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測(cè)試 文章 最新資訊

嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的“團(tuán)隊(duì)技能”

  • 前一陣看了幾本有關(guān)嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)的書(shū),包括RTOS,算法,硬件設(shè)計(jì)、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)等,感覺(jué)這個(gè)系統(tǒng)是相當(dāng)復(fù)雜的,所以在此分享一些心得。
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簡(jiǎn)易元器件測(cè)試器

  • 簡(jiǎn)易元器件測(cè)試器,本測(cè)試器可用來(lái)測(cè)試晶體三極管、二極管、LED、(單雙向)可控硅、電容和開(kāi)關(guān)的通斷特性,電路見(jiàn)圖1。 測(cè)晶體三極管時(shí),將引腳分別插入C、B、E,并根據(jù)三極管類(lèi)型置好NPN/PNP
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我國(guó)海洋儀器研發(fā)困難重重 新國(guó)標(biāo)即將出臺(tái)

  •   近年來(lái),我國(guó)的海洋經(jīng)濟(jì)正在突飛猛進(jìn),對(duì)海洋儀器的需求也日益增大,隨著國(guó)家海洋戰(zhàn)略的升級(jí),海洋儀器將在建設(shè)海洋強(qiáng)國(guó)的過(guò)程中發(fā)揮更加重要的作用,海洋儀器雖然難做,但是不做不行,做不好也不行,我國(guó)正處于海洋儀器的發(fā)展階段,很多問(wèn)題急需解決。我國(guó)目前使用的hy016《海洋儀器基本環(huán)境試驗(yàn)方法》修改于1992年,正在醞釀實(shí)施新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),由國(guó)家海洋標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量中心、國(guó)家海洋技術(shù)中心起草的《海洋儀器基本環(huán)境試驗(yàn)方法》海洋國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)即將于近日立項(xiàng)并制定實(shí)施。   青島市建起海洋分析測(cè)試新平臺(tái)   近日,山東省科學(xué)院海
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臺(tái)灣IC業(yè)上季產(chǎn)值增16.8%

  •   臺(tái)灣IEK 15日發(fā)布第2季IC產(chǎn)業(yè)調(diào)查,第2季臺(tái)灣整體IC產(chǎn)業(yè)產(chǎn)值(含設(shè)計(jì)、制造、封裝、測(cè)試)達(dá)4,800億元,季增16.8%。其中以IC設(shè)計(jì)產(chǎn)值增幅20.2%,表現(xiàn)最佳。   至于第3季展望,IEK表示,因第2季基期墊高,雖然第3季可望持續(xù)成長(zhǎng),但成長(zhǎng)趨緩,預(yù)估整體產(chǎn)值將成長(zhǎng)5.6%,達(dá)到5,069億元;全年產(chǎn)值預(yù)估達(dá)到1.87兆元,比去年成長(zhǎng)14.4%   IEK調(diào)查顯示,第2季全球PC/NB市場(chǎng)出貨量雖持續(xù)衰退,但因低價(jià)智能型手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)等產(chǎn)品熱銷(xiāo),以及中國(guó)大陸暑假提前拉貨,帶動(dòng)IC設(shè)
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我國(guó)測(cè)量?jī)x器和國(guó)外儀器的兩大差距

  •   在第八屆國(guó)防電子展會(huì)上,來(lái)自航天系統(tǒng)、軍事院校和軍方的一線測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)、應(yīng)用及計(jì)量研究的專(zhuān)家學(xué)者認(rèn)為,作為一個(gè)高技術(shù)、資本密集、橫跨多個(gè)學(xué)科并且強(qiáng)調(diào)多年技術(shù)積累的行業(yè),我國(guó)在測(cè)試儀器方面與國(guó)外企業(yè)的差距是多方面的,不僅僅是技術(shù)、經(jīng)驗(yàn)和資金不足,更重要的是在概念、標(biāo)準(zhǔn)和理念等方向的差距和在決策方面的不夠重視。   我國(guó)在測(cè)試儀器方面與國(guó)外企業(yè)的差距是多方面的,不僅僅是技術(shù)、經(jīng)驗(yàn)和資金不足,更重要的是在概念、標(biāo)準(zhǔn)和理念等方向的差距和在決策方面的不夠重視。   業(yè)內(nèi)專(zhuān)家認(rèn)為,對(duì)國(guó)產(chǎn)測(cè)試儀器而言,我們始終
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一種提高遙測(cè)信號(hào)處理器測(cè)試性方法

  • 摘要 針對(duì)遙測(cè)信號(hào)處理器的設(shè)計(jì)原理,增加少量硬件電路,利用其自身FPGA剩余邏輯資源完成自檢模塊設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了信號(hào)處理器BIT測(cè)試功能,提高了信號(hào)處理器在掛機(jī)狀態(tài)下的測(cè)試覆蓋率和故障檢測(cè)率。
    關(guān)鍵詞 FPGA;BIT;
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MC34063 DC/DC轉(zhuǎn)換控制電路測(cè)試方法概述

  • MC34063 DC/DC轉(zhuǎn)換控制電路測(cè)試方法概述,目前,DC/DC轉(zhuǎn)換器廣泛應(yīng)用于遠(yuǎn)程及數(shù)據(jù)通信、計(jì)算機(jī)、辦公自動(dòng)化設(shè)備、工業(yè)儀器儀表、軍事、航天等領(lǐng)域,涉及到國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各行各業(yè)。文章以其中有一定代表性的MC34063電路為例,扼要介紹其電特性和用其構(gòu)成的升壓電路的測(cè)試方法,并解析其測(cè)試原理和升壓電路設(shè)計(jì)中的注意事項(xiàng),對(duì)DC/DC轉(zhuǎn)換器的分析測(cè)試和量產(chǎn)測(cè)試提供一些借鑒。
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有助于防止激光二極管毀壞的激光仿真器

  • 有助于防止激光二極管毀壞的激光仿真器,激光二極管可能在數(shù)納秒內(nèi)自行毀壞,因此測(cè)試一個(gè)反饋穩(wěn)定的激光二極管驅(qū)動(dòng)器的響應(yīng)和穩(wěn)定性可能是費(fèi)用很高的。圖1所示仿真器電路示出了一個(gè)典型的激光二極管封裝,封裝內(nèi)不
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德國(guó)亞琛大學(xué)使用DIAdem軟件實(shí)現(xiàn)車(chē)輛碰撞中的信任保護(hù)評(píng)估測(cè)試

  • “通過(guò)使用DIAdem進(jìn)行測(cè)量、評(píng)估和自動(dòng)化任務(wù),我們高效地完成了此次研究。該程序易于使用,并且基于對(duì)話框的操作方式可以預(yù)防許多錯(cuò)誤,這節(jié)省了大量的時(shí)間。”
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修復(fù)可產(chǎn)生音頻噪聲的反激式電源

  • 修復(fù)可產(chǎn)生音頻噪聲的反激式電源,盡管開(kāi)關(guān)電源的工作頻率遠(yuǎn)超過(guò)人類(lèi)的聽(tīng)力范圍,但它們?cè)谔囟ǖ呢?fù)載條件下可以產(chǎn)生音頻噪聲。音頻噪聲的可能來(lái)源多種多樣。噪聲可以是設(shè)計(jì)缺陷(如振蕩輸出電壓)導(dǎo)致,或者由
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LED照明用開(kāi)關(guān)電源技術(shù)要求的研究

  • LED照明用開(kāi)關(guān)電源技術(shù)要求的研究,在充分研究國(guó)內(nèi)外“綠色電源”產(chǎn)品的技術(shù)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)、方法和技術(shù)條件的基礎(chǔ)上,結(jié)合現(xiàn)代化的電源技術(shù),研究LED 用及其他相關(guān)開(kāi)關(guān)電源的技術(shù)措施,提高我國(guó)該類(lèi)產(chǎn)品的技術(shù)含量和可靠性,增強(qiáng)國(guó)際競(jìng)爭(zhēng)力,對(duì)推動(dòng)綠色、環(huán)保、節(jié)能開(kāi)關(guān)電源的應(yīng)用領(lǐng)域和高亮度LED 運(yùn)用范圍,打開(kāi)國(guó)際市場(chǎng),有著劃時(shí)代的戰(zhàn)略意義。
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基于數(shù)字電位器的直流電壓信號(hào)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  • 基于數(shù)字電位器的直流電壓信號(hào)系統(tǒng)的設(shè)計(jì),摘要:研究了一種基于數(shù)字電位器MAX5160的直流電壓信號(hào)系統(tǒng)。通過(guò)按鍵輸入期望的直流電壓值,然后由微處理器ARM1138根據(jù)該數(shù)值對(duì)數(shù)字電位器進(jìn)行控制,可以得到多級(jí)直流電壓
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一種分布式電池管理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)

  • 一種分布式電池管理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn),蓄電池技術(shù)是下一代汽車(chē)--電動(dòng)汽車(chē)的核心技術(shù)之一。蓄電池是復(fù)雜的電化學(xué)系統(tǒng),國(guó)內(nèi)外對(duì)電池管理技術(shù)都進(jìn)行了大量的研究,取得了許多成果。一般認(rèn)為電池管理系統(tǒng)主要有如下
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泛華恒興發(fā)布16發(fā)16收ARINC429通信卡

  • 致力于為各行業(yè)用戶提供高品質(zhì)測(cè)試測(cè)量解決方案和成套檢測(cè)設(shè)備的北京泛華恒興科技有限公司(簡(jiǎn)稱(chēng):泛華恒興)最新發(fā)布了一款PS PXI-3533 ARINC429通信卡。PS PXI-3533是依據(jù)ARINC429數(shù)據(jù)總線通信協(xié)議研發(fā)的一款基于PXI總線的3U通信板卡,適用于航空機(jī)載電子系統(tǒng)分析,以及構(gòu)建仿真模擬、監(jiān)測(cè)及測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)。
  • 關(guān)鍵字: 泛華  測(cè)試  ARINC429  

ARM Cortex-M3 微處理器測(cè)試方法研究與實(shí)現(xiàn)

  • 0 引言隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,集成電路制程工藝從深亞微米發(fā)展到納米級(jí),晶體管集成度的大幅提高使得芯片復(fù)雜度增加,單個(gè)芯片的功能越來(lái)越強(qiáng)。二十世紀(jì)90 年代ARM 公司成立于英國(guó)劍橋,主要出售芯片設(shè)計(jì)技術(shù)的授權(quán)。
  • 關(guān)鍵字: 方法研究  實(shí)現(xiàn)  測(cè)試  微處理器  Cortex-M3  ARM  
共2423條 21/162 |‹ « 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 » ›|

測(cè)試介紹

  中文名稱(chēng):   測(cè)試   英文名稱(chēng):   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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