測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

全國(guó)電子測(cè)試工程系統(tǒng)學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)召開(kāi)

由中國(guó)電子學(xué)會(huì)測(cè)試與儀器分會(huì)、中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)國(guó)外儀器技術(shù)專業(yè)委員會(huì)和電子計(jì)量專業(yè)委員會(huì)聯(lián)合組織的“2002年全國(guó)計(jì)量、儀器、測(cè)控工程系統(tǒng)學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)”10月中旬在武夷山舉行。來(lái)自全國(guó)儀器儀表、測(cè)量測(cè)試行業(yè)、大學(xué)及產(chǎn)業(yè)界的100多名專業(yè)技術(shù)人員參加了大會(huì)。第二炮兵工程學(xué)院教授、工程院院士黃先祥先生到會(huì)并講話。哈爾濱工業(yè)大學(xué)孫圣和教授介紹了儀器儀表及測(cè)試測(cè)量技術(shù)，從模擬到數(shù)字，再到標(biāo)準(zhǔn)化模塊的發(fā)展趨勢(shì)及現(xiàn)狀。
關(guān)鍵字：測(cè)試測(cè)試測(cè)量

2002年5月，英特爾宣布在中國(guó)組裝和測(cè)試英特爾奔騰4處理器

　　2002年5月，英特爾宣布在中國(guó)組裝和測(cè)試英特爾奔騰 4 處理器。
關(guān)鍵字： Intel 處理器組裝測(cè)試

測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)

　　IC測(cè)試、通信測(cè)試、網(wǎng)絡(luò)測(cè)試和虛擬儀器的發(fā)展已出現(xiàn)一些新的勢(shì)態(tài)。降低測(cè)試成本成為發(fā)展IC測(cè)試的首要目標(biāo) 　　對(duì)體積更小、功能更強(qiáng)的芯片的需求正推動(dòng)IC產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，同時(shí)也推動(dòng)著IC設(shè)計(jì)和測(cè)試的發(fā)展。對(duì)于系統(tǒng)芯片（SOC）的測(cè)試，其成本已幾乎占芯片成本的一半。根據(jù)英特爾公司副總裁提出的測(cè)試摩爾定律，未來(lái)幾年，每一晶體管的硅投資成本將低于其測(cè)試成本。因此未來(lái)IC測(cè)試設(shè)備制造商面臨的最大挑戰(zhàn)是如何降低測(cè)試成本。過(guò)去的集成電
關(guān)鍵字：測(cè)試測(cè)試測(cè)量

1997年，Maxim首家自主的測(cè)試工廠在菲律賓的Cavite投入使用

　　1997年，Maxim首家自主的測(cè)試工廠在菲律賓的Cavite投入使用。
關(guān)鍵字： Maxim 測(cè)試 Cavite

1995年6月，上海阿法泰克電子公司在上海浦東成立

　　1995年6月，由中、泰、美三方合資的上海阿法泰克電子公司在上海浦東成立，這是國(guó)家重點(diǎn)工程“集成電路專項(xiàng)工程”的兩大關(guān)鍵項(xiàng)目之一，主要從事集成電路的封裝和測(cè)試。
關(guān)鍵字：集成電路封裝測(cè)試

1994年11月，英特爾位于上海的芯片測(cè)試和封裝工廠破土動(dòng)工

　　1994年11月，英特爾位于上海的芯片測(cè)試和封裝工廠破土動(dòng)工。
關(guān)鍵字： Intel 測(cè)試封裝

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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]