吉時(shí)利2009科研測(cè)試設(shè)備現(xiàn)場體驗(yàn)巡展在京啟動(dòng)

　　美國俄亥俄州克里夫蘭，2009年3月18日訊：吉時(shí)利儀器公司(NYSE：KEI)，作為新興測(cè)量解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者，今日宣布將在中國啟動(dòng)“吉時(shí)利2009中國科研測(cè)試設(shè)備現(xiàn)場體驗(yàn)巡回展示”，專門為高校和研究機(jī)構(gòu)搭建學(xué)、研和具體實(shí)踐操作及面對(duì)面交流的平臺(tái)。首場活動(dòng)將于3月31日下午在北京麗亭華苑酒店三層鴻運(yùn)廳舉行，詳情請(qǐng)參見http://www.keithley.cn/edm/9/seminar/beijing/pr/ 。

　　本次活動(dòng)中，吉時(shí)利將以涵蓋微弱信號(hào)/低電平測(cè)試、半導(dǎo)體測(cè)試及IV、射頻測(cè)試等三大領(lǐng)域的多款測(cè)試測(cè)量儀器，現(xiàn)場提供大量的產(chǎn)品演示、精彩的技術(shù)講解和免費(fèi)的技術(shù)咨詢。與會(huì)者不但能了解到最新的測(cè)試測(cè)量技術(shù)，更能即時(shí)解決在日常教學(xué)、生產(chǎn)、科研及工作中遇到的測(cè)試問題，還可以親手操作，現(xiàn)場咨詢遇到的技術(shù)難題。

　　微弱信號(hào)/低電平測(cè)試解決方案

　　六十余年來，吉時(shí)利在微弱信號(hào)測(cè)試和源產(chǎn)生方面一直處于世界領(lǐng)先水平，包括低電流/高阻測(cè)量、低電壓/低電阻測(cè)量等解決方案，提供電壓、電流、電阻、溫度、電容以及電荷等微弱電信號(hào)的測(cè)試，可用于材料研究實(shí)驗(yàn)室的導(dǎo)電測(cè)試以研發(fā)新的納米材料、原型和工藝過程，及工業(yè)界生產(chǎn)線測(cè)試。低電壓測(cè)量儀器、低電流測(cè)量儀器、開關(guān)和源，特別適用于光電器件、顯示器、汽車電子、軍事/航天等領(lǐng)域的有源和無源器件的高準(zhǔn)確度測(cè)量。

　　此次活動(dòng)，所用演示儀器包括具有代表性的皮安表、靜電計(jì)、源測(cè)量單元等解決方案，如6430型亞fA遠(yuǎn)程源表、6517A型靜電計(jì)、6514型靜電計(jì)、6485型皮安表、6487型皮安表/電壓源、2502型雙通道皮安表、6220型直流電流源、6221型交流和直流電流源、2182A型納伏表、2001/2002數(shù)字多用表等。

　　半導(dǎo)體測(cè)試及IV解決方案

　　憑借擁有無可匹敵的靈敏度和自動(dòng)化測(cè)試的特性參數(shù)分析及測(cè)試系統(tǒng)，吉時(shí)利成為半導(dǎo)體測(cè)試解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者。吉時(shí)利的半導(dǎo)體測(cè)試方案具有多功能、可升級(jí)、可擴(kuò)展等特點(diǎn)，包括自動(dòng)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，晶片可靠性(WLR)系統(tǒng)和I-V/C-V測(cè)試系統(tǒng)等，專注于幫助客戶應(yīng)對(duì)不斷變化的新材料、新工藝和新結(jié)構(gòu)的挑戰(zhàn)。可用于材料研究、器件特性分析、可靠性測(cè)試和晶圓生產(chǎn)工藝的監(jiān)控。

　　吉時(shí)利在本次活動(dòng)中將演示4200型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)(4200-SCS系統(tǒng)、4200-CVU)、自動(dòng)特性分析組合(ACS)以及2635和2636型數(shù)字源表。4200-SCS系統(tǒng)以一套緊密集成的特征分析方案取代了多個(gè)分離的電子測(cè)試工具，非常適合于半導(dǎo)體技術(shù)研究、工藝開發(fā)、可靠性實(shí)驗(yàn)室/材料與器件研究實(shí)驗(yàn)室的材料研究，也適合于所有需要臺(tái)式直流或脈沖式測(cè)試儀器的場合。4200-CVU將C-V測(cè)試選件集成到4200型分析系統(tǒng)中，使用戶能夠在同一平臺(tái)上完成直流、脈沖和C-V的測(cè)量。自動(dòng)特性分析組合(ACS) 用于搭建集成化的測(cè)試平臺(tái)，可根據(jù)用戶的測(cè)試需求量身定制，提供可配置的靈活測(cè)試方案。本部分還將結(jié)合數(shù)字源表演示吉時(shí)利獨(dú)有的測(cè)試腳本處理器(TSP) 技術(shù)。

　　射頻測(cè)試解決方案

　　吉時(shí)利提供了全套的射頻測(cè)試與測(cè)量解決方案，適用于手機(jī)、傳呼機(jī)、基站以及數(shù)字交換系統(tǒng)的測(cè)試，并能夠滿足最新的 WLAN , WiMAX, TD-SCDMA, WCDMA等對(duì)SISO 和MIMO 測(cè)試的需求，可用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和QA/QC實(shí)驗(yàn)室。借助先進(jìn)的矢量信號(hào)分析儀、矢量信號(hào)發(fā)生器以及MIMO射頻測(cè)試系統(tǒng)等創(chuàng)新產(chǎn)品，吉時(shí)利為高速發(fā)展的無線測(cè)試領(lǐng)域提供最新的測(cè)量手段。利用SignalMeister軟件，工程師都可以通過基于框圖式的圖形用戶界面快速而方便地創(chuàng)建并分析信號(hào)。