DDR測試系列之一――力科DDR2測試解決方案

圖9 使用QPHY-DDR2對DDR2讀/寫信號繪制眼圖

DDR2測試示波器及探頭選型

關(guān)于示波器選擇方面，最低配置情況下可選擇帶寬2.5GHz的示波器進行測試，如選擇力科SDA725Zi示波器結(jié)合QPHY-DDR2一致性測試軟件包對DDR2總線進行測試。然而，對在頻率較高的1066M DDR2測試時，由于其時鐘頻率為533MHz，對應的五次諧波、頻率為2.67GHz，已經(jīng)高于2.5GHz，為了捕獲到其5次甚至更高次諧波成分，需要選擇更高帶寬的示波器。所以，對DDR2總線的測量，我們推薦使用帶寬3.5G及以上的示波器進行測量，如帶寬3.5GHz的力科SDA735Zi/740Zi/760Zi或帶寬覆蓋從4GHz到業(yè)界最高的30GHz的力科8Zi系列示波器。

對于探頭系統(tǒng)，在進行DDR2時鐘測試時，僅需要一根足夠帶寬的差分探頭即可。在進行電氣性能及時序測試時，使用兩根差分探頭分別測量差分時鐘及DQS/DQS#信號，一根單端探頭測量相應的DQ信號即可完成大部分的指標測量。 對于DDR533的DQ信號測試，建議用焊接式差分探頭。 在進行某些差分信號交叉點電壓等指標測量時需要使用兩根探頭分別測量該差分信號的正端及負端信號。對具體的探頭型號，推薦使用帶寬3.5GH或6GHz的力科WaveLink D320/D310或D610/D620系列可焊接式差分探頭。

結(jié)語：本文簡要介紹了DDR2總線，DDR2相關(guān)測試以及力科的DDR2全方位測試解決方案。力科QPHY-DDR2從信號連接，DDR2總線全面測試到測試報告生成各方面進行了完美的集成，為復雜的DDR2測試提供了最佳的測試環(huán)境，從而保證了DDR2測試的精確性與高效率。

參考文獻

1． DDR2 SDRAM SPECIFICATION JESD79-2E，JEDEC, April 2008

2. QPHY-DDR2 datasheet, LeCroy Corp. July 2009