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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試

汽車組件的EMI抗擾性測(cè)試

  • 摘要:隨著車輛中電子組件的增多和車內(nèi)環(huán)境日益復(fù)雜,汽車廠商對(duì)組件測(cè)試的要求也越來(lái)越高。本文旨在通過(guò)介紹汽車電子組件EMI抗擾性測(cè)試的各種方法,并概括了各種方法的優(yōu)缺點(diǎn),幫助測(cè)試工程師正確選擇最佳的測(cè)試方法
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用MSO測(cè)試和調(diào)試混合信號(hào)系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 嵌入式系統(tǒng)中,MCU和DSP的應(yīng)用非常普遍,模擬信號(hào)和各種數(shù)字信號(hào)同時(shí)存在。傳統(tǒng)上,工程師分別使用示波器和邏輯分析儀來(lái)進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證。但由于混合信號(hào)的復(fù)雜性,要實(shí)現(xiàn)對(duì)各種信號(hào)的同步觸發(fā)非常困難。隨著一種被稱
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藍(lán)牙設(shè)計(jì)的測(cè)試與質(zhì)量認(rèn)證

  • 藍(lán)牙技術(shù)完全可以替代線纜,對(duì)于產(chǎn)品經(jīng)理和設(shè)計(jì)工程師而言,問(wèn)題已經(jīng)從“何時(shí)開(kāi)始實(shí)現(xiàn)藍(lán)牙功能?”轉(zhuǎn)向“如何在設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)藍(lán)牙功能?”藍(lán)牙設(shè)計(jì)中有何陷阱?應(yīng)該采用哪種最高效且最具成本效益的
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RFID無(wú)源標(biāo)簽系統(tǒng)的監(jiān)管測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)及優(yōu)化

  • 由于亞微型無(wú)源CMOS標(biāo)簽的成本降低,庫(kù)存和其他應(yīng)用迅速增加。一些評(píng)估表明,隨著無(wú)源標(biāo)簽的價(jià)格持續(xù)下降,幾乎每一個(gè)售出產(chǎn)品的內(nèi)部都將有一個(gè)RFID標(biāo)簽。由于無(wú)源RFID標(biāo)簽的重要性及其獨(dú)特的工程實(shí)現(xiàn)的挑戰(zhàn)性,本文
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無(wú)線設(shè)備的整體測(cè)試

  • 介紹像便攜式電話這樣的無(wú)線射頻局域網(wǎng)設(shè)備作為消費(fèi)電子的產(chǎn)品正在變得越來(lái)越流行。盡管手機(jī)的復(fù)雜性和發(fā)展趨勢(shì)因?yàn)槭謾C(jī)制造規(guī)模的不斷擴(kuò)大而被忽視,但是消費(fèi)者對(duì)于可靠性的期望卻越來(lái)越高。為了滿足用戶需求,制造
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云電信測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

  • 在這個(gè)千變?nèi)f化的連通世界里,每個(gè)月幾乎都會(huì)推出新設(shè)備、新標(biāo)準(zhǔn)、新交叉產(chǎn)業(yè)應(yīng)用和新基礎(chǔ)設(shè)備。這樣的趨勢(shì)致使測(cè)試變得越來(lái)越重要---而且對(duì)于提高新產(chǎn)品的商業(yè)成功幾率也很重要。云技術(shù)的出現(xiàn)為公司存儲(chǔ)數(shù)據(jù)或移動(dòng)設(shè)
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簡(jiǎn)論FPGA在自定義測(cè)試中的四種應(yīng)用情況

  • FPGA可以通過(guò)專享的硬件資源進(jìn)行處理數(shù)據(jù),從而實(shí)現(xiàn)較高的吞吐率,可以比通過(guò)I/O硬件先獲取數(shù)據(jù)再通過(guò)軟件執(zhí)行數(shù)據(jù)處理的速率更快。結(jié)合FPGA技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng),不是按照傳統(tǒng)意義上的“采集、數(shù)據(jù)傳輸、后處理rdq
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使用IxLoad進(jìn)行高清視頻質(zhì)量測(cè)試

  • 【摘要】介紹了IXIA IxLoad進(jìn)行高清視頻質(zhì)量測(cè)試的原理、影響視頻質(zhì)量的各種因素、有感知的視頻質(zhì)量評(píng)價(jià)指標(biāo),對(duì)無(wú)參考型有感知的評(píng)價(jià)算法VQmon/HD得到的MOS指標(biāo),總結(jié)了IxLoad所支持的特性。1 引言視頻傳送與承載網(wǎng)
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雙界面智能卡操作系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與測(cè)試

  • 1. 引 言智能卡(smart card又稱集成電路卡)將一個(gè)集成電路芯片鑲嵌于塑料基片中,封裝成卡的形式,其外形與覆蓋磁條的磁卡相似。筆者在利用北京市嵌入式系統(tǒng)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室生產(chǎn)的智能卡進(jìn)行符合中國(guó)人民銀行金融卡規(guī)范的
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借助探頭和軟件豐富測(cè)試功能

  • 如今的高端測(cè)試裝置的功能已經(jīng)達(dá)到令人驚嘆的水平。比如力科(LeCroy)公司最新推出的實(shí)時(shí)帶寬高達(dá)60GHz的LabMaster 10Zi系列示波器和安捷倫(Agilent)公司帶寬高達(dá)32GHz的Infiniium 90000X系列。這些儀器可以為測(cè)試臺(tái)提
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汽車四大測(cè)試分析

  • 中心議題:汽車測(cè)試分析解決方案:數(shù)字RF測(cè)試動(dòng)力系統(tǒng)測(cè)試分析數(shù)字器件分析數(shù)字RF測(cè)試中國(guó)汽車產(chǎn)量已超過(guò)美國(guó)躍居全球第一,未來(lái)5-10年還將保持不斷增長(zhǎng)的態(tài)勢(shì)。中國(guó)汽車工業(yè)協(xié)會(huì)預(yù)計(jì),2010年汽車產(chǎn)量增速在10%左右,
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設(shè)計(jì)合理的高速總線測(cè)試方法

  • 設(shè)計(jì)合理的高速總線測(cè)試方法,就在幾年前,許多設(shè)計(jì)工程師還在苦苦掙扎于步履沉重的總線和I/O速度,而每12~18個(gè)月各種處理器的運(yùn)行速度就增加一倍。而后,幾乎是一夜之間,總線和I/O技術(shù)開(kāi)始發(fā)生變化。速度加倍,而后又增加一倍。緊接著,如源同步
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PIM分析儀測(cè)試連接器互調(diào)的新方法介紹

  • 0 引言  在微波網(wǎng)絡(luò)中,同軸連接器是引起互調(diào)的主要來(lái)源。同軸連接器的非線性特性是引起互調(diào)的主要原因。準(zhǔn)確確定同軸連接器的無(wú)源互調(diào)對(duì)整個(gè)射頻系統(tǒng)設(shè)計(jì)有重大的意義。目前大多數(shù)的連接器生產(chǎn)廠家采用的測(cè)試方法
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低功耗制造測(cè)試技術(shù)

  • 中心議題:動(dòng)態(tài)功耗與測(cè)試之間的關(guān)系功率管理的重要性功率預(yù)算的表示解決方案:通過(guò)設(shè)計(jì)分割反映功...
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數(shù)據(jù)中心測(cè)試端到端

  • 在以太網(wǎng)、光纖通道等多種組網(wǎng)技術(shù)共存于數(shù)據(jù)中心的當(dāng)下,對(duì)數(shù)據(jù)中心的端到端測(cè)試非常必要而且重要。對(duì)測(cè)試設(shè)備也提出了更高的要求。“光纖通道測(cè)試解決方案的推出讓Ixia可以提供給用戶一個(gè)完整的數(shù)據(jù)中心端到端
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測(cè)試介紹

  中文名稱:   測(cè)試   英文名稱:   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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