PCB印制電路板信號損耗測試技術(shù)

2.2 有效帶寬法

有效帶寬法（Effective Bandwidth,簡稱EBW）從嚴格意義來說是一個定性的傳輸線損耗α的測量，無法提供定量的插入損耗值，但是提供一個稱之為EBW的參數(shù)。有效帶寬 法是通過TDR將特定上升時間的階躍信號發(fā)射到傳輸線上，測量TDR儀器和被測件連接后的上升時間的最大斜率，確定為損耗因子，單位MV/s.更確切地 說，它確定的是一個相對的總損耗因子，可以用來識別損耗在面與面或?qū)优c層之間傳輸線的變化.由于最大斜率可以直接從儀器測得，有效帶寬法常用于印制 電路板的批量生產(chǎn)測試。EBW測試示意圖如圖4所示。

2.3 根脈沖能量法

根脈沖能量法（Root ImPulse Energy,簡稱RIE）通常使用TDR儀器分別獲得參考損耗線與測試傳輸線的TDR波形，然后對TDR波形進行信號處理。RIE測試流程如圖5所示：

2.4 短脈沖傳播法

短脈沖傳播法（Short Pulse Propagation,簡稱SPP）測試原理為利用測量兩條不同長度的傳輸線，如30 mm和100 mm,通過測量這兩個傳輸線線長之間的差異來提取參數(shù)衰減系數(shù) 和相位常數(shù) ,如圖6所示。使用這種方法可以將連接器、線纜、探針和示波器精度的影響降到最小。若使用高性能的TDR儀器和IFN（Impulse Forming Network），測試頻率可高達40 GHz.

2.5 單端TDR差分插入損耗法

單端TDR差分插入損耗法（Single-Ended TDRto Differential Insertion Loss,簡稱SET2DIL）有別于采用4端口VNA的差分插損測試，該方法使用兩端口TDR儀器，將TDR階躍響應發(fā)射到差分傳輸線上，差分傳輸線末 端短接，如圖7所示。SET2DIL法測量典型的測量頻率范圍為2 GHz ~ 12 GHz,測量準確度主要受測試電纜的時延不一致和被測件阻抗不匹配的影響。SET2DIL法優(yōu)勢在于無需使用昂貴的4端口VNA及其校準件，被測件的傳輸 線的長度僅為VNA方法的一半，校準件結(jié)構(gòu)簡單，校準耗時也大幅度降低，非常適合用于PCB制造的批量測試，如圖8所示。