測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

不同的LED驅(qū)動(dòng)在不同應(yīng)用中的區(qū)別

不同的LED驅(qū)動(dòng)在不同應(yīng)用中的區(qū)別,由于LED是特性敏感的半導(dǎo)體器件，又具有負(fù)溫度特性，因而在應(yīng)用過(guò)程中需要對(duì)其進(jìn)行穩(wěn)定工作狀態(tài)和保護(hù)，從而產(chǎn)生了驅(qū)動(dòng)的概念。LED器件對(duì)驅(qū)動(dòng)電源的要求近乎于苛刻，LED不像
關(guān)鍵字：控制開關(guān)電源測(cè)試

福祿克冒險(xiǎn)指數(shù)游戲幫助用戶提高安全意識(shí)

今年國(guó)家安全生產(chǎn)月的主題是“強(qiáng)化安全基礎(chǔ)、推動(dòng)安全發(fā)展”。這與誕生65周年的福祿克產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)安全理念不謀而合，為了幫助工程師和技術(shù)人員提高安全意識(shí)，警惕亞安全，福祿克特別推出了冒險(xiǎn)指數(shù)大測(cè)試游戲，游戲通過(guò)測(cè)試題的形式展開，并用危險(xiǎn)指數(shù)衡量工作環(huán)境的潛在危險(xiǎn)，指數(shù)越高代表安全意識(shí)越低。
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NI參加2013AETF第八屆亞太汽車電子技術(shù)論壇峰會(huì)

美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)于6 月 7 日參加在重慶舉辦的 2013AETF 第八屆亞太汽車電子技術(shù)論壇峰會(huì)，共有數(shù)百位汽車行業(yè)的聽眾與會(huì)。NI 參加此次活動(dòng)，旨在向重慶及西部地區(qū)的廣大汽車行業(yè)專家和工程師介紹 NI 在汽車電子仿真設(shè)計(jì)和測(cè)試領(lǐng)域的主要應(yīng)用方向、技術(shù)方案和最新進(jìn)展。
關(guān)鍵字： NI 汽車電子測(cè)試

基于單片機(jī)的數(shù)控直流電流源的研制（二）

基于單片機(jī)的數(shù)控直流電流源的研制（二）,目前所使用的直流可調(diào)電流源中，大多為旋鈕開關(guān)調(diào)節(jié)電流，調(diào)節(jié)精度不高，而且經(jīng)常跳變，使用麻煩.系統(tǒng)采用STC89C52為主控芯片，通過(guò)鍵盤改變或設(shè)定數(shù)字量，經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換后產(chǎn)生相應(yīng)的模擬電壓Vo,此電壓加到由運(yùn)算放大器OP07組成的恒流源電路，輸出相應(yīng)的電流Io.利用本數(shù)控電源，可以實(shí)現(xiàn)步進(jìn)為1 mA,輸出電流范圍20~2 000 mA,輸出直流電壓≤10 V,紋波電流≤1 mA.經(jīng)測(cè)試，該系統(tǒng)穩(wěn)定性好.精度較高.操作簡(jiǎn)單.人機(jī)界面友好，具有較高的實(shí)用性.
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NI 首次車輛交通行業(yè)巡回研討會(huì)在長(zhǎng)春全面啟動(dòng)

美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)在長(zhǎng)春開啟 2013 年 NI 車輛交通行業(yè)巡回研討會(huì)第一站。來(lái)自 NI 及其合作伙伴的行業(yè)專家就 NI 在汽車行業(yè)設(shè)計(jì)仿真和測(cè)試等領(lǐng)域的主要應(yīng)用方向、技術(shù)方案和最新進(jìn)展向到場(chǎng)的廣大汽車行業(yè)專家及工程師作了介紹。接下來(lái)，此次研討會(huì)還將在廣州、武漢和上海三個(gè)車輛行業(yè)重點(diǎn)城市舉行，敬請(qǐng)關(guān)注。
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試數(shù)據(jù)采集

如何簡(jiǎn)化FPGA測(cè)試和調(diào)試？

FPGA的設(shè)計(jì)速度、尺寸和復(fù)雜度明顯增加，使得整個(gè)設(shè)計(jì)流程中的驗(yàn)證和調(diào)試成為當(dāng)前FPGA系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。獲得FPGA內(nèi)部信號(hào)有限、FPGA封裝和印刷電路板電氣噪聲，這一切使得設(shè)計(jì)調(diào)試和檢驗(yàn)變成設(shè)計(jì)周期中最困難的流程。
關(guān)鍵字： FPGA 測(cè)試調(diào)試

便攜式功率分析儀設(shè)計(jì)----硬件設(shè)計(jì)（一）

便攜式功率分析儀設(shè)計(jì)----硬件設(shè)計(jì)（一）,第三章便攜式功率分析儀硬件設(shè)計(jì)3.1微波功率測(cè)量原理微波功率測(cè)量電路的連接方式一般分為終端式和通過(guò)式兩種。終端式接法是把待測(cè)的信號(hào)功率直接送入功率計(jì)。即以功率探頭為
關(guān)鍵字：功率測(cè)試控制

太陽(yáng)能電池和電池板測(cè)試方案(圖)

由于新能源最近的紅火，很多企事業(yè)單位都把眼光投到了這塊新興能源上，其中包括核能、風(fēng)能、太陽(yáng)能等。除了很...
關(guān)鍵字：電池板測(cè)試 DC

一種LED尋找故障的電纜測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)

一種LED尋找故障的電纜測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn),電纜故障測(cè)試儀用于檢測(cè)電纜故障，儀器種類、儀器型號(hào)大量增加，現(xiàn)在國(guó)內(nèi)電纜故障測(cè)試儀器市場(chǎng)上，供應(yīng)的儀器種類、儀器名稱種類繁多，除了我們常見(jiàn)的電纜故障測(cè)試儀以外，
關(guān)鍵字：測(cè)試控制器 LED

安捷倫推出用于衛(wèi)星通信和導(dǎo)航的系統(tǒng)設(shè)計(jì)工具

安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布推出兩個(gè)用于 SystemVue的參考設(shè)計(jì)庫(kù)，SystemVue軟件是通信和航空航天/國(guó)防系統(tǒng)設(shè)計(jì)的首要平臺(tái)。
關(guān)鍵字：安捷倫測(cè)試 SystemVue

LED驅(qū)動(dòng)電源如何實(shí)現(xiàn)高功率因數(shù)

LED驅(qū)動(dòng)電源如何實(shí)現(xiàn)高功率因數(shù),采用SA7527的LED驅(qū)動(dòng)電源方案，此類方案已大批量生產(chǎn)，品質(zhì)穩(wěn)定。優(yōu)點(diǎn)：1)高功率因數(shù)：0.95以上2)低諧波：15%以下3)高效率缺點(diǎn)：1)后級(jí)輸出紋波大，但對(duì)LED沒(méi)有影響，如客人
關(guān)鍵字：功率控制測(cè)試 LED驅(qū)動(dòng)

基于L6599的串并聯(lián)諧振變換器設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)(一)

基于L6599的串并聯(lián)諧振變換器設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)(一),LLC型串并聯(lián)諧振變換器具有較高的轉(zhuǎn)換效率，根據(jù)電路直流增益特性、諧振部分阻抗特性及軟開關(guān)實(shí)現(xiàn)條件，分析推導(dǎo)了主要參數(shù)設(shè)計(jì)方法。結(jié)合ST公司推出的L6599集成芯片的特點(diǎn)和主要功能，并給出外圍控制電路設(shè)計(jì)。最后設(shè)計(jì)完成樣機(jī)一臺(tái)，測(cè)試結(jié)果和實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)證明了設(shè)計(jì)的可行性。
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少元件的零交叉檢測(cè)器用電量低

少元件的零交叉檢測(cè)器用電量低,有很多電路展示了使用50Hz和60Hz電線的零交叉檢測(cè)器的工作原理。雖然電路有很多種，但是大多數(shù)都有不足之處。本例中展示的電路可使用少量的通用元件來(lái)提供更高的性能，且耗
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基于FPGA的SOPC系統(tǒng)DAB發(fā)射端硬件實(shí)現(xiàn)

基于FPGA的SOPC系統(tǒng)DAB發(fā)射端硬件實(shí)現(xiàn),本文設(shè)計(jì)基于FPGA芯片EP3C16Q240C8N的片上可編程系統(tǒng)，該系統(tǒng)可用于實(shí)現(xiàn)IFFT運(yùn)算和接口模塊，利用可嵌入到此FPGA芯片的NiosII軟核處理器來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸和控制.功能電路中的ADI的數(shù)字上變頻芯片AD9957和可控增益芯片AD8369用于實(shí)現(xiàn)DAB基帶信號(hào)的上變頻和信號(hào)放大.這套DAB發(fā)射機(jī)電路板尺寸為100cm*160cm,經(jīng)過(guò)測(cè)試，能很好的完成發(fā)射，具有較高的可靠性.
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克服動(dòng)態(tài)負(fù)載帶來(lái)的高電流脈沖的挑戰(zhàn)

克服動(dòng)態(tài)負(fù)載帶來(lái)的高電流脈沖的挑戰(zhàn),動(dòng)態(tài)負(fù)載帶來(lái)了電源領(lǐng)域最具挑戰(zhàn)的幾個(gè)問(wèn)題?？焖僮兓碾娏骰蛎}沖電流異常難控制，許多被測(cè)設(shè)備(DUTs,devices under test)都會(huì)為電源帶來(lái)快速變化的電流或脈沖負(fù)載。由電池
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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]