuò)展測試能力。

存儲(chǔ)器測試的主要目標(biāo)是驗(yàn)證存儲(chǔ)器件上的每一個(gè)存儲(chǔ)位都能夠可靠地儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。驗(yàn)證存儲(chǔ)器件所需的關(guān)鍵測試包括驗(yàn)證物理連接、檢查存儲(chǔ)器的每一位并描述器件特征。采用基于PC的平臺(tái)，例如PXI，工程師可以利用標(biāo)準(zhǔn)的編程語言(例如NI LabVIEW和C/C++)開發(fā)定制、低成本測試系統(tǒng)，以滿足存儲(chǔ)器測試的要求。

驗(yàn)證物理連接(包括存儲(chǔ)器地址和數(shù)據(jù)I/O線)對(duì)于確保數(shù)據(jù)被正確存儲(chǔ)在所期望的位置至關(guān)重要。地址線規(guī)定每一個(gè)操作的存儲(chǔ)位置，而雙向數(shù)據(jù)線負(fù)責(zé)將數(shù)據(jù)輸入和輸出存儲(chǔ)器。如果有一個(gè)物理連接發(fā)生故障，其它測試也會(huì)出錯(cuò)。
圖1：應(yīng)用于桌面的PXI混合信號(hào)測試系統(tǒng)。