IMEC向Samsung提供嵌入式SRAM可制造設(shè)計(jì)工具
近日IMEC成功地將靜態(tài)存儲(chǔ)器分析工具M(jìn)emoryVAM轉(zhuǎn)交給Samsung。該工具可預(yù)估深亞微米IC技術(shù)中因工藝不穩(wěn)定而造成的SRAM成品率損失。
本文引用地址:http://2s4d.com/article/93729.htm該工具同時(shí)還幫助存儲(chǔ)器和系統(tǒng)設(shè)計(jì)者估算由于周期時(shí)間、存取時(shí)間和功耗等工藝因素變化而造成的成品率降低
評(píng)論