測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
檢測(cè)并響應(yīng)某個(gè)被測(cè)負(fù)載的自動(dòng)脈沖發(fā)生器
- 檢測(cè)并響應(yīng)某個(gè)被測(cè)負(fù)載的自動(dòng)脈沖發(fā)生器,這個(gè)自動(dòng)脈沖發(fā)生器(圖1和圖2)是一種測(cè)試設(shè)備,用于檢查一對(duì)待測(cè)端子的接觸情況,一旦獲得了正確的接觸,就向它們發(fā)出一個(gè)短暫的電源脈沖。這些端子可以是一個(gè)邏輯門的輸入
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基于FPGA的音樂硬件演奏電路設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)(一)
- 基于FPGA的音樂硬件演奏電路設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)(一),該文在EDA 開發(fā)平臺(tái)上,利用VHDL 語言設(shè)計(jì)數(shù)控分頻器電路,采用可編程邏輯器件CPLD/FPGA,經(jīng)過整體分析、模塊化分析、整體與模塊的仿真分析三個(gè)步驟,以樂曲《梁祝》為例,使硬件實(shí)現(xiàn)了整體復(fù)位、按鍵選擇演奏方式、循環(huán)演奏以及數(shù)碼管顯示樂譜的功能。系統(tǒng)能自動(dòng)從頭開始循環(huán)播放,也可隨時(shí)起停、、按鍵選擇播放、循環(huán)播放播放中切換歌曲以及發(fā)光二極管動(dòng)態(tài)顯示播放的音符。經(jīng)過實(shí)際電路測(cè)試驗(yàn)證,達(dá)到了設(shè)計(jì)要求。
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DC-DC轉(zhuǎn)換器之接地環(huán)路
- DC-DC轉(zhuǎn)換器之接地環(huán)路,DC-DC轉(zhuǎn)換器為整個(gè)系統(tǒng)中的各個(gè)電路供電。盡管每個(gè)電路在測(cè)試臺(tái)上可能表現(xiàn)很好,但系統(tǒng)整體性能卻往往達(dá)不到各個(gè)電路的性能效果。為什么? 有許多潛在因素,而系統(tǒng)中各個(gè)電路
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LED照明產(chǎn)品壽命測(cè)試評(píng)價(jià)方法研究進(jìn)展
- 摘要: 本文在調(diào)研LED 照明產(chǎn)品國際和國家標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)壽命評(píng)價(jià)考慮的基礎(chǔ)上,介紹了目前針對(duì)LED 壽命測(cè)試的相關(guān)研究工作,對(duì)LED 照明產(chǎn)品的壽命評(píng)估方法做了探索性研究。經(jīng)分析可知,采用壽命測(cè)試推算方法,IESTM21
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無線電引信測(cè)試實(shí)現(xiàn)高仿真環(huán)境快速檢測(cè)
- 無線電檢測(cè)領(lǐng)域又有新突破,北京領(lǐng)邦儀器技術(shù)有限公司憑借多年經(jīng)驗(yàn),厚積薄發(fā),研發(fā)了“無線電(探測(cè)器)暗箱快速檢測(cè)設(shè)備”,該設(shè)備可檢測(cè)無線電引信高頻參數(shù)及其他各項(xiàng)性能,具有測(cè)試環(huán)境仿真度高,測(cè)試速
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R&S公司靈活的CMW500測(cè)試平臺(tái)支持TD-SCDMA信令測(cè)試
- 羅德與施瓦茨公司的R&S CMW500寬帶無線通信測(cè)試儀現(xiàn)在也可以通過安裝CMW-KS570選件支持TD-SCDMA信令測(cè)試功能。TD-SCDMA是在中國使用的3G標(biāo)準(zhǔn)。 通過提供這個(gè)新選件,羅德與施瓦茨公司給予芯片和移動(dòng)電話制造廠商在這個(gè)關(guān)鍵市場(chǎng)很大的幫助。 R&S CMW500是唯一可以提供所有通用無線通信技術(shù)以及非蜂窩技術(shù)(如WLAN技術(shù)等)信令測(cè)試功能的測(cè)試平臺(tái)。R&S CMW500的信令測(cè)試模式完美地適用于無線設(shè)備的研發(fā)及生產(chǎn)測(cè)試。測(cè)試儀會(huì)模擬一個(gè)無線連接,然后
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如何提高LED測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗
- 在整個(gè)LED產(chǎn)業(yè)鏈中,從芯片一直到封裝、成品,均需要對(duì)產(chǎn)品的各項(xiàng)光電指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。而大部分LED廠商會(huì)發(fā)現(xiàn),經(jīng)過測(cè)試以后,LED產(chǎn)品的壽命會(huì)受到一定影響,甚至有的在測(cè)試過程中就已經(jīng)直接報(bào)廢。這是為什么?當(dāng)使用微小電流進(jìn)行LED測(cè)試時(shí),電流越小,等待LED點(diǎn)亮的時(shí)間就越長,測(cè)試效率非常低下。這又是為什么?國內(nèi)大部分的廠商都認(rèn)為這是LED產(chǎn)品本身的特性所決定的,非人力所能改變,其實(shí)不然。目前,在歐美、日本、臺(tái)灣等LED產(chǎn)業(yè)相對(duì)發(fā)達(dá)的地區(qū),各大LED廠商已經(jīng)開始選用LED測(cè)試專用電源供應(yīng)器來應(yīng)對(duì)這一問題。ITE
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NI發(fā)布最新版本VeriStand

- 美國國家儀器近日發(fā)布最新基于配置的軟件環(huán)境NI VeriStand 2012,它具備開放、直觀的軟件界面,可開發(fā)實(shí)時(shí)測(cè)試應(yīng)用程序。 工程師可以使用新版本的NI VeriStand進(jìn)行高速數(shù)據(jù)采集和記錄,后處理過程中數(shù)據(jù)記錄的靈活性更大,能夠更快地找到有用的數(shù)據(jù)。新硬件配置實(shí)用程序的啟動(dòng)和運(yùn)行十分快速,而NI SC Express集成可使采集調(diào)解測(cè)量比以往更為容易。
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測(cè)試介紹
中文名稱:
測(cè)試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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