測試文章最新資訊

低功耗器件的“設(shè)計(jì)時(shí)測試”方法

在65nm制造工藝條件下，依靠電池供電的器件正在大量出現(xiàn)。這種先進(jìn)的工藝技術(shù)使得新器件較前代工藝的同類器件具有很多改進(jìn)。采用65nm工藝之后，設(shè)計(jì)人員可以在一塊單獨(dú)的裸片上集成遠(yuǎn)多于過去的晶體管，還可以在器件
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用于測試微型高集成元器件的平臺方案

用于測試微型高集成元器件的平臺方案,能夠?qū)μ幵谏a(chǎn)階段的醫(yī)療設(shè)備進(jìn)行測試的測試平臺，有助于公司管理電子元器件的成本、接入和覆蓋范圍。不管各家公司有沒有在產(chǎn)品開發(fā)階段對產(chǎn)品進(jìn)行診斷，也不管它們在生產(chǎn)過程中有沒有確保產(chǎn)品質(zhì)量，但它們都免不了
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低成本多模LTE智能手機(jī)在Cell間移動(dòng)連接測試設(shè)計(jì)

下一代LTE 移動(dòng)通訊產(chǎn)品有望成為新的全球標(biāo)準(zhǔn)。但是，因?yàn)樵诔跏茧A段LTE 的服務(wù)范圍有限，所以LTE 智能手機(jī)還必須支持其他現(xiàn)有的2G 和3G 通訊技術(shù)，例如W-CDMA、GSM、CDMA2000 等。因此，在LTE 和2G/3G 移動(dòng)系統(tǒng)之間
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數(shù)字視頻芯片的可復(fù)用測試策略

設(shè)計(jì)復(fù)用使芯片設(shè)計(jì)的效率大為提高，為了跟上設(shè)計(jì)的步伐，測試也必須采用類似的復(fù)用技術(shù)。本文以飛利浦半導(dǎo)體的PNX8525 Nexperia數(shù)字視頻平臺(DVP)為例，介紹系統(tǒng)芯片的測試復(fù)用和調(diào)試策略。飛利浦半導(dǎo)體將設(shè)計(jì)復(fù)用策
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測量磁盤驅(qū)動(dòng)器柔性電路的互連阻抗測試

HDD中需精心設(shè)計(jì)的鏈路是位于前置放大器和讀/寫磁頭組件之間的互連。該互連是確保HDD以多倍Gb/s的速率讀寫大量數(shù)據(jù)關(guān)鍵組件，但是，諸如交調(diào)失真、過沖和下沖等影響常會(huì)降低互連的性能，本文簡要介紹如何利用時(shí)域反射
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采用邊界掃描法測試系統(tǒng)級芯片互連的信號完整性

互連中的信號完整性損耗對于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來說是非常關(guān)鍵的問題，因此經(jīng)常在設(shè)計(jì)和測試中采用一些特殊的方法來解決這樣的問題。本文介紹如何利用片上機(jī)制拓展JTAG標(biāo)準(zhǔn)使其包含互連的信號完整性測試，從而利
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燃料電池汽車整車控制器硬件在環(huán)實(shí)時(shí)仿真測試平臺

隨著汽車工業(yè)的發(fā)展和進(jìn)步，人們對汽車的動(dòng)力性、經(jīng)濟(jì)性、安全性及排放等方面提出了更高的要求，傳統(tǒng)的機(jī)械式控制系統(tǒng)已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足這些需要。電子化控制系統(tǒng)以其高精度、高速度、控制靈活、穩(wěn)定可靠等特點(diǎn)逐漸取
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百佳泰攜手泰克打造先進(jìn)技術(shù)環(huán)境

以測試驗(yàn)證服務(wù)起家、時(shí)至今日并已成長至業(yè)界龍頭地位的百佳泰(Allion Labs, Inc)，即將邁向嶄新的里程碑。為提供客戶更高質(zhì)量與更具前瞻性的技術(shù)服務(wù)(Engineering Service)，百佳泰自跨入2012年起便積極轉(zhuǎn)型，深化技術(shù)層次，其轉(zhuǎn)型策略主要包括以下重點(diǎn)項(xiàng)目：
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安立使用MD8430A LTE基站完成載波聚合

安立公司宣布MD8430A LTE基站仿真器和Signalion的SORBAS 移動(dòng)終端模擬器已成功完成了 LTE Advanced載波聚合的互操作性測試。在2012美國無線通信展CTIA上，安立公司展示了這個(gè)測試，表明安立公司擁有世界第一個(gè)實(shí)現(xiàn)“全?！陛d波聚合的能力。
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安立推出測試設(shè)備解決方案MD8430A

通過整合安立公司的快速測試設(shè)計(jì)(RTD)的圖形腳本軟件和帶有RADVISION的ProLab IMS/VoLTE測試套件的MD8430A LTE網(wǎng)絡(luò)模擬器，安立公司(Anritsu)和Radvision在CTLA展上全面的展示了VoLTE設(shè)備測試能力。該套全新的VoLTE設(shè)備測試方案在安立公司展臺上正式亮相。
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測試嵌入式存儲器的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)

隨著SoC設(shè)計(jì)向存儲器比例大于邏輯部分比例的方向發(fā)展，高質(zhì)量的存儲器測試策略顯得尤為重要。存儲器內(nèi)置自測試(BIST)技術(shù)以合理的面積開銷來對單個(gè)嵌入式存儲器進(jìn)行徹底的測試，可提高DPM、產(chǎn)品質(zhì)量及良品率，因而正
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深入探究802.11ac技術(shù)

在最新的一項(xiàng)市場調(diào)查中，研究人員預(yù)計(jì)：到2015年，每年將有超過10億臺IEEE 802.11ac 無線通信設(shè)備投入使用。這是一個(gè)相當(dāng)驚人的數(shù)字，特別是考慮到802.11ac尚未成為官方標(biāo)準(zhǔn)的前提下。所以你可能會(huì)問：“什么是802.11ac協(xié)議，它跟當(dāng)前的Wi-Fi有何區(qū)別?”
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安捷倫推出業(yè)界性能最高的6-GHz信號發(fā)生器

安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布推出四款 X 系列信號發(fā)生器，可提供無與倫比的相位噪聲、輸出功率、ACPR、EVM 以及帶寬。借助這些功能，新型 Agilent MXG 和 EXG 產(chǎn)品(提供模擬和矢量型號)支持元器件和接收機(jī)的開發(fā)，可以消除干擾、加快數(shù)據(jù)吞吐量并提高雷達(dá)、軍事通信和消費(fèi)類無線技術(shù)等應(yīng)用中的信號質(zhì)量
關(guān)鍵字：安捷倫測試信號發(fā)生器 MXG

Best of Interop獎(jiǎng)揭曉NEC成最大贏家

近日，于美國拉斯維加斯召開的世界最大規(guī)模網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品商展Interop Las Vegas 2012，10項(xiàng)Best of Interop獎(jiǎng)項(xiàng)已各有歸屬，NEC成為最大贏家，摘得管理監(jiān)控和測試類以及Best of Interop全場特別獎(jiǎng)兩項(xiàng)桂冠。
關(guān)鍵字： NEC 測試 UNIVERGE

無向量測試是測試高速I/O的最佳方法

大批量半導(dǎo)體芯片制造商必須解決以下這道難題，即如何經(jīng)濟(jì)高效地測試嵌入在大型數(shù)字系統(tǒng)級芯片設(shè)計(jì)中的多個(gè)多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。雖然結(jié)合了閉環(huán)操作的片上內(nèi)置自測試(BI
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測試介紹

　　中文名稱：　　測試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]