Mentor推出MicReD工業(yè)化的1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備 用于電力電子器件功率循環(huán)測(cè)試

　　Mentor Graphics 公司 (NASDAQ：MENT)于2014年5月12日宣布推出全新MicReD® Industrial Power Tester 1500A(工業(yè)化的1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備)，用于電力電子器件的功率循環(huán)測(cè)試和熱特性測(cè)試，以模擬和測(cè)量電力電子器件壽命期內(nèi)的表現(xiàn)。MicReD工業(yè)化的1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備既可以對(duì)包括混合動(dòng)力汽車(chē)及電動(dòng)汽車(chē)和列車(chē)在內(nèi)的汽車(chē)和交通行業(yè)應(yīng)用中越來(lái)越多的電力電子器件進(jìn)行可靠性測(cè)試，還可以對(duì)發(fā)電與變頻器、風(fēng)力渦輪機(jī)等可再生能源應(yīng)用中越來(lái)越多的電力電子器件進(jìn)行可靠性測(cè)試。它是市面上唯一結(jié)合了功率循環(huán)測(cè)試功能和瞬態(tài)熱測(cè)試功能的熱測(cè)試產(chǎn)品，它通過(guò)結(jié)構(gòu)函數(shù)提供實(shí)時(shí)故障原因診斷的數(shù)據(jù)。

　　電力電子器件在電能產(chǎn)生、轉(zhuǎn)換或控制的應(yīng)用中使用，這些應(yīng)用需要在多年穩(wěn)定運(yùn)行中保持很高的可靠性。這款新產(chǎn)品是專(zhuān)為工業(yè)電力電子器件制造商通過(guò)檢測(cè)器件模塊內(nèi)由于熱量引起的老化降級(jí)來(lái)測(cè)試電力電子器件的可靠性。

　　功率循環(huán)測(cè)試和瞬態(tài)熱測(cè)試都可以在MicReD工業(yè)化1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行，并不需要將被測(cè)電力電子器件從測(cè)試環(huán)境中移出。技術(shù)人員和工程師能夠看到失效的發(fā)展過(guò)程，并確定確切的時(shí)間/循環(huán)次數(shù)以及原因。

　　可靠性是在使用大功率電力電子器件的諸多行業(yè)中最關(guān)注的問(wèn)題，因此，對(duì)于器件供應(yīng)商、系統(tǒng)供應(yīng)商和OEM廠商來(lái)說(shuō)，這些器件模塊通過(guò)壽命期內(nèi)功率循環(huán)次數(shù)的加速測(cè)試是必須的要求。

　　MicReD工業(yè)化1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備能夠驅(qū)動(dòng)模塊進(jìn)行數(shù)萬(wàn)甚至是數(shù)百萬(wàn)次功率循環(huán)，與此同時(shí)提供“實(shí)時(shí)的“失效發(fā)展過(guò)程的數(shù)據(jù)進(jìn)行診斷。這顯著減少了測(cè)試和實(shí)驗(yàn)室分析的時(shí)間，并且消除了事后分析或者破壞性失效分析的需求。1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備可以進(jìn)行”實(shí)時(shí)“分析常見(jiàn)的由于熱量引起的機(jī)械性失效包括：芯片焊接層、焊線的分離、芯片及封裝內(nèi)部材料的分層與破裂及焊接層的老化。

　　“它能夠準(zhǔn)確描述和量化所有半導(dǎo)體器件在熱量累積過(guò)程中的老化和降級(jí)，對(duì)于目前被封裝可靠性問(wèn)題所困擾的開(kāi)發(fā)人員而言，它對(duì)開(kāi)發(fā)高性?xún)r(jià)比封裝解決方案有很大幫助。”諾丁漢大學(xué)工程學(xué)院高級(jí)能源轉(zhuǎn)換教授Mark Johnson表示，”明導(dǎo)的1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備會(huì)成為研究各類(lèi)功率模塊中散熱路徑的退化降級(jí)的非常寶貴的工具。”

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備是基于Mentor Graphics® T3Ster®高級(jí)瞬態(tài)熱測(cè)試設(shè)備開(kāi)發(fā)而成的，后者在世界范圍內(nèi)被業(yè)內(nèi)用于半導(dǎo)體器件封裝和LED的精確熱特性測(cè)量。1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備是MicReD工業(yè)化產(chǎn)品線的首款產(chǎn)品，提供對(duì)電力電子器件的全自動(dòng)功率循環(huán)和測(cè)試(包括熱特性和電氣特性測(cè)量)，為器件失效原因的評(píng)估提供全面的數(shù)據(jù)。這能幫助企業(yè)進(jìn)行產(chǎn)品改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)高的可靠性和更高的性能。

　　MicReD工業(yè)化產(chǎn)品將具有實(shí)驗(yàn)室級(jí)精度的T3Ster產(chǎn)品嵌入性能強(qiáng)大的機(jī)器，使操作者可以在制造工廠內(nèi)使用。

　　“我們MicReD1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備可以很好地服務(wù)于那些工作在極端工況下并具有很高可靠性的電力電子器件,”Mentor Graphics Mechanical Analysis Division總經(jīng)理Roland Feldhinkel表示，“我們利用我們?cè)跓嵝詼y(cè)量和測(cè)試領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)經(jīng)驗(yàn)，為我們認(rèn)為有很大潛力的行業(yè)——從電動(dòng)汽車(chē)和鐵路系統(tǒng)、到可再生能源產(chǎn)品——開(kāi)發(fā)出了這款產(chǎn)品。”

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備能夠?qū)饘傺趸锇雽?dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)和功率二極管進(jìn)行功率循環(huán)測(cè)試。MicReD 1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備提供了用戶(hù)友好型觸摸屏界面，能在測(cè)試中記錄各種信息，如電流、電壓、芯片溫度測(cè)量等，并能提供詳細(xì)的結(jié)構(gòu)函數(shù)功能分析，以記錄封裝熱學(xué)結(jié)構(gòu)的變化。這使其成為封裝開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)前部件品質(zhì)檢查的理想平臺(tái)。

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備的主要優(yōu)勢(shì)

　　這款新的測(cè)試設(shè)備具有以下主要優(yōu)點(diǎn)：

　　連續(xù)的施加功率循環(huán)直至失效。這能節(jié)省時(shí)間，因?yàn)槠骷o(wú)需移走，到進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室分析，然后返回測(cè)試設(shè)備來(lái)進(jìn)行更多的功率循環(huán)。

　　實(shí)現(xiàn)多個(gè)被測(cè)電力電子器件同時(shí)測(cè)試。

　　操作中可采用不同的功率循環(huán)策略(穩(wěn)定的功率開(kāi)/關(guān)時(shí)間、穩(wěn)定的殼器件溫度變化、穩(wěn)定的結(jié)溫度上升)。

　　提供“實(shí)時(shí)”結(jié)構(gòu)函數(shù)診斷功能，以顯示失效發(fā)展過(guò)程、循環(huán)次數(shù)及失效原因。

　　避免在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行事后分析(X光、超聲波、視覺(jué))或破壞性失效分析。

　　可通過(guò)觸摸屏進(jìn)行設(shè)置和控制，專(zhuān)業(yè)人員和生產(chǎn)人員都能使用。