聯(lián)發(fā)科芯片設(shè)計 導(dǎo)入機(jī)器學(xué)習(xí)
聯(lián)發(fā)科長期投入前瞻領(lǐng)域研究,近期再傳突破性成果。聯(lián)發(fā)科宣布,將機(jī)器學(xué)習(xí)導(dǎo)入芯片設(shè)計,運(yùn)用強(qiáng)化學(xué)習(xí)(reinforcement learning)讓機(jī)器透過自我不斷探索和學(xué)習(xí),預(yù)測出芯片中最佳電路區(qū)塊的位置(location)與形狀(shape),將大幅縮短開發(fā)時間并建構(gòu)更強(qiáng)大性能的芯片,成為改變游戲規(guī)則的重大突破。
本文引用地址:http://2s4d.com/article/202210/439635.htm聯(lián)發(fā)科表示,該技術(shù)將于11月于臺灣舉辦的IEEE亞洲固態(tài)電路研討會A-SSCC(Asian Solid-State Circuits Conference)發(fā)表,同步也將申請國際專利。
聯(lián)發(fā)科指出,這項(xiàng)AI先進(jìn)技術(shù)注入了創(chuàng)新的算法,針對極復(fù)雜的芯片設(shè)計,決定出最佳的電路配置,除可決定區(qū)塊(block)最佳的位置,還能調(diào)整出最佳的形狀,將機(jī)器學(xué)習(xí)應(yīng)用在優(yōu)化設(shè)計、減少錯誤,協(xié)助工程師用更少的時間,產(chǎn)出更佳的成果。
聯(lián)發(fā)科芯片設(shè)計研發(fā)本部群資深副總蔡守仁表示,不論是企業(yè)界和學(xué)術(shù)界,近年鮮少有早期電路區(qū)塊布局的文獻(xiàn)研究。公司本次突破性的發(fā)展,將AI和EDA結(jié)合出機(jī)器優(yōu)化的電路區(qū)塊布局?jǐn)[放,協(xié)助研發(fā)人員提高效率并自動執(zhí)行優(yōu)化任務(wù)。
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