測試 文章 進(jìn)入測試技術(shù)社區(qū)
測量磁盤驅(qū)動(dòng)器柔性電路的互連阻抗測試
- HDD中需精心設(shè)計(jì)的鏈路是位于前置放大器和讀/寫磁頭組件之間的互連。該互連是確保HDD以多倍Gb/s的速率讀寫大量數(shù)據(jù)關(guān)鍵組件,但是,諸如交調(diào)失真、過沖和下沖等影響常會(huì)降低互連的性能,本文簡要介紹如何利用時(shí)域反射
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采用邊界掃描法測試系統(tǒng)級(jí)芯片互連的信號(hào)完整性
- 互連中的信號(hào)完整性損耗對(duì)于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來說是非常關(guān)鍵的問題,因此經(jīng)常在設(shè)計(jì)和測試中采用一些特殊的方法來解決這樣的問題。本文介紹如何利用片上機(jī)制拓展JTAG標(biāo)準(zhǔn)使其包含互連的信號(hào)完整性測試,從而利
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測試嵌入式存儲(chǔ)器的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)
- 隨著SoC設(shè)計(jì)向存儲(chǔ)器比例大于邏輯部分比例的方向發(fā)展,高質(zhì)量的存儲(chǔ)器測試策略顯得尤為重要。存儲(chǔ)器內(nèi)置自測試(BIST)技術(shù)以合理的面積開銷來對(duì)單個(gè)嵌入式存儲(chǔ)器進(jìn)行徹底的測試,可提高DPM、產(chǎn)品質(zhì)量及良品率,因而正
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安捷倫推出業(yè)界性能最高的6-GHz信號(hào)發(fā)生器
- 安捷倫科技公司(NYSE:A)日前宣布推出四款 X 系列信號(hào)發(fā)生器,可提供無與倫比的相位噪聲、輸出功率、ACPR、EVM 以及帶寬。借助這些功能,新型 Agilent MXG 和 EXG 產(chǎn)品(提供模擬和矢量型號(hào))支持元器件和接收機(jī)的開發(fā),可以消除干擾、加快數(shù)據(jù)吞吐量并提高雷達(dá)、軍事通信和消費(fèi)類無線技術(shù)等應(yīng)用中的信號(hào)質(zhì)量
- 關(guān)鍵字: 安捷倫 測試 信號(hào)發(fā)生器 MXG
測試介紹
中文名稱:
測試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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