測試文章進(jìn)入測試技術(shù)社區(qū)

RF測試技術(shù)新發(fā)展方向

頻譜趨勢無線通信的市場需求持續(xù)加速，同時(shí)伴隨著向數(shù)據(jù)應(yīng)用的轉(zhuǎn)移，比如短信息、網(wǎng)絡(luò)瀏覽和GPS等應(yīng)用。這些應(yīng)用需要更高的數(shù)據(jù)傳輸率來實(shí)現(xiàn)更佳的用戶體驗(yàn)，這需要在有限的頻譜上采用新的傳輸方式。一些相當(dāng)有效率的
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射頻標(biāo)識(shí)RFID測試

隨著閱讀器與標(biāo)簽價(jià)格的降低和全球市場的擴(kuò)大，射頻標(biāo)識(shí)RFID（以下簡稱RFID）的應(yīng)用與日俱增。標(biāo)簽既可由閱讀器供電（無源標(biāo)簽），也可以由標(biāo)簽的板上電源供電（半有源標(biāo)簽和有源標(biāo)簽）。由于亞微型無源CMOS標(biāo)簽的成
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Multitest推出MT9928振動(dòng)盤上料模塊深受歡迎

Multitest日前宣布推出適于MT9928 xm重力式測試分選機(jī)的新型振動(dòng)盤上料模塊。該模塊針對(duì)MLF2和SOT等最小元件的溫度測試提供了一流解決方案。雖然Turret是傳統(tǒng)的分選解決方案，但在高溫或低溫條件下需要精確溫度測試時(shí)，該方案并不適用。
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采用LTE數(shù)據(jù)包交換實(shí)現(xiàn)語音傳輸功能和測試策略

1 引言2009年，第一個(gè)商用LTE網(wǎng)絡(luò)在瑞典投入運(yùn)營。緊接著，全球18個(gè)國家共26個(gè)網(wǎng)絡(luò)提供商用LTE服務(wù)（含美國、亞洲和歐洲）。這種新LTE技術(shù)的數(shù)據(jù)傳輸率可高達(dá)100Mbit/s。盡管其實(shí)際可達(dá)數(shù)據(jù)傳輸率遠(yuǎn)低于理想條件下的
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NI發(fā)布全新PXI機(jī)箱拓展領(lǐng)先地位

新聞要點(diǎn) The NI PXIe-1066DC機(jī)箱基于PXI出眾的系統(tǒng)生命周期和靈活性，是已部署、嚴(yán)格任務(wù)級(jí)應(yīng)用的理想選擇。在全新的機(jī)箱中，NI為PXI平臺(tái)系列增加了冗余、熱插拔和前端接入功能，顯著增加了系統(tǒng)的正常運(yùn)行時(shí)間。
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通過軟件無線電的架構(gòu)加速無線技術(shù)的開發(fā)與測試

概覽如今的無線通信領(lǐng)域可謂是“百花齊放，百家爭鳴”，層出不窮的無線通信標(biāo)準(zhǔn)令人眼花繚亂；同時(shí)，現(xiàn)代的電子產(chǎn)品往往又集成了多種不同的無線標(biāo)準(zhǔn)。這些都給射頻設(shè)計(jì)和測試的工程師帶來了前所未有的挑戰(zhàn)
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NI RF平臺(tái)為測試應(yīng)用所提供的優(yōu)勢

概述NI 提供了高速、靈活、精確的RF硬件，并搭配功能強(qiáng)大的NI LabVIEW軟件，以適應(yīng)無線通信領(lǐng)域日新月異的需求，并且貫穿了從設(shè)計(jì)、驗(yàn)證到生產(chǎn)的所有工程設(shè)計(jì)階段。為了能滿足不斷發(fā)展的通訊標(biāo)準(zhǔn)，LabVIEW圖形化設(shè)計(jì)
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泛華參加國防電子展眾多新品展現(xiàn)技術(shù)實(shí)力

近日，第八屆中國國際國防電子展覽會(huì)在京順利舉行，致力于為各行業(yè)用戶提供專業(yè)測試測量解決方案和成套檢測設(shè)備的北京泛華恒興科技有限公司攜眾多應(yīng)用于國防軍工領(lǐng)域的新品參加了此次盛會(huì)。
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泛華恒興舉行“技術(shù)融合革新應(yīng)用”國防軍工新品發(fā)布會(huì)

5月18日，北京泛華恒興科技有限公司(簡稱：泛華恒興)舉行了以“技術(shù)融合革新應(yīng)用”為主題的國防軍工新品發(fā)布會(huì)。泛華恒興總經(jīng)理高向東先生、泛華恒興技術(shù)市場工程師，以及十余家業(yè)內(nèi)媒體出席了會(huì)議。
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基于軟件無線電架構(gòu)加速無線開發(fā)測試

如今的無線通信領(lǐng)域可謂是“百花齊放，百家爭鳴”，層出不窮的無線通信標(biāo)準(zhǔn)令人眼花繚亂；同時(shí)，現(xiàn)代的電子產(chǎn)品往往又集成了多種不同的無線標(biāo)準(zhǔn)。這些都給射頻設(shè)計(jì)和測試的工程師帶來了前所未有的挑戰(zhàn)，如
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單片機(jī)實(shí)驗(yàn)開發(fā)板測試程序詳解

單片機(jī)實(shí)驗(yàn)開發(fā)板測試程序詳解,　　通常我們網(wǎng)站提供的試驗(yàn)開發(fā)板是焊接并測試好的成品板，如果是購買套件的網(wǎng)友，可以開始51單片機(jī)實(shí)驗(yàn)板的一系列安裝與實(shí)驗(yàn)，網(wǎng)友郵購的實(shí)驗(yàn)板套件包含以下的元件清單，收到貨物后請(qǐng)仔細(xì)核對(duì)一下元件清單：　　AT
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某探測器測試與信號(hào)處理系統(tǒng)的PCM信息采集

1 引言　　信息采集主要包括信號(hào)和數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)、處理和控制。它首先對(duì)被測對(duì)象的溫度、壓力、流量、位移、角度、電壓等物理模擬量進(jìn)行采集、記錄，并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，然后再進(jìn)一步進(jìn)行變換、存儲(chǔ)、處理、記錄
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低功耗器件的“設(shè)計(jì)時(shí)測試”方法

在65nm制造工藝條件下，依靠電池供電的器件正在大量出現(xiàn)。這種先進(jìn)的工藝技術(shù)使得新器件較前代工藝的同類器件具有很多改進(jìn)。采用65nm工藝之后，設(shè)計(jì)人員可以在一塊單獨(dú)的裸片上集成遠(yuǎn)多于過去的晶體管，還可以在器件
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用于測試微型高集成元器件的平臺(tái)方案

用于測試微型高集成元器件的平臺(tái)方案,能夠?qū)μ幵谏a(chǎn)階段的醫(yī)療設(shè)備進(jìn)行測試的測試平臺(tái)，有助于公司管理電子元器件的成本、接入和覆蓋范圍。不管各家公司有沒有在產(chǎn)品開發(fā)階段對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行診斷，也不管它們?cè)谏a(chǎn)過程中有沒有確保產(chǎn)品質(zhì)量，但它們都免不了
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低成本多模LTE智能手機(jī)在Cell間移動(dòng)連接測試設(shè)計(jì)

下一代LTE 移動(dòng)通訊產(chǎn)品有望成為新的全球標(biāo)準(zhǔn)。但是，因?yàn)樵诔跏茧A段LTE 的服務(wù)范圍有限，所以LTE 智能手機(jī)還必須支持其他現(xiàn)有的2G 和3G 通訊技術(shù)，例如W-CDMA、GSM、CDMA2000 等。因此，在LTE 和2G/3G 移動(dòng)系統(tǒng)之間
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測試介紹

　　中文名稱：　　測試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]