基于SOPC的通用型JTAG調(diào)試器的設計

作者：時間：2015-01-07 來源：網(wǎng)絡

加入技術交流群
- 掃碼加入
  和技術大咖面對面交流
  海量資料庫查詢

　　SOPC技術的發(fā)展，給仿真器指出了新的發(fā)展方向。所謂SOPC技術，就是指用可編程技術將整個系統(tǒng)放在一塊硅片上。在傳統(tǒng)設計中電路級相互獨立的各個系統(tǒng)被集成到一塊FPGA芯片中。

本文引用地址：http://2s4d.com/article/267831.htm

　　SOPC的可重用性是一種先進的設計思想。為了降低用戶的負擔，避免重復勞動，將一些在數(shù)字電路中常用但比較復雜的功能模塊，比如SDRAM控制器等，設計成可修改參數(shù)的模塊，用戶在設計系統(tǒng)時可以直接調(diào)用這些模塊。這些特定的功能模塊被稱為IPcore(知識產(chǎn)權核)。由于IPcore通常是很成熟的，因此降低了開發(fā)風險。

　　本文利用SOPC技術的特點，設計一種通用型調(diào)試器。根據(jù)待調(diào)試目標板的CPU型號，將相應的調(diào)試IPcore和其他通用IPcore一起編譯生成一個嵌入式調(diào)試系統(tǒng)，下載到FPGA上，實現(xiàn)一個通用型調(diào)試器。在使用同一個硬件系統(tǒng)的情況下，可以選擇不同的調(diào)試IPcore來調(diào)試不同的CPU，而不同的IPcore可以方便的互相替換。該方法在設計靈活性、開發(fā)成本、開發(fā)周期、工作性能等方面都具有優(yōu)越性。具體的實現(xiàn)采用了Cyclone開發(fā)板和Altera開發(fā)套件。

　　1 JTAG調(diào)試原理

　　目前在線仿真調(diào)試器中使用最多的調(diào)試方法都是基于JTAG標準。1986年，聯(lián)合測試行動組發(fā)表了最早的邊界掃描測試規(guī)范(Boundary Scan Testing)，經(jīng)不斷改進，1990年被批準為IEEE Std 1149.1a標準，簡稱JTAG標準。現(xiàn)在大多數(shù)復雜的IC芯片都帶有JTAG調(diào)試接口。本文所討論的調(diào)試方法也基于JTAG標準。下面首先簡單介紹一下JTAG調(diào)試原理。

　　JTAG調(diào)試原理的基礎是邊界掃描測試。它通過在芯片的每個I/0腳附加一個邊界掃描單元(BoundaryScan Cell，BSC)以及一些附加的測試控制邏輯來實現(xiàn)。每個BSC有兩個數(shù)據(jù)通道：一個是測試數(shù)據(jù)通道——測試數(shù)據(jù)輸入TDI(Test Data Input)、測試數(shù)據(jù)輸出TD0(Test Data 0utput);另一個是正常數(shù)據(jù)通道——正常數(shù)據(jù)輸入NDI(Normal Data Input)、正常數(shù)據(jù)輸出ND0(Normal Data Output)。在正常工作狀態(tài)，輸入和輸出數(shù)據(jù)可以自由通過每個BSC，正常工作數(shù)據(jù)從NDI進，從NDO出。在測試狀態(tài)，可以選擇數(shù)據(jù)流動的通道：對于輸入引腳，可以選擇從NDI或從TDI輸入數(shù)據(jù);對于輸出引腳，可以選擇從BSC輸出數(shù)據(jù)至NDO或至TDO。芯片輸入輸出引腳上的邊界掃描寄存器單元可以相互連接起來，在芯片周圍形成一個掃描鏈。利用邊界掃描鏈就可以控制芯片的輸入，觀察芯片的輸出。一般來說，芯片都提供了若干條掃描鏈來完成測試功能。例如ARM7TDMI核提供了3條掃描鏈。

　　JTAG控制器主要由3部分組成：測試端口控制器(Test Access Port，TAP)、指令寄存器和數(shù)據(jù)寄存器。其中，TAP控制器是JTAG的核心控制器，需要以下5個控制信號：TCK(邊界掃描時鐘)、TMS(JTAG測試模式選擇)、TDI(串行邊界掃描輸入數(shù)據(jù))、TDO(串行邊界掃描輸出數(shù)據(jù))和TRST(JTAG測試邏輯復位)。正是通過TAP控制器狀態(tài)的不斷變化，JTAG控制器得以控制CPU的運行。TAP控制器的狀態(tài)機如圖1所示。