測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

您的接地很靠譜嗎？C 雷人至?xí)灥臏y(cè)試故事(2)

如果哪位仁兄沒(méi)有遇到過(guò)接地的問(wèn)題，肯定不是干EE的! 在研發(fā)和測(cè)試過(guò)程中的接地都很重要。不良的接地，不僅可能導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)量，甚至?xí)p壞儀器和被測(cè)件。例如，在使用示波器時(shí)，會(huì)看到很大的噪聲和詭異的波形，
關(guān)鍵字：接地測(cè)試

測(cè)電流就宕機(jī)，萬(wàn)用表惹的禍？ C 雷人的測(cè)試故事(3)

有一位仁兄，從事軍用計(jì)算機(jī)的測(cè)試工作。軍用計(jì)算機(jī)的要求與我們民用的有很大的區(qū)別。如果我們自己選用的PC機(jī)，我們關(guān)心的可能是CPU的速度、存儲(chǔ)器、內(nèi)存、顯卡等等。但軍用計(jì)算機(jī)需要考慮的首要問(wèn)題，就是可靠性。
關(guān)鍵字：測(cè)試萬(wàn)用表

電磁兼容測(cè)試實(shí)質(zhì)

1、輻射發(fā)射測(cè)試測(cè)試電子、電氣和機(jī)電設(shè)備及其組件的輻射發(fā)射，包括來(lái)自所有組件、電纜及連線上的輻射發(fā)射，用來(lái)鑒定其輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求，一致在正常使用過(guò)程中影響同一環(huán)境中的其他設(shè)備。2、傳導(dǎo)騷擾測(cè)試為了
關(guān)鍵字：電磁兼容測(cè)試

新能源汽車電機(jī)如何測(cè)試

汽車換心行動(dòng)是當(dāng)下主流的趨勢(shì)，汽車的動(dòng)力來(lái)源將由電機(jī)取代傳統(tǒng)的內(nèi)燃機(jī)，今天我們就來(lái)做一次別開(kāi)生面的“大手術(shù)”。
關(guān)鍵字：新能源汽車電機(jī) 測(cè)試

快充測(cè)試一鍵完成--費(fèi)思負(fù)載應(yīng)用之快速充電器測(cè)試

費(fèi)思電子負(fù)載針對(duì)快速充電器的測(cè)試應(yīng)用：只要按一下按鍵，負(fù)載會(huì)自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試，并對(duì)快速充電器進(jìn)行輸出狀態(tài)改變觸發(fā)，配合輸出改變，完成各種輸出狀態(tài)的測(cè)試，自動(dòng)完成測(cè)試，自動(dòng)給出判斷。快速充電器應(yīng)用廣泛，是未
關(guān)鍵字：快速充電測(cè)試費(fèi)思

25Gbps以上高速串行總線的測(cè)試挑戰(zhàn)

引言：當(dāng)今由于電子產(chǎn)品對(duì)數(shù)據(jù)吞吐率要求越來(lái)越高，這使得信號(hào)傳輸速率也越來(lái)越高且往往需要多個(gè)通道同時(shí)傳輸，這給測(cè)試帶來(lái)了很大的挑戰(zhàn)。當(dāng)今由于電子產(chǎn)品對(duì)數(shù)據(jù)吞吐率要求越來(lái)越高，這使得信號(hào)傳輸速率也越來(lái)越高
關(guān)鍵字：高速串行總線測(cè)試模塊化示波器

你所不知道的事――底噪關(guān)乎生產(chǎn)力！

很多朋友都有購(gòu)買耳機(jī)的經(jīng)驗(yàn)，當(dāng)我們穿梭在琳瑯滿目的電子市場(chǎng)中，各種造型和價(jià)位的耳機(jī)讓我們無(wú)所適從，有的耳機(jī)要價(jià)千元以上，而有的卻只賣幾元錢，差價(jià)令人咋舌。為何同樣是耳機(jī)，售價(jià)卻如此懸殊呢?除了品牌含金
關(guān)鍵字：底噪示波器測(cè)試

遠(yuǎn)距離操作和測(cè)試腳本

處理器的使用在進(jìn)入實(shí)際測(cè)試實(shí)例之前，我們先討論用于此測(cè)試應(yīng)用的新儀器特性。2600系列源表具有強(qiáng)大的嵌入式計(jì)算機(jī)或測(cè)試腳本處理器，因而能實(shí)現(xiàn)在堆架式儀器中從未見(jiàn)過(guò)的功能。可以將完整的測(cè)試程序(腳本)下載至T
關(guān)鍵字：測(cè)試 it 吉時(shí)利測(cè)量

實(shí)際不穩(wěn)定問(wèn)題和穩(wěn)定方案

圖1描述了實(shí)際系統(tǒng)對(duì)1A負(fù)載電流脈沖的電壓響應(yīng)(下面的曲線)。負(fù)載是阻性的，電纜長(zhǎng)度可以忽略(負(fù)載直接連在電源輸出端)。負(fù)載電壓對(duì)負(fù)載電流脈沖上升沿和下降沿的響應(yīng)顯示了10mV壓降與10mV過(guò)沖。這非常接近于能夠?qū)?/li>
關(guān)鍵字：測(cè)試 it 吉時(shí)利測(cè)量

電容器檢測(cè)技巧分享

電容器檢測(cè)方法主要分為三個(gè)大類：可變電容器的檢測(cè)、電解電容器的檢測(cè)、固定電容器的檢測(cè)。1、可變電容器的檢測(cè)A用手輕輕旋動(dòng)轉(zhuǎn)軸，應(yīng)感覺(jué)十分平滑，不應(yīng)感覺(jué)有時(shí)松時(shí)緊甚至有卡滯現(xiàn)象。將載軸向前、后、上、下、左
關(guān)鍵字：電容器測(cè)試測(cè)量

通用變頻器在日常的維護(hù)事項(xiàng)

伴隨著自動(dòng)化領(lǐng)域的不斷向前發(fā)展，變頻器的應(yīng)用也深入到了各行各業(yè)各個(gè)領(lǐng)域，變頻器也在不斷地推陳出新，功能越來(lái)越強(qiáng)大，可靠性也相應(yīng)地越來(lái)越高。但是如果使用不當(dāng)，操作有誤，維護(hù)不及時(shí)，仍會(huì)發(fā)生故障或運(yùn)行狀況
關(guān)鍵字：變頻器測(cè)試測(cè)量

電路評(píng)估與測(cè)試 - 單電源、低功耗的可編程窗口檢測(cè)器

電路評(píng)估與測(cè)試設(shè)備要求(可以用同等設(shè)備代替)EVAL-SDP-CB1Z系統(tǒng)演示平臺(tái)CN-0182電路評(píng)估板(EVAL-CN0182-SDZ)CN-0182評(píng)估軟件TektronixTDS2024，4通道示波器HP-E3630A0V至6V、2.55Aplusmn;20V、0.5A三路輸出直流電源
關(guān)鍵字：電路測(cè)試單電源窗口檢測(cè)器

高通面向半導(dǎo)體制造測(cè)試成立高通通訊技術(shù)公司

　　Qualcomm Incorporated今日宣布成立高通通訊技術(shù)(上海)有限公司(Qualcomm Communication Technologies (Shanghai) Co. Ltd.) ，新公司位于上海外高橋自由貿(mào)易區(qū)，擁有半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)施，這也是Qualcomm首次涉足半導(dǎo)體制造測(cè)試業(yè)務(wù)。通過(guò)與全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體封裝和測(cè)試服務(wù)提供商Amkor Technologies, Inc.合作，新公司將Amkor豐富的測(cè)試服務(wù)經(jīng)驗(yàn)和尖端的凈室設(shè)施與Qualcomm Technologies行業(yè)領(lǐng)先的前
關(guān)鍵字：高通測(cè)試

TCL嵌入式測(cè)試技術(shù)在數(shù)通領(lǐng)域的應(yīng)用

TCL嵌入式測(cè)試技術(shù)在數(shù)通領(lǐng)域的應(yīng)用,TCL (Tool Command Language)是一種解釋執(zhí)行的腳本語(yǔ)言(Scripting Language)，是業(yè)界主流自動(dòng)化測(cè)試語(yǔ)言，修改后不需重新編譯，TCL解釋器直接執(zhí)行。在傳統(tǒng)的黑盒測(cè)試中，TCL也有大量應(yīng)用，測(cè)試模型如圖1所示原有自動(dòng)
關(guān)鍵字： TCL 嵌入式測(cè)試

測(cè)試市場(chǎng)總體規(guī)模在下降 NI卻保持兩位數(shù)增長(zhǎng)

　　目前黯淡的全球經(jīng)濟(jì)環(huán)境也正在沖擊測(cè)試測(cè)量行業(yè)的發(fā)展速度。在這幾天舉辦的NIWeek 2016上，不管是NI創(chuàng)始人兼CEO Dr. James Truchard，還是NI負(fù)責(zé)全球銷售和市場(chǎng)營(yíng)銷的執(zhí)行副總裁Eric Starkloff，都異口同聲地說(shuō)，目前全球總體測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)規(guī)模在下降，但我們還能保持兩位數(shù)增長(zhǎng)，在自動(dòng)化、圖形化、分布式測(cè)試市場(chǎng)增速更快。　　　　圖1：NI創(chuàng)始人兼CEO Dr. James Truchard與筆者在NIWeek 　　Eric Starkloff
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試

共2421條 17/162 |‹ « 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 » ›|

測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]