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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試

測試 文章 最新資訊

高速AD測試中的難點

  • 高精度ADC的采樣率不高，測試關(guān)鍵是要有高精度的信號源。而高速ADC測試是一項更具挑戰(zhàn)性的工作，其中采樣時鐘的Jitter和高速數(shù)字接口是兩個必須面對的難題。
    采樣時鐘的Jitter（抖動）問題
    隨著輸入信號和采樣頻率
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TD-SCDMA 3G網(wǎng)絡測試保障解決方案

  • TD-SCDMA系統(tǒng)是一種新型的第三代移動通信網(wǎng)絡系統(tǒng)，它在提供了高質(zhì)量的語音業(yè)務的同時，提供高達2Mbps速率的分組數(shù)據(jù)業(yè)務及其它多媒體業(yè)務。目前，TD-SCDMA正在全球部署，在TD-SCDMA系統(tǒng)的產(chǎn)業(yè)化過程中，包含有TD-SC
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淺析GSM上層協(xié)議及其在測試中的應用

  • 摘要介紹了GSM上層協(xié)議中各個層的主要功能和GSM射頻指標的測試方法，包括發(fā)射機相位誤差和頻率誤差測試，發(fā)射機載波峰值功率與突發(fā)脈沖定時測試，接收機參考靈敏度測試。關(guān)鍵詞GSM上層協(xié)議發(fā)射機測試　接收機測試1、
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電磁兼容EMC設計及測試技巧

  • 當前，日益惡化的電磁環(huán)境，使我們逐漸關(guān)注設備的工作環(huán)境，日益關(guān)注電磁環(huán)境對電子設備的影響，從設計開始，融入電磁兼容設計，使電子設備更可靠的工作。電磁兼容設計主要包含浪涌（沖擊）抗擾度、振鈴波浪涌抗擾度
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基于單片機的高速信號測試接口板的實現(xiàn)

  • 在數(shù)字電路設計和調(diào)試中，對設計單元電路的性能進行實時測試是必不可少的環(huán)節(jié)。很多情況下，需要通過計算機的比較和分析，來測試設計的電路的性能是否達到要求。這就需要設計一個測試接口板，將計算機產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)
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TD-SCDMA射頻測試總結(jié)（三）

  • 　本期將簡要介紹有關(guān)頻譜方面的測試——占用帶寬?！　《x:占用帶寬是指以指定信道的中心頻率為中心，包含總發(fā)射功率99%能量時所對應的頻帶寬度?！　y試目的:驗證UE的占用帶寬是否符合指標要求，避免超
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TD-SCDMA射頻測試總結(jié)（二）

  • 本期總結(jié)將介紹TD終端產(chǎn)品發(fā)射機特性測試——上行功率控制。根據(jù)3GPP TS34.122標準規(guī)定，UE上行功率控制分為上行開環(huán)功率控制和上行閉環(huán)功率控制?，F(xiàn)具體談談相關(guān)內(nèi)容?！　∫?、 功率控制的主要目的：
    　
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TD-SCDMA射頻測試總結(jié)（一）

  • TD－SCDMA終端一致性測試包括射頻指標測試（參考標準：3GPPTS34.122），協(xié)議信令測試（參考標準：3GPPTS34.123）和其他測試（參考標準：3GPPTS31.120）三類測試。

    　　其中射頻指標測試分為“發(fā)射機特性測試
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EMC測試與連接器、電纜方法

  • EMC測試從連接器電纜開始，EMC測試是衡量電子產(chǎn)品EMC性能優(yōu)劣的首要依據(jù)，各種標準不但規(guī)定了各類電子產(chǎn)品的測試等級，而且還規(guī)定了測試方法和手段。因此，EMC設計及FMC問題的分析必須建立在相關(guān)標準規(guī)定的EMC測試基
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集成軟硬件的數(shù)據(jù)采集平臺――Viper噴氣發(fā)動機測試

  • Author(s):
    Marios Christodoulou - SCITEK Consultants Ltd (英國)
    Jon Bates - SCITEK Consultants Ltd (英國)Industry:
    Aerospace/Avionics, ATE/InstrumentationProducts:
    Data Acquisition, Real-Time, Sof
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高效的測試確?？筛櫺院万炞C要求（下）

  • 基于需求的測試及其固有的需求可跟蹤性和驗證過程被普遍認為推廣企業(yè)標準的最佳實踐，如能力成熟度模型集成(CMMI)。CMMI是一個能夠為組織提供有效過程關(guān)鍵元素的過程改進方法。它能夠用于引導一個項目、部門或整個組
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高效的測試確?？筛櫺院万炞C要求（上）

  • 集成汽車電子硬件和軟件測試的需求，可以是開發(fā)更為流暢，成本更為低廉。對要求可跟蹤性和驗證的需要像一個契約要求給汽車電子供應商施加著影響。隨著頻率的提高，廠商逐漸意識到以要求為基礎(chǔ)的測試通常是軟件開發(fā)工
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賽普拉斯EZ-USB FX3控制器 支持微軟USB 3.0測試平臺

  • 賽普拉斯半導體公司日前宣布微軟超高速USB測試工具 (SuperMUTT) 已經(jīng)選用了 EZ-USB FX3 USB 3.0 控制器。SuperMUTT 幾乎能夠與任何支持USB 3.0 的主機驅(qū)動器配合使用，以檢測與微軟即將發(fā)布的 Windows 8 的 USB兼容性。
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智能變電站的測試與評估

  • 智能變電站(含電廠升壓站及AGC)是智能電網(wǎng)的重要基礎(chǔ)和支撐，智能變電站設備具有信息數(shù)字化、功能集成化、結(jié)構(gòu)緊湊化、狀態(tài)可視化等主要技術(shù)特征，智能變電站系統(tǒng)應建立站內(nèi)全景數(shù)據(jù)的統(tǒng)一信息平臺，供各子系統(tǒng)標準化
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匝數(shù)對磁導率測試的影響分析

  • 從軟磁材料的u~H曲線出發(fā)，研究在磁導率u的測量過程中，測試線圈匝數(shù)N對測試結(jié)果的影響。闡明N取一定數(shù)值時測出磁導率u值為最高的原因。關(guān)于測試樣環(huán)上測試磁場H徑向不均勻的影響，用積分法解決。指出環(huán)磁導率與材料
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測試介紹

　　中文名稱： 　　測試 　　英文名稱： 　　test 　　定義1： 　　對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。 　　應用學科： 　　航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科) 　　定義2： 　　用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。 　　應用學科： 　　通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科) [ 查看詳細 ]
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