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串聯(lián)電感--連接器產(chǎn)生電磁干擾原理分析

作者: 時間:2012-03-01 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

是由大環(huán)路中的信號電流引起的。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/190711.htm

圖9.6舉例說明了一個普通的問題。一個64位總線從板卡A經(jīng)過B連到母板卡上,母板卡可能是一個主CPU卡或是一個通往其他子卡的無源通道。64條信號線的返回電流從母板卡C流回板卡A,其中的絕大部分通過了B的接地腳。

只有一小部分信號返回電流經(jīng)由不同的路徑流回板卡A然而,正是這一小部分返回電流引起了大量的EMI問題。

高頻電流流經(jīng)大的環(huán)路時會輻射出大量的電磁能量,這將不能通過FCC或VDE所規(guī)定的輻射測試。EMI設(shè)計的主要工作是使所有信號的電流環(huán)路橫截面的面積最小。例如,在一個完整地平面上,高頻電流趨向于緊貼走線正下方返回,一條6IN長,距離地平面0.010IN的走線所圍起來環(huán)路面積僅僅為0.006IN的2次方。這么大的環(huán)路面積,在EMI方面是可以接受的。在圖9.6中,板卡A和C上的64位總線信號由完整地平面返回,因此我們可以忽略其信號和地之間的環(huán)路面積。

返回電流路徑上的任何阻斷或不連續(xù),如接地引腳上的轉(zhuǎn)換,會在電流環(huán)路上產(chǎn)生“氣泡”,這些氣泡是否會帶來足夠大的面積,從而導(dǎo)致輻射超標(biāo),取決于回路中信號電流的總DI/DT值。

在圖9.6中,環(huán)路面積上的氣泡一般發(fā)生在連接器B內(nèi),因為連接器上的信號和地線引腳是分開的。該氣泡記為G1,64位總線信號路徑的環(huán)路電感大部分來自環(huán)路G1的電感。

信號返回電流是否有其他的返回路徑,取決于連接器B的物理結(jié)構(gòu),以及板卡A和C所在的機(jī)箱結(jié)構(gòu)的具體情況。任何電流在返回位于板卡A上的源端時,如果不經(jīng)過連接器B,則將包含一個大的環(huán)路面積,并產(chǎn)生大量的輻射。

例如,在圖9.7中,假設(shè)板卡A和C共用兩個連接器,另外增加的連接器記為D,將其安排在與連接器B相隔一段距離的地方?,F(xiàn)在有一部分信號的返回電流可以由連接器D上的地線流加A,如圖9.7中的環(huán)路G2所示。

調(diào)整信號返回電流通過連接器D的比例,取決于環(huán)路G1的電感(見圖9.6)與G2(見圖9.7)的電感的比值:

(式5)

在非常低的頻率上,流經(jīng)連接器D的信號返回電流的量取決于阻抗的比值,而在較高的頻率上,則取決于上式中電感的比值。即然EMI是一個高頻問題,這里我們也就只關(guān)心兩個環(huán)路電感的比值。

因為環(huán)路G1面積較小,其電感也比G2要小一些,因此只有一小部分的返回信號電流經(jīng)過路徑G2。但是,即便如此小的一部分電流也足以使輻射超標(biāo)。在30MHZ以上,在距設(shè)備3M遠(yuǎn)處進(jìn)行測試,F(xiàn)CC和VDE的輻射限制都大致為100UV/M。關(guān)于輻射標(biāo)準(zhǔn)的更多細(xì)節(jié)以及防止電磁輻射的設(shè)計技術(shù),可以參考OTT,MARDIGUIAN和KEISER等人的論著。

要想精確計算一個數(shù)字產(chǎn)品的輻射強(qiáng)度等級是件不現(xiàn)實的事情,因為有太多的因素會影響結(jié)果。下式表示了一個簡單的約束條件:開放的測量試驗場合,30MHZ以上,滿足FCC和VDE輻射限制的環(huán)路面積、峰值電流和上升時間。

(式6)


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