測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

FCT可簡(jiǎn)化測(cè)試程序開發(fā)

1 引言

數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)為工程師進(jìn)行特殊模擬、混合信號(hào)應(yīng)用開發(fā)提供了極大的靈活性。然而這一靈活性的增加也使工程師開發(fā)測(cè)試程序時(shí)存在不易發(fā)現(xiàn)的缺陷從而降低測(cè)試性能的可能性有所增加。

2 使采樣技術(shù)符
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PDMA在測(cè)試SDRAM控制器中的應(yīng)用

PDMA在測(cè)試SDRAM控制器中的應(yīng)用,我們?cè)O(shè)計(jì)了一個(gè)PDMA（Programmable Direct Mem o ry Access）用于測(cè)試SDRAM控制器的性能。在SoC中，SDRAM控制器往往跟多個(gè)IP模塊（圖形處理單元，音頻處理單元等）交換數(shù)據(jù)，采用多個(gè)PDMA通道同時(shí)訪問Memory可以真實(shí)
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LTE TDD測(cè)試介紹及Rohde & Schwarz 解決

目前，在3G之后，各種通信技術(shù)將如何演進(jìn)是業(yè)界非常關(guān)注的一個(gè)焦點(diǎn)，特別是對(duì)于TD-SCDMA來說，能否實(shí)現(xiàn)向下一代通信 ...
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為什么要發(fā)展測(cè)試友好技術(shù)

為什么要發(fā)展測(cè)試友好技術(shù)過去，若某一產(chǎn)品在上一測(cè)試點(diǎn)不能測(cè)試，那么這個(gè)問題就被簡(jiǎn)單地推移到直一個(gè)測(cè)試點(diǎn) ...
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變頻群時(shí)延的測(cè)試

關(guān)鍵字：矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀安立通信工程中常用來描述信號(hào)相位失真的參量--群時(shí)延（也稱為包絡(luò)時(shí)延）的定義為：網(wǎng)絡(luò)的特征相移對(duì)頻率變化曲線的斜率。當(dāng)網(wǎng)絡(luò)的相頻特性為直線時(shí)，群時(shí)延Td為常數(shù)，通過網(wǎng)絡(luò)各種頻率的信
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LED發(fā)光式LAN電纜測(cè)試器

電纜與連接器故障在LAN（局域網(wǎng)）中相對(duì)較常見。圖1的電路可以測(cè)試直通或交叉式10BaseT、100BaseT或千兆位UTP（非屏蔽雙絞線）和STP（屏蔽雙絞線）電纜。電路會(huì)對(duì)每個(gè)鏈接線對(duì)作一次連續(xù)測(cè)試。當(dāng)電纜兩端RJ-45連接器
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基于矢量網(wǎng)絡(luò)測(cè)量系統(tǒng)的變頻器件測(cè)試

前言
在現(xiàn)行的變頻器件測(cè)試方案中，測(cè)量系統(tǒng)對(duì)本振信號(hào)源的控制都是一個(gè)很困難的問題（本振信號(hào)頻率固定的除外）。而解決此問題的一般辦法有：一是測(cè)量系統(tǒng)處于點(diǎn)頻手動(dòng)測(cè)量模式下，射頻激勵(lì)、本振激勵(lì)和中頻響應(yīng)三
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基于數(shù)據(jù)采集卡的蓄電池測(cè)試系統(tǒng)

1．前言閥控密封鉛酸電池（VRLA）由于具有蓄能大、安全和密封性能好、壽命長(zhǎng)、免維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)[1]，在電力保...
關(guān)鍵字：蓄電池測(cè)試 VB編程數(shù)據(jù)采集

測(cè)試打印機(jī)

測(cè)試打印機(jī)1. 初始化打印機(jī)①初始化打印機(jī)，打印機(jī)的初始化發(fā)生在打印機(jī)的內(nèi)部，加電時(shí)自動(dòng)進(jìn)行。②初始化打印 ...
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關(guān)于新型直流-直流變換器各應(yīng)用特性的技術(shù)說明

前言對(duì)當(dāng)今新型品的DC-DC變換器只是在—個(gè)CMOS芯片上就可集成了高頻功率MOSFET、PWM控制器、故障保護(hù)...
關(guān)鍵字：直流-直流變換器應(yīng)用特性測(cè)試

安捷倫為雷達(dá)和國(guó)防電子測(cè)試測(cè)量推出新產(chǎn)品

　安捷倫科技公司日前宣布推出一系列用于雷達(dá)和國(guó)防電子測(cè)試測(cè)量的新產(chǎn)品。
關(guān)鍵字：安捷倫測(cè)試雷達(dá) 國(guó)防電子

油井井下高溫度和壓力測(cè)試系統(tǒng)研究與應(yīng)用

摘要：為了對(duì)井下溫度壓力參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行研制，采用鉑電阻和藍(lán)寶石硅晶體作為前端傳感器，系統(tǒng)采用井下直接測(cè)量，避免通過中間介質(zhì)進(jìn)行傳導(dǎo)，可實(shí)現(xiàn)較小誤差。恒流源驅(qū)動(dòng)方式使采集前端信號(hào)工作穩(wěn)定，采用時(shí)間同步
關(guān)鍵字：溫度測(cè)試壓力系統(tǒng)研究

新型的嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試算法

新型的嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試算法,摘要：針對(duì)目前嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試算法的測(cè)試效率與故障覆蓋率難以兼得的現(xiàn)狀，提出了兼顧二者的測(cè)試算法。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該算法最適合對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行大批量的測(cè)試。在測(cè)試效率上的優(yōu)勢(shì)很明顯，故障覆蓋率也能達(dá)到應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)
關(guān)鍵字：算法測(cè)試存儲(chǔ)器嵌入式新型

開關(guān)電源測(cè)試探討

在電子環(huán)境中，電磁干擾對(duì)電源的工作會(huì)產(chǎn)生一定的影響，源效應(yīng)和負(fù)載效應(yīng)小的電源其穩(wěn)定性較好，電子工程師在電源設(shè)計(jì)中應(yīng)考慮到這些方面。　　一、測(cè)試項(xiàng)目　　需測(cè)項(xiàng)目包括開關(guān)電源空載輸出、額定負(fù)載時(shí)電壓和電流
關(guān)鍵字：探討測(cè)試開關(guān)電源

通過嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試和修復(fù)解決良品率問題

關(guān)鍵字：存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)中存儲(chǔ)器容量的增加以及嵌入式存儲(chǔ)器支配整個(gè)裸片良品率的事實(shí)，使良品率設(shè)計(jì)(DFY)面臨日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)，特別是在新興的90nm和65nm半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。由于嵌入式存儲(chǔ)器容易產(chǎn)生較高的
關(guān)鍵字：嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試

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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]