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EUV將在7納米節(jié)點(diǎn)發(fā)威?

作者: 時(shí)間:2014-09-19 來源:semi 收藏

  核心提示:荷蘭半導(dǎo)體設(shè)備大廠 ASML 現(xiàn)在勉為其難地承認(rèn)了其客戶私底下悄悄流傳了好一陣子的情況:大多數(shù)半導(dǎo)體廠商仍將采用傳統(tǒng)浸潤式微影技術(shù)來生產(chǎn)10奈米制程晶片,而非延遲許久的超紫外光微影()技術(shù);不過這恐怕將使得10奈米節(jié)點(diǎn)因?yàn)闊o法壓低每電晶體成本,而成為不受歡迎的制程。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/263125.htm

  荷蘭半導(dǎo)體設(shè)備大廠 ASML 現(xiàn)在勉為其難地承認(rèn)了其客戶私底下悄悄流傳了好一陣子的情況:大多數(shù)半導(dǎo)體廠商仍將采用傳統(tǒng)浸潤式微影技術(shù)來生產(chǎn)10奈米制程晶片,而非延遲許久的超紫外光微影()技術(shù);不過這恐怕將使得10奈米節(jié)點(diǎn)因?yàn)闊o法壓低每電晶體成本,而成為不受歡迎的制程。

  ASML總裁暨技術(shù)長Martin Van den Brink在接受EETimes美國版編輯訪問時(shí)表示,若傳統(tǒng)繼續(xù)采用浸潤式微影, 10奈米節(jié)點(diǎn)以下的許多關(guān)鍵電路層將會(huì)需要三重甚至四重曝光:“因?yàn)闊o法充分降低成本,10奈米制程節(jié)點(diǎn)將會(huì)陷入成為沒人喜歡的窘境;但其成本應(yīng)該還是下降至足以讓它繼續(xù)前進(jìn)的一天。”而他堅(jiān)持,針對(duì)10奈米之后的 7奈米節(jié)點(diǎn),晶片制造商會(huì)需要采用技術(shù)才能以具成本效益的方式生產(chǎn)晶片,若繼續(xù)采用浸潤式微影,有些電路層可能會(huì)需要用到13道曝光程序。

  ASML總裁暨技術(shù)長Martin Van den Brink表示,若不采用EUV技術(shù),7奈米節(jié)點(diǎn)的某些電路層會(huì)需要13次曝光(最右邊);而10奈米節(jié)點(diǎn)則需要使用三重或四重曝光(右二)

  不久前,ASML的大客戶英特爾(Intel)院士Mark Bohr才表示已經(jīng)找到不需要采用EUV來生產(chǎn)7奈米晶片的方法;他透露:“我現(xiàn)在全力投入7奈米節(jié)點(diǎn)技術(shù)研發(fā),我很想用EUV,但我不能拿自己的職業(yè)生涯或是英特爾的未來下賭注…而我認(rèn)為7奈米節(jié)點(diǎn)不需要EUV是可行的?!?/p>

  而對(duì)此Van den Brink指出,英特爾的7奈米節(jié)點(diǎn)實(shí)際上就是產(chǎn)業(yè)界所認(rèn)為的10奈米節(jié)點(diǎn),該公司在制程技術(shù)命名上總是比其他業(yè)者往前跳一個(gè)世代,但基本上與競(jìng)爭(zhēng)同業(yè)所采用的微影解析度是相同的,因?yàn)樗麄冇玫氖峭瑯拥奈⒂霸O(shè)備。他強(qiáng)調(diào),隨著基礎(chǔ)半導(dǎo)體制程技術(shù)日益復(fù)雜,廠商對(duì)制程技術(shù)的命名方式也變得越來越不容易看透: “這在今天來說都是市場(chǎng)行銷策略的一部分,太難以理解?!?/p>

  EUV技術(shù)進(jìn)展腳步緩慢

  當(dāng)2016年多數(shù)晶片業(yè)者開始在10奈米制程節(jié)點(diǎn)評(píng)估采用EUV系統(tǒng),光罩業(yè)者也需要支援EUV;不過Van den Brink表示,晶圓廠雖會(huì)在10奈米節(jié)點(diǎn)進(jìn)行EUV測(cè)試,并不會(huì)著手進(jìn)行量產(chǎn),而是會(huì)等到7奈米制程節(jié)點(diǎn),而相關(guān)工具的生命周期至少長達(dá)10年:“光罩的產(chǎn)量比晶圓片低得多,所以光罩業(yè)者在產(chǎn)業(yè)界主流技術(shù)變化時(shí)比較脆弱、態(tài)度也會(huì)更保守,因此EUV技術(shù)要向前進(jìn),鼓勵(lì)光罩業(yè)者們投入研發(fā)是很重要的?!?/p>

  ASML致力使微影技術(shù)趕上半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展藍(lán)圖

  除了需要光罩業(yè)者支持,EUV還面臨許多挑戰(zhàn),最大的一個(gè)就是可靠、高功率的光源,以支援該技術(shù)達(dá)到一日1,000片晶圓的產(chǎn)量;Van den Brink表示,目前ASML研發(fā)中的EUV系統(tǒng)采用77W光源。預(yù)計(jì)到今年底,該公司可達(dá)到80W光源,是該公司客戶目前采用之40W光源的兩倍;而 80W光源也會(huì)是該公司將在明年出貨之3350B系統(tǒng)的關(guān)鍵功能。

  ASML預(yù)計(jì)在2015年推出80W光源EUV系統(tǒng)

  3350B的終極目標(biāo)是達(dá)到每日1,000片晶圓產(chǎn)能──這是商用微影設(shè)備的基本性能──不過一開始出貨給客戶的系統(tǒng)每日產(chǎn)能可能實(shí)際上為800片晶圓;ASML計(jì)劃透過光學(xué)組件與軟體方面的多次升級(jí),讓EUV能支援7奈米節(jié)點(diǎn)晶片日益精細(xì)化的電路制作需求。

  ASML預(yù)計(jì)在2015年之后,EUV將在光學(xué)技術(shù)以及支援軟體方面持續(xù)升級(jí)

  而在9月初于臺(tái)北舉行的2014年度 SEMICON Taiwan 國際半導(dǎo)體展上,ASML亞太策略行銷總監(jiān)鄭國偉則表示,該公司的EUV系統(tǒng)已經(jīng)在幾個(gè)客戶端進(jìn)行測(cè)試,確認(rèn)可以滿足10奈米及7奈米制程中對(duì) imaging (成像) 和overlay (制程影像疊對(duì))的需求。在加強(qiáng)曝光機(jī)效能的同時(shí),ASML也持續(xù)強(qiáng)化 EUV 的source power (光源功率) 和availability (可用性),目前都有達(dá)到客戶期望的階段性目標(biāo)。

  而在生產(chǎn)力方面,ASML的目標(biāo)是在2014年底達(dá)到每天曝光500片晶圓,而2016年底前達(dá)到每天曝光1,500片晶圓,才能符合客戶的量產(chǎn)需求;在最近幾項(xiàng)客戶端的測(cè)試中,已經(jīng)證明其EUV系統(tǒng)在晶圓曝光的速度上,已經(jīng)具備每天曝光600片晶圓的能力。

  一臺(tái)支援7奈米制程節(jié)點(diǎn)的可量產(chǎn)EUV系統(tǒng),要價(jià)達(dá)1~1.2億美元(9,000萬歐元),是傳統(tǒng)浸潤式微影機(jī)臺(tái)的兩倍;不過Van den Brink表示,該公司的設(shè)備是采用模組化設(shè)計(jì),擁有早期原型設(shè)備的客戶能獲得分階段的設(shè)備升級(jí)支援。鄭國偉則在SEMICON Taiwan 2014時(shí)指出,ASML第三代EUV機(jī)臺(tái)3300B已在全球出貨6臺(tái),其中包括臺(tái)灣地區(qū)客戶,出貨時(shí)除了與貨運(yùn)業(yè)者協(xié)商最大空運(yùn)貨柜尺寸,還出動(dòng)了11 架次的747等級(jí)貨機(jī)才把完整機(jī)臺(tái)全部運(yùn)載完畢。3300B在今年底、明年初還將出貨5臺(tái)。

  其他EUV技術(shù)挑戰(zhàn)

  EUV須將光罩缺陷降至0

  EUV 系統(tǒng)還需克服的技術(shù)挑戰(zhàn)是減少光罩缺陷(mask defects),空白光罩上的缺陷需降低至0 (如上圖);Van den Brink表示:“只要在光罩上有一個(gè)缺陷粒子都是隱憂,所以我們已經(jīng)開始著手研發(fā)光罩護(hù)膜(pellicles)?!苯櫴轿⒂耙恢笔茄鲑嚤Wo(hù)層 (protective layer),不過EUV專用的保護(hù)層還在研發(fā)階段;ASML已經(jīng)證實(shí),把85%穿透率的護(hù)膜裝在一半的EUV光罩上,不會(huì)對(duì)晶圓成像造成顯著影響(下圖)。

  ASML著手為EUV開發(fā)光罩護(hù)膜以降低缺陷

  現(xiàn)在ASML正在測(cè)試覆蓋整個(gè)光罩的護(hù)膜,不過Van den Brink強(qiáng)調(diào),該公司的目標(biāo)是達(dá)到不采用護(hù)膜的零缺陷光罩;如果產(chǎn)業(yè)界需要保護(hù)層,應(yīng)該是由光罩業(yè)者提供:“我們會(huì)持續(xù)開發(fā)護(hù)膜,也愿意將相關(guān)技術(shù)轉(zhuǎn)移給第三方供應(yīng)商。”可惜到目前為止還沒有人表示興趣。此外Van den Brink也報(bào)告了針對(duì)EUV應(yīng)用的化學(xué)放大光阻劑(chemically amplified resists)研發(fā)進(jìn)展,表示該公司正在測(cè)試各種化學(xué)光阻劑,其中有一些會(huì)侵蝕EUV影像,但他樂觀認(rèn)為將會(huì)有創(chuàng)新解決方案出現(xiàn)。

  ASML正在測(cè)試各種EUV應(yīng)用化學(xué)放大光阻劑

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