吉時利發(fā)布4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)KTEI V7.1升級版

　　吉時利（Keithley）儀器公司，日前發(fā)布最近針對其屢獲殊榮的4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)推出了KTEI（吉時利交互式測試環(huán)境）V7.1版。經(jīng)過此次軟件升級之后，KTEI支持更高功率半導(dǎo)體器件的測試。這樣，4200-SCS就支持從低到高各種功率水平的器件的特征分析，從而成為市場上最完整的半導(dǎo)體特征分析儀，大大降低了一些復(fù)雜測量的難度，并且通過保護(hù)用戶的固定資產(chǎn)投資降低了用戶的測試成本。

　　KTEI V7.1的此次升級融合了多種新特征和新功能，擴(kuò)寬了4200-CVU（電容-電壓單元）的功能， 包括對高達(dá)200VDC（即400V差分電壓）和300mA更高功率半導(dǎo)體器件的特征分析提供了軟件支持。這一功能對于從事LDMOS（橫向擴(kuò)散MOS）器件以及用于汽車、顯示器、MEMS和其他高功率應(yīng)用的較高功率半導(dǎo)體器件研究與開發(fā)的工程技術(shù)人員是非常有用的。KTEI V7.1還為下列新功能增加了軟件支持：

　　•差分直流偏壓
　　•準(zhǔn)靜態(tài)C-V測試
　　•擴(kuò)展的器件測試庫
　　•為加速和簡化測試而推出的各種軟件增強(qiáng)功能

支持更高功率的測試

　　新的4200-CVU-PWR C-V電源包硬件選件配合KTEI V7.1中的C-V軟件工具一起使用，能夠?qū)Ω哌_(dá)200VDC電壓（即400VDC差分電壓）和300mA電流的高功率器件進(jìn)行C-V測試。這種C-V測試可用于汽車電子器件、MEMS、LDMOS、顯示器和其他較高功率器件的設(shè)計(jì)、測試與建模。利用吉時利的4200-CVU-PWR C-V電源包，4200-SCS特征分析儀能夠在一個系統(tǒng)內(nèi)支持更高功率的C-V、脈沖I-V（電流-電壓）和直流I-V測試應(yīng)用。

　　此次升級的另外一項(xiàng)重要功能是采用了差分直流偏壓。4200-CVU集成的C-V測試儀對稱電路升級了flash存儲器，能夠在C-V HI和C-V LO端口上施加高達(dá)60V的差分直流偏壓。吉時利是第一個實(shí)現(xiàn)這一獨(dú)特功能的參數(shù)分析儀廠商，利用這一功能能夠?qū)Υ郎y器件的電場進(jìn)行更靈活的控制。這一功能尤其對于納米元件等特殊器件的器件建模十分有用。4200-CVU固件升級包含在KTEI V7.1內(nèi)部，因此用戶不需要將設(shè)備返送回廠家進(jìn)行重編程。

　　此次軟件升級支持最新的準(zhǔn)靜態(tài)C-V測量技術(shù)——Ramp Rate方法，其中采用了4200-SCS現(xiàn)有的SMU和前置放大器。準(zhǔn)靜態(tài)C-V技術(shù)非常適合于低功耗CMOS器件、高k介質(zhì)器件、顯示器件和其他低泄漏器件的特征分析。

不斷增強(qiáng)系統(tǒng)功能確保始終如一的生產(chǎn)效率

　　吉時利的4200-SCS系統(tǒng)以一個緊密集成的特征分析方案取代了多種分離的電子測試工具，是多種應(yīng)用的理想選擇，包括半導(dǎo)體技術(shù)研究、工藝開發(fā)、可靠性實(shí)驗(yàn)室/材料與器件研究實(shí)驗(yàn)室和機(jī)構(gòu)的材料研究，也適合于所有需要臺式直流或脈沖式測試儀器的場合。自從4200-SCS系統(tǒng)推出以來，吉時利就在不斷增強(qiáng)其硬件和軟件功能。這種不間斷的系統(tǒng)更新服務(wù)為用戶提供了一條高性價比的升級之路，用戶不必因?yàn)槠湓瓉淼脑O(shè)備過時而被迫購買新的參數(shù)分析儀。系統(tǒng)通過高性價比的升級服務(wù)能夠跟上業(yè)界不斷發(fā)展的測試需求，因此相比其他同類測試方案，對4200-SCS的資本投資能夠保持更長的時間。

價格與供貨

　　KTEI V7.1對于現(xiàn)有的4200-SCS系統(tǒng)是可以立即免費(fèi)升級的，用戶聯(lián)系吉時利的銷售工程師即可預(yù)訂。4200-CVU-PWR C-V電源包同樣有現(xiàn)貨供應(yīng)，可以作為備選附件進(jìn)行訂購。