新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 業(yè)界動態(tài) > 報告稱三星 3nm 芯片良率已超過臺積電

報告稱三星 3nm 芯片良率已超過臺積電

作者: 時間:2023-07-18 來源:IT之家 收藏

IT之家 7 月 18 日消息,根據(jù) Hi Investment & Securities 機構近日發(fā)布的報告,Samsung Foundry 在 工藝上的良率達到了 60%,高于臺積電(55%)。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202307/448710.htm

報道稱大力發(fā)展 ,不斷提升生產(chǎn)工藝、提高生產(chǎn)良率,目前已經(jīng)將良率提升到 60%,該媒體認為會在超先進芯片制造技術上勝過臺積電。

報告中也指出目前在 4nm 工藝方面良率為 75%,和臺積電(80%)存在差距,不過通過發(fā)力 ,有望在未來超過臺積電。

報告中還指出由于臺積電的大部分訂單都被蘋果預訂,英偉達、高通等公司都對三星的第二代 3nm(SF3)工藝感興趣。

IT之家此前報道,Samsung Foundry 在 SFF 2023 上公布的最新工藝技術路線圖,該公司計劃在 2025 年推出 2 納米級的 SF2 工藝,2027 年推出 1.4 納米級的 SF1.4 工藝。與此同時,該公司還公布了 SF2 工藝的一些特性。




關鍵詞: 三星 3nm 晶圓代工

評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉