利用FPGA實現(xiàn)原型板原理圖的驗證
首次流片成功取決于整個系統(tǒng)硬件和相關(guān)軟件的驗證,有些公司提供的快速原型生成平臺具有許多調(diào)試功能,但這些平臺的價格非常高,因此最流行的做法是根據(jù)DUT和具體應(yīng)用設(shè)計復合FPGA板,驗證這些板的原理圖通常是很麻煩的,本文提出一種利用FPGA實現(xiàn)原型板原理圖驗證的新方法。
圖1:DUT由x86處理器、主橋(Host Bridge)、 |
由 于價格競爭越來越激烈,首次流片成功或只需少量的修改變得越來越重要。為了達到這一目標,對整個系統(tǒng)(即硬件和相關(guān)軟件)的驗證成為重中之重。業(yè)界也涌現(xiàn) 了許多策略來幫助設(shè)計師完成RTL上的軟件運行。這些策略提供了在最終硬件還在醞釀之時就開發(fā)軟件的一種途徑。這種措施也許還不夠,原因還有兩個:一是仿真系 統(tǒng)可能與實際系統(tǒng)有較大的區(qū)別,二是系統(tǒng)運行速度非常慢。因此可以考慮先將完整的設(shè)計映射到FPGA中,再運行目標應(yīng)用程序。這樣做可能達不到最終硅片的 常規(guī)指標,但可以測試整個硬件的功能,系統(tǒng)能夠得到全面的驗證,其中一些測試案例可能是在仿真中根本無法完成的。另外,可用于演示的完整系統(tǒng)原型在硅片成 功之前就可以很好地引起客戶的興趣。
有些公司提供的快速原型生成平臺具有許多調(diào)試功能。這些電路板平臺具有可編程的互連,可以將FPGA插接在上面,并將DUT(被測設(shè)計)映射進這些FPGA中。但這些平臺的價格非常高。因此最流行的做法還是根據(jù)DUT和具體應(yīng)用設(shè)計復合FPGA板。當然,這些板同樣也能用于測試目標應(yīng)用中的最終硅片。
驗 證這些板的原理圖通常是很麻煩的,因為原理圖中一些小錯誤會嚴重影響到設(shè)計進度。原理圖驗證工作是人工完成的,因此錯誤也就在所難免。如果能夠復用DUT 驗證環(huán)境驗證電路板原理圖,那么原理圖驗證就可以派上用場了。本文將討論如何通過編寫少量腳本和修改DUT驗證環(huán)境達到這一目的。
方法簡介
基 本想法是設(shè)法對原理圖進行仿真。這了做到這一點,先將原理圖網(wǎng)表轉(zhuǎn)換成Verilog網(wǎng)表。電路板上安裝的不同元件(如FPGA、處理器、PCI卡、 SDRAM等)要么用RTL代替,要么用RTL驗證過程中使用的行為模型替代。值得注意的是,我們已假設(shè)整個設(shè)計的Verilog/VHDL代碼是現(xiàn)成 的。至于電路板上需要用于測試DUT的處理器、SDRAM、PCI器件等其它元件,也假設(shè)已經(jīng)存在相應(yīng)的BFM(總線功能模型)/模型。由于這一階段是在 功能驗證之后,而這些元件需要用來測試DUT,并模擬整個系統(tǒng),因此它們的等效行為模型應(yīng)該在功能驗證中已經(jīng)得到使用,現(xiàn)在只是重復使用罷了,即經(jīng)過少許 的努力就能使用相同的環(huán)境和測試案例。
上述概念經(jīng)過拓展就可以驗證硅片生成板的原理圖,基本的假設(shè)是設(shè)計團隊擁有硅片的 HDL描述。這才是要點所在。對于FPGA板,可以通過某種變通的方法配置FPGA引腳來克服由于原理圖中的錯誤連接導致的問題,即設(shè)計師可以管理并解決 這些錯誤。但對于準備用來測試最終硅片的板子來說幾乎是不可能的。
生成Verilog網(wǎng)表
圖2:包含x86處理器芯片、2個FPGA、 |
可以用好幾種原理圖輸入工具生成Verilog網(wǎng)表?;谝韵聨追N限制原因,這種網(wǎng)表實際上是不能使用的:
1.它將板上的每個元件都看作是一個模塊,因此生成的Verilog文件中包含所有元件的實例,如FPGA、電容、上拉電阻或晶振,而不管這些元件能否在Verilog中建模。其中有些元件(如串接電阻、去耦電容)可以簡單地從網(wǎng)表中刪除。
2. 原理圖中的總線通常被連接到符號上的一個個引腳,而在Verilog模塊中總線可能只有一個端口。因此可能沒有一對一的對應(yīng)關(guān)系。例如在Verilog模 塊中一個四位輸出地址總線將被聲明為:output [3:0] Address;但原理圖中所有這四個引腳是被獨立聲明的。這樣會導致原理圖中使用的符號的引腳輸出與Verilog模塊中相應(yīng)符號的可用功能不兼容。
因此,設(shè)計師需要編寫一個簡單的腳本,要么修改這個Verilog網(wǎng)表,要么根據(jù)原理圖輸入工具支持的其它格式創(chuàng)建一個新的網(wǎng)表。目的是刪除電阻、電容、電感等模擬元件,或用等效的Verilog代碼替換它們。
為了更好地實現(xiàn)這一目的,可以利用對模擬元件的命名慣例,或?qū)⑺鼈兌x在一個文件中作為腳本的輸入。例如,電阻可以被命名為R1、R23等,不遵循這個命名慣例的元件可以被定義在約束文件中,這樣腳本就可以將它們關(guān)聯(lián)到等效模型,或假定短路將它們從網(wǎng)表中去除。
一般來說,針對電路板上的不同元件可以采用以下一些慣例:
1. 元件的大多數(shù)電源引腳可以被忽略。
2. 通常電容都是用作去耦的,可以被簡單的忽略掉,因為這樣做并不會影響即將被仿真的其它數(shù)字元件之間的互連關(guān)系。
3. 電感也可以忽略,在仿真時用短路代替。
4. 電阻可以用Verilog的上拉/下拉或簡單的線按需要替換。
5. 晶振可以用Verilog庫中提供的時鐘模塊替換。
可以在約束文件中定義某些特殊情況,并作為腳本的輸入。可以為Verilog模塊編寫Wrappers以克服總線聲明問題。這種頂層Verilog網(wǎng)表可以代替DUT功能驗證中早已使用的頂層Verilog文件,并用于驗證環(huán)境中。
FPGA原型板網(wǎng)表的仿真
至此頂層Verilog文件中包含了原型板上除工具刪除的元件外的所有元件。設(shè)計師可以復用DUT功能驗證使用的已有仿真環(huán)境。這種方法的優(yōu)點在于,可以復用相同的測試向量和驗證環(huán)境驗證原理圖。
任 何驗證環(huán)境的基本原理都是一樣的,即為DUT提供某種形式的測試向量,然后對測試結(jié)果與期望值進行比較。根據(jù)設(shè)計的復雜性有多種達成的方式。通過下面這個 非常簡單的例子就很好理解了。例子是一個基于x86處理器的SOC。為了簡單起見,我們只考慮圖1所示SOC中的少量重要元件。DUT由x86處理器、主 橋(Host Bridge)、SDRAM控制器和PCI橋組成。在驗證環(huán)境中,為了提高仿真速度,可以把x86處理器看作是一個BFM,同時提供某種PCI從模型。簡 單地說,x86 BFM具有某種形式的讀/寫命令,能產(chǎn)生總線周期,因此設(shè)計可以運行起來。
圖3:Verilog模塊創(chuàng)建wrapper |
如 圖2所示,主橋和SDRAM控制器被映射進FPGA1,PCI橋被映射時FPGA2。由腳本產(chǎn)生的頂層Verilog文件包含如圖2所示的所有元件。至此 就可以在驗證環(huán)境中方便地使用這個頂層Verilog文件,并附于相同的驗證測試向量。要注意的是還需要為各個Verilog模塊創(chuàng)建wrapper以匹 配元件的引腳。對于SDRAM和PCI槽道來說,可以使用與RTL驗證環(huán)境中使用的相同模型(即SDRAM模型和PCI主/從模型)。參考圖3,將 FPGA1作為案例進行說明。
由于只對環(huán)境作了少量修改,如在編譯列表中增加很少的Verilog文件(wrapper模 型),用新創(chuàng)建的文件替換頂層文件,因此可以對原理圖列表實施驗證。這些事情可以通過簡單的perl或shell腳本實現(xiàn)自動處理,整個任務(wù)將減少到僅指 定一些特殊選項,同時從命令行運行仿真。
如果有任何錯誤的連接,或某些連接被遺忘,那么仿真結(jié)果就會有相應(yīng)的提示。這種方法可以實現(xiàn)對與模擬元件的連接的部分測試,因為這部分元件有的從網(wǎng)表中刪除了,有的被等效行為模型所代替。然而,有些錯誤還是可以被檢出的。
硅片生成板網(wǎng)表的仿真
上 述方法同樣可以用來仿真設(shè)計用于測試最終硅片的電路板的網(wǎng)表。這種方法更適用于對這些板的驗證,因為正常情況下制造出來的許多板其芯片的并行測試都是可以 完成的。此外,通過某種途徑配置FPGA引腳可以消除基于FPGA的板上的錯誤。下面繼續(xù)以上文的例子說明如何將同一概念應(yīng)用到硅片生成板上。
如 圖1所示,硅片等效于DUT。根據(jù)相同的流程創(chuàng)建一個Verilog網(wǎng)表,這個網(wǎng)表將DUT看作是板上的一個芯片和其它外圍設(shè)備。這是在驗證環(huán)境中必須使 用的頂層文件?,F(xiàn)在我們已經(jīng)有了DUT的完整Verilog描述,因此只需要創(chuàng)建圖4所示的Verilog wrapper,讓引腳輸出與電路板上的芯片相匹配。
綜上所述,這個網(wǎng)表是可以利用以前使用的同一測試向量進行操作的。
本文小結(jié)
這 種方法已經(jīng)過測試,目前正用于原理圖的驗證。該方法為原理圖驗證增加了新的方案。原型/生成板的原理圖的驗證和錯誤檢測可以在極易產(chǎn)生嚴重問題并影響設(shè)計 周期的早期階段進行。另外,驗證無需額外的開銷,因為這種方法基于的是業(yè)界常說的‘復用’原理,在本案例中復用的是測試向量和驗證環(huán)境。
圖4:Verilog wrapper讓引腳輸出 |
參考文獻:
* Protel98 - Designers Handbook, Protel.
* Thomas Moorby's, The Verilog Hardware Description Language, Third Edition, Kluwer Academic Publishers.
* Ellie Quigley, PERL by Example, Pentice Hall PTR.
* John R. Levine et al, Lex Yacc: O'Reilly Associates, 2nd edition October 1992.
* Brian W. Kernighan, Dennis M. Ritchie, The C Programming Language, Second Edition, Prentice Hall Of India Pvt Ltd.
* OrCAD Capture 7.20 Design Tutorial, OrCAD.
術(shù)語
DUT-被測設(shè)計
BFM-總線功能模型
RTL-寄存器轉(zhuǎn)移級
SOC-系統(tǒng)級芯片
HDL-硬件描述語言
FPGA-現(xiàn)場可編程門陣列
PCI-外圍設(shè)備互連
作者:Kapil Batra
高級工程師
STMicroelectronics Pvt. Ltd.
Mahesh Chandra
項目經(jīng)理
STMicroelectronics Pvt. Ltd.
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