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測(cè)試
測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
藍(lán)牙設(shè)計(jì)的測(cè)試與質(zhì)量認(rèn)證
- 藍(lán)牙技術(shù)完全可以替代線纜,對(duì)于產(chǎn)品經(jīng)理和設(shè)計(jì)工程師而言,問(wèn)題已經(jīng)從“何時(shí)開(kāi)始實(shí)現(xiàn)藍(lán)牙功能?”轉(zhuǎn)向“如何在設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)藍(lán)牙功能?”藍(lán)牙設(shè)計(jì)中有何陷阱?應(yīng)該采用哪種最高效且最具成本效益的
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無(wú)線設(shè)備的整體測(cè)試
- 介紹像便攜式電話這樣的無(wú)線射頻局域網(wǎng)設(shè)備作為消費(fèi)電子的產(chǎn)品正在變得越來(lái)越流行。盡管手機(jī)的復(fù)雜性和發(fā)展趨勢(shì)因?yàn)槭謾C(jī)制造規(guī)模的不斷擴(kuò)大而被忽視,但是消費(fèi)者對(duì)于可靠性的期望卻越來(lái)越高。為了滿足用戶需求,制造
- 關(guān)鍵字: 無(wú)線設(shè)備 測(cè)試
簡(jiǎn)論FPGA在自定義測(cè)試中的四種應(yīng)用情況
- FPGA可以通過(guò)專享的硬件資源進(jìn)行處理數(shù)據(jù),從而實(shí)現(xiàn)較高的吞吐率,可以比通過(guò)I/O硬件先獲取數(shù)據(jù)再通過(guò)軟件執(zhí)行數(shù)據(jù)處理的速率更快。結(jié)合FPGA技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng),不是按照傳統(tǒng)意義上的“采集、數(shù)據(jù)傳輸、后處理rdq
- 關(guān)鍵字: FPGA 自定義 測(cè)試 應(yīng)用情況
雙界面智能卡操作系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與測(cè)試
- 1. 引 言智能卡(smart card又稱集成電路卡)將一個(gè)集成電路芯片鑲嵌于塑料基片中,封裝成卡的形式,其外形與覆蓋磁條的磁卡相似。筆者在利用北京市嵌入式系統(tǒng)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室生產(chǎn)的智能卡進(jìn)行符合中國(guó)人民銀行金融卡規(guī)范的
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設(shè)計(jì)合理的高速總線測(cè)試方法

- 設(shè)計(jì)合理的高速總線測(cè)試方法,就在幾年前,許多設(shè)計(jì)工程師還在苦苦掙扎于步履沉重的總線和I/O速度,而每12~18個(gè)月各種處理器的運(yùn)行速度就增加一倍。而后,幾乎是一夜之間,總線和I/O技術(shù)開(kāi)始發(fā)生變化。速度加倍,而后又增加一倍。緊接著,如源同步
- 關(guān)鍵字: 方法 測(cè)試 總線 高速 設(shè)計(jì)合理
數(shù)據(jù)中心測(cè)試端到端
- 在以太網(wǎng)、光纖通道等多種組網(wǎng)技術(shù)共存于數(shù)據(jù)中心的當(dāng)下,對(duì)數(shù)據(jù)中心的端到端測(cè)試非常必要而且重要。對(duì)測(cè)試設(shè)備也提出了更高的要求。“光纖通道測(cè)試解決方案的推出讓Ixia可以提供給用戶一個(gè)完整的數(shù)據(jù)中心端到端
- 關(guān)鍵字: 數(shù)據(jù)中心 測(cè)試 端到端
測(cè)試介紹
中文名稱:
測(cè)試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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