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論壇
科利登
科利登新聘資深專家 加強公司領導團隊力量
消費電子
消費電子
科利登
消費電子
|
2007-08-22
科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
測試測量
測試
測量
科利登
D-6432DFT
測試測量
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2007-07-18
科利登在IC China2006上展出SapphireD-10
EDA/PCB
2006
China
D-10
IC
Sapphire
測試測量
封裝測試
科利登
封裝
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2006-09-08
科利登推兩款端對端6.4Gbps高速芯片
測試測量
6.4Gbps
高速芯片
科利登
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2006-02-14
科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award
測試測量
Award
Best
in
Test
測試與測量世界
科利登
測試測量
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2006-01-20
科利登任命新任董事會執(zhí)行主席
科利登
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2005-12-16
科利登3.2Gbps設備用于高速串行總線
測試測量
科利登
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2005-11-15
科利登為威盛安裝首套分析實驗室
EDA/PCB
科利登
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2005-11-09
科利登設備用于高速串行總線測試
測試測量
科利登
測試測量
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2005-11-08
科利登安裝完備失效分析實驗室
EDA/PCB
科利登
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2005-11-04
科利登的QBIX選件為Sapphire測試平臺應用
測試測量
科利登
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2005-09-01
科利登在IC China 2005展出高量產(chǎn)測試系統(tǒng)
測試測量
科利登
測試測量
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2005-08-23
科利登和Cadence合作驗證加快良率診斷的新流程
EDA/PCB
科利登
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2005-08-05
強力整合 科利登與蔚華科技合并臺灣業(yè)務
測試測量
科利登
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2005-06-07
科利登任命David A. Ranhoff為首席執(zhí)行官
科利登
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2004-11-25
科利登GlobalScan-I解決系統(tǒng)定位復雜設計和成品率問題
測試測量
科利登
嵌入式
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2004-11-25
科利登任命David A. Ranhoff為首席執(zhí)行官
測試測量
科利登
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2004-11-25
新型科利登GlobalScan-I系統(tǒng)定位復雜設計和成品率問題
測試測量
科利登
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2004-11-25
科利登任命David A. Ranhoff為首席執(zhí)行官，繼續(xù)執(zhí)行經(jīng)營策略
消費電子
科利登
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2004-11-25
ELMOS 購買多臺科利登Piranha™系統(tǒng)用于汽車用器件測試
測試測量
科利登
測試測量
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2004-10-20
科利登Piranha汽車用器件測試系統(tǒng)再獲定單
測試測量
科利登
測試測量
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2004-10-08
科利登Sapphire NP 系統(tǒng)進入亞洲測試工廠
測試測量
科利登
測試測量
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2004-09-11
科利登在VLSI關于測試與材料加工設備公司的用戶滿意度調(diào)查中處于一流地位
測試測量
科利登
測試測量
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2004-06-29
科利登加入PCI-SIG和HyperTransport組織
測試測量
科利登
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2004-03-30
日月光定購多臺科利登的SoC測試系統(tǒng)Octet
EDA/PCB
科利登
SoC
ASIC
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2003-11-26
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