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兆易創(chuàng)新推出GD5F1GM9系列高速Q(mào)SPI NAND Flash

—— 突破性讀取速度,助力應用快速啟動
作者: 時間:2025-04-16 來源:EEPW 收藏


本文引用地址:http://2s4d.com/article/202504/469460.htm

業(yè)界領先的半導體器件供應商GigaDevice近日宣布推出GD5F1GM9系列高速 Flash,該系列以其突破性的讀取速度和創(chuàng)新的壞塊管理(BBM)功能,可有效解決傳統(tǒng)SPI Flash響應速度慢、易受壞塊干擾的行業(yè)痛點。作為一種巧妙融合了NOR Flash高速讀取優(yōu)勢與 Flash大容量、低成本優(yōu)勢的新型解決方案,GD5F1GM9系列的面世將為SPI NAND Flash帶來新的發(fā)展機遇,成為安防、工業(yè)、IoT等快速啟動應用場景的理想之選。

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GD5F1GM9系列高速 NAND Flash采用24nm工藝節(jié)點,支持內(nèi)置8bit ECC、3V和1.8V兩種工作電壓,以及Continuous Read、Cache Read、Auto Load Next Page等多種高速讀取模式,為用戶提供多種組合設計方案。與傳統(tǒng)SPI NAND Flash相比,GD5F1GM9系列在ECC設計上摒棄了原有的串行計算方式,實現(xiàn)復雜ECC算法的并行計算,這極大地縮短了內(nèi)置ECC的計算時間。該系列3V產(chǎn)品最高時鐘頻率為166MHz,在Continuous Read模式下可達83MB/s連續(xù)讀取速率;1.8V產(chǎn)品最高時鐘頻率為133MHz,在Continuous Read模式下可達66MB/s連續(xù)讀取速率。這意味著在同頻率下,GD5F1GM9系列的讀取速度可達到傳統(tǒng)SPI NAND產(chǎn)品的2~3倍,該設計優(yōu)勢可有效提高器件的數(shù)據(jù)訪問效率,顯著縮短系統(tǒng)啟動時間,進一步降低系統(tǒng)功耗。

為了解決傳統(tǒng)NAND Flash的壞塊難題,GD5F1GM9系列引入了先進的壞塊管理(BBM)功能。該功能允許用戶通過改變物理塊地址和邏輯塊地址的映射關系,從而有效應對出廠壞塊和使用過程中新增壞塊的挑戰(zhàn)。一方面,傳統(tǒng)NAND Flash在出廠時可能存在隨機分布的壞塊,若這些壞塊出現(xiàn)在前部代碼區(qū),將導致NAND Flash無法正常使用。而GD5F1GM9系列通過壞塊管理(BBM)功能,可確保前256個Block均為出廠好塊,進而保障代碼區(qū)的穩(wěn)定性。另一方面,在使用過程中,NAND Flash可能出現(xiàn)新增壞塊,傳統(tǒng)解決方案需要預留大量冗余Block用于不同分區(qū)的壞塊替換,造成嚴重的資源浪費。GD5F1GM9系列的壞塊管理(BBM)功能允許用戶重新映射邏輯地址和物理地址,使損壞的壞塊地址重新可用,并且僅需預留最小限度的冗余Block,該功能不僅顯著提高了資源利用率,還有效簡化了系統(tǒng)設計。

“目前,SPI NAND Flash的讀取速度普遍較慢,已成為制約終端產(chǎn)品性能提升的重要瓶頸”,副總裁、存儲事業(yè)部總經(jīng)理蘇如偉表示,“GD5F1GM9系列高速 NAND Flash的推出,為市場中樹立了新的性能標桿,該系列不僅有效彌補了傳統(tǒng)SPI NAND Flash在讀取速度上的不足,并為壞塊管理提供了新的解決方案,可成為NOR Flash用戶在擴容需求下的理想替代選擇。未來,還將持續(xù)打磨底層技術(shù),為客戶提供更高效、更可靠的存儲方案?!?/p>

目前,兆易創(chuàng)新GD5F1GM9系列可提供1Gb容量、3V/1.8V兩種電壓選擇,并支持WSON8 8x6mm、WSON8 6x5mm、BGA24(5x5 ball array)5x5ball封裝選項。如需了解詳細信息及產(chǎn)品定價,請聯(lián)系當?shù)劁N售代表。



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