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看高度集成的 ADC 如何簡化現(xiàn)實世界信號的轉(zhuǎn)換

  • 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器就像一個小小的奇跡發(fā)生器，它將現(xiàn)實世界中的信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字表達，然后以高效且抗噪的方式傳輸、處理并存儲。這些轉(zhuǎn)換器花樣繁多，而且應(yīng)用范圍廣泛，從音頻處理到科學(xué)儀器，再到圖像掃描儀。本文將簡要介紹模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)，并探討如何利用 MDC91128 這樣的高度集成解決方案來改進要求快速、高分辨率成像的 X 射線掃描應(yīng)用。模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 可以將連續(xù)模擬輸入信號轉(zhuǎn)換為離散的數(shù)字信號，并以一序列 1 和 0 的形式進行傳送。這些輸入信號被量化為數(shù)字格式后，再進一步處理或傳
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KWIK電路常見問題解答

  • 常見問題解答：為15Msps 18位ADC設(shè)計輸入驅(qū)動器時應(yīng)該考慮哪些因素簡介ADC驅(qū)動器是數(shù)據(jù)采集信號鏈設(shè)計的關(guān)鍵構(gòu)建模塊。ADC驅(qū)動器用于執(zhí)行許多關(guān)鍵功能，如輸入信號幅度調(diào)整、單端至差分轉(zhuǎn)換、消除共模偏移，并經(jīng)常用于實現(xiàn)濾波。本技術(shù)訣竅與綜合知識(KWIK)電路常見問題解答(FAQ)筆記討論如何從單端輸入信號產(chǎn)生經(jīng)調(diào)整的差分輸出信號，并對信號進行電平轉(zhuǎn)換以確保其滿足ADC滿量程的性能需求。為了幫助回答這個常見問題，我們將使用LTC6228（一款低噪聲、低失真、高速軌到軌輸出運算放大器）和LTC2387
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新一代多路復(fù)用ADC如何簡化復(fù)雜系統(tǒng)設(shè)計

  • 本文介紹新一代多路復(fù)用模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)如何提供更多通道、更深入的信號鏈集成、靈活性和魯棒性優(yōu)勢，以簡化復(fù)雜系統(tǒng)設(shè)計，從而支持在先進工廠和生產(chǎn)設(shè)施中實現(xiàn)自動化和過程控制。在現(xiàn)代生產(chǎn)設(shè)施中，適當?shù)哪M前端(AFE)對于實現(xiàn)穩(wěn)定可靠、精密準確的模數(shù)轉(zhuǎn)換至關(guān)重要。由于不同系統(tǒng)和機器之間存在差異，通常情況下，可以使用可編程邏輯控制器(PLC)來控制許多復(fù)雜的參數(shù)。為此，將通過模擬輸入模塊來利用不同的傳感器和信號。許多傳感器（例如壓力、流量、溫度和稱重量傳感器）只能夠提供所測參數(shù)量的模擬輸出。因此，需要許多精密準
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伺服環(huán)路 ADC 測試簡介

  • A/D 轉(zhuǎn)換器 (ADC) 的靜態(tài)參數(shù)有助于了解直流或緩慢變化信號的器件行為。然而，為了確定靜態(tài)參數(shù)（包括失調(diào)和增益誤差、微分非線性(DNL) 和積分非線性(INL)），我們首先需要確定 ADC 的直流傳遞函數(shù)。伺服環(huán)路測試是確定 ADC 傳遞函數(shù)的經(jīng)典工業(yè)方法。A/D 轉(zhuǎn)換器 (ADC) 的靜態(tài)參數(shù)有助于了解直流或緩慢變化信號的器件行為。然而，為了確定靜態(tài)參數(shù)（包括失調(diào)和增益誤差、微分非線性(DNL) 和積分非線性(INL)），我們首先需要確定 ADC 的直流傳遞函數(shù)。伺服環(huán)路測試是確定 ADC 傳遞函
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真雙極性輸入、全差分輸出ADC驅(qū)動器設(shè)計

  • 數(shù)據(jù)采集和通用測試測量設(shè)備中使用的精密信號鏈必須適應(yīng)寬廣的輸入電平范圍。信號鏈可能需要提供高輸入阻抗，同時支持增益和衰減，并調(diào)整共模電平以確保信號落在ADC的適當輸入范圍內(nèi)。數(shù)據(jù)采集和通用測試測量設(shè)備中使用的精密信號鏈必須適應(yīng)寬廣的輸入電平范圍。信號鏈可能需要提供高輸入阻抗，同時支持增益和衰減，并調(diào)整共模電平以確保信號落在ADC的適當輸入范圍內(nèi)。圖1中的原理圖顯示了兩級信號調(diào)理，它能調(diào)整差分雙極性±10 V輸入信號，并將其轉(zhuǎn)換為 ADC 所需的共模電平為 2.048 V的全差分±4.096 V信號。設(shè)計目
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ADC噪聲：從何而來？

  • 我們已經(jīng)看到了交錯帶來的優(yōu)勢以及所有不錯的速度和帶寬帶來的一些缺點?，F(xiàn)在讓我們繼續(xù)討論幾個讀者在不同點上評論過的另一個話題。我們已經(jīng)看到了交錯帶來的優(yōu)勢以及所有不錯的速度和帶寬帶來的一些缺點?，F(xiàn)在讓我們繼續(xù)討論幾個讀者在不同點上評論過的另一個話題。這個問題圍繞著ADC的噪聲貢獻因素。在評估ADC的噪聲時，我們需要考慮哪些事項？噪聲可以通過多種方式進入ADC。在接下來的幾篇博客中，我們將介紹噪聲進入ADC的所有門口，并可能出現(xiàn)在輸出數(shù)據(jù)的FFT中。首先，我們將從確定門口開始。在考慮ADC中的噪聲時，幾乎可以
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工業(yè)應(yīng)用中的 ADC 基礎(chǔ)知識

  • 確定特定高精度工業(yè)應(yīng)用中采用哪種 ADC，這需要一定程度的專業(yè)知識，以確保最為相關(guān)的因素不被忽視，并實現(xiàn)設(shè)計的性能目標。 圖1: 模數(shù)轉(zhuǎn)換為高精度工業(yè)應(yīng)用選擇 ADC 時需要考慮的因素分辨率：分辨率是用于將輸入模擬信號表示為數(shù)字值的比特位數(shù)。它很大程度上取決于應(yīng)用需求和所需的精度水平。具有較高分辨率的 ADC 將生成更精確可靠的測量結(jié)果。N 位轉(zhuǎn)換器的分辨率為 100/2N %。例如，一個 12 位轉(zhuǎn)換器具有 2^12 個不同的級別或 0.0244% 的分辨率。然而，現(xiàn)實世界中的 ADC 并非理
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在通信系統(tǒng)應(yīng)用中使用抖動改進 ADC SFDR

  • 我們討論了如何使用抖動來通過打破量化誤差和輸入信號之間的統(tǒng)計相關(guān)性來提高理想量化器的性能。所謂理想，是指 ADC 傳遞函數(shù)具有統(tǒng)一的階躍。換句話說，理想的 ADC 具有零 DNL 誤差。這種抖動應(yīng)用在需要高SFDR 的無線電接收器中尤為重要。我們討論了如何使用抖動來通過打破量化誤差和輸入信號之間的統(tǒng)計相關(guān)性來提高理想量化器的性能。所謂理想，是指 ADC 傳遞函數(shù)具有統(tǒng)一的階躍。換句話說，理想的 ADC 具有零 DNL 誤差。這種抖動應(yīng)用在需要高SFDR 的無線電接收器中尤為重要。在本文中，我們將討論抖動的
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抗混疊濾波器：將采樣理論應(yīng)用于 ADC 設(shè)計

  • 到目前為止，我們已經(jīng)探討了奈奎斯特-香農(nóng)定理的理論基礎(chǔ)，包括頻域?qū)Σ蓸拥挠绊?。然后我們談到了這些基本原則如何應(yīng)用于現(xiàn)實生活中的電路設(shè)計——具體來說，解決了 現(xiàn)實生活中混合信號系統(tǒng)中過采樣的重要性。到目前為止，我們已經(jīng)探討了奈奎斯特-香農(nóng)定理的理論基礎(chǔ)，包括頻域?qū)Σ蓸拥挠绊?。然后我們談到了這些基本原則如何應(yīng)用于現(xiàn)實生活中的電路設(shè)計——具體來說，解決了 現(xiàn)實生活中混合信號系統(tǒng)中過采樣的重要性。在整個系列中，我使用的采樣定理版本指出，當采樣率等于或大于原始信號中頻率的兩倍時，完美重建是可能的
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高精度混合集成電路直方圖測試討論*

  • 推演了模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的直方圖測試方法，主要推導(dǎo)ADC的主要靜態(tài)參數(shù)。通過以傳統(tǒng)定義法測試和直方圖法測試進行ATE測試對比。選取AD7656型號通過以ADVANTEST T2000為平臺進行直方圖測試，和以ADVANTEST T6575為平臺進行傳統(tǒng)定義法測試，對比四項參數(shù)測試數(shù)據(jù)，并對兩種算法測試優(yōu)劣進行比對。
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單片機ADC常用的十大濾波算法（C語言）

  • 一、限幅濾波法1、方法：根據(jù)經(jīng)驗判斷兩次采樣允許的最大偏差值（設(shè)為A）每次檢測到新值時判斷：a.?如果本次值與上次值之差<=A，則本次值有效b.?如果本次值與上次值之差>A，則本次值無效，放棄本次值，用上次值代替本次值2、優(yōu)點：能有效克服因偶然因素引起的脈沖干擾3、缺點無法抑制那種周期性的干擾平滑度差/*?A值根據(jù)實際調(diào)，Value有效值，new_Value當前采樣值，程序返回有效的實際值?*/#define?A?10char&nbs
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ADC參數(shù)如何以及為何變化的四個影響因素

  • 影響ADC性能的第一個挑戰(zhàn)是集成。MCU將緊挨著設(shè)計完美的ADC?？焖匍_關(guān)MCU會將開關(guān)噪聲和接地反彈引入ADC電路。向任何有經(jīng)驗的模擬設(shè)計師詢問影響板級模擬性能的電路布局問題，他會告訴你任何莎士比亞戲劇相媲美的悲劇故事?，F(xiàn)在想象一下，電路板尺寸減小到IC的面積，問題變得難以解決。時鐘同步和管理技術(shù)可用于將這些影響降至最低，但外設(shè)和異步事件的相互作用仍會影響ADC性能。在我們的 例子 中， 客戶 將 12 位 分辨 ADC 與 MCU 集成 用于 其 測試 系統(tǒng)，
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在高速 ADC 中增加 SFDR 的局限性

  • 我們還將了解 ADC 中 SFDR 和SNR（信噪比）之間的一般權(quán)衡，并為以后有關(guān)應(yīng)用抖動技術(shù)改善 ADC SFDR 的有趣討論奠定基礎(chǔ)。抖動是一種有意向 ADC 輸入添加適當噪聲分量以改善 AD 轉(zhuǎn)換系統(tǒng)某些性能方面的技術(shù)。認為添加噪聲可以改善 SFDR 這聽起來很神奇。我們還將了解 ADC 中 SFDR 和SNR（信噪比）之間的一般權(quán)衡，并為以后有關(guān)應(yīng)用抖動技術(shù)改善 ADC SFDR 的有趣討論奠定基礎(chǔ)。抖動是一種有意向 ADC 輸入添加適當噪聲分量以改善 AD 轉(zhuǎn)換系統(tǒng)某些性能方面的技術(shù)。認為添加噪
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如何組合使用低通濾波器和ADC驅(qū)動器獲取20V p-p信號

  • 問題：為何要組合使用低通濾波器(LPF)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)驅(qū)動器？?答案：為了減小模擬信號鏈的尺寸，降低其成本，并提供ADC抗混疊保護（ADC采樣頻率周圍頻段中的ADC輸入信號不受數(shù)字濾波器保護，必須由模擬低通濾波器(LPF)進行衰減）。20 V p-p LPF驅(qū)動器一般用于工業(yè)、科技和醫(yī)療(ISM)設(shè)備中，該設(shè)備必須使用具有更低滿量程輸入的高速ADC對傳統(tǒng)的20 V p-p信號范圍進行數(shù)字化處理。?簡介通過驅(qū)動ADC實現(xiàn)優(yōu)化的混合信號性能，這是一大設(shè)計挑戰(zhàn)。圖1所示為標準的驅(qū)動器
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ADC的輸出處理

  • 雖然很多轉(zhuǎn)換器具有三態(tài)輸出/輸入，但這些寄存器仍然在芯片上。它們使數(shù)據(jù)引腳信號能夠耦合到敏感區(qū)域，因而隔離緩沖區(qū)依然是一種良好的設(shè)計方式。雖然很多轉(zhuǎn)換器具有三態(tài)輸出/輸入，但這些寄存器仍然在芯片上。它們使數(shù)據(jù)引腳信號能夠耦合到敏感區(qū)域，因而隔離緩沖區(qū)依然是一種良好的設(shè)計方式。某些情況下，甚至需要在模擬接地層上緊靠轉(zhuǎn)換器輸出提供額外的數(shù)據(jù)緩沖器，以提供更好的隔離。將數(shù)據(jù)緩沖器放置在轉(zhuǎn)換器旁不失為好辦法，可將數(shù)字輸出與數(shù)據(jù)總線噪聲隔離開(如圖 1 所示)。數(shù)據(jù)緩沖器也有助于將轉(zhuǎn)換器數(shù)字輸出上的負載降至，同時提
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