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泰克推出基于示波器的雙脈沖測試解決方案, 加快SiC和GaN技術(shù)驗證速度

作者: 時間:2023-05-31 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

中國北京,2023年5月31日—— 全球領(lǐng)先的測試測量解決方案提供商科技公司日前宣布,推出最新解決方案 (WBG-DPT解決方案)。各種新型寬禁帶開關(guān)器件正推動電動汽車、太陽能、工控等領(lǐng)域快速發(fā)展,WBG-DPT解決方案能夠?qū)捊麕骷ㄈ?a class="contentlabel" href="http://2s4d.com/news/listbylabel/label/SiC">SiC MOSFETs)提供自動可重復的、高精度測量功能。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202305/447190.htm

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下一代功率轉(zhuǎn)換器設(shè)計師現(xiàn)在能夠利用WBG-DPT解決方案,滿懷信心地迅速優(yōu)化自己的設(shè)計。WBG-DPT解決方案能夠在4系、5系、6系MSO上運行,并能夠無縫集成到測量系統(tǒng)中,擁有多種業(yè)界領(lǐng)先的測量功能,如自動校正WBG時延技術(shù)、反向恢復定時繪圖,工程師可以更簡便地查看疊加一個畫面上的多個脈沖的反向恢復細節(jié)。這些測量功能還滿足JEDEC和IEC和二級管反向恢復標準。

泰克科技公司中端產(chǎn)品組合方案總經(jīng)理Daryl Ellis說,

“泰克客戶都是下一代尖端功率電子技術(shù)的設(shè)計師,他們必須優(yōu)化設(shè)計,在效率、尺寸和可靠性之間找到一個平衡點。我們堅信,泰克WBG-DPT解決方案的設(shè)計將實現(xiàn)簡化的可重復的測量(根據(jù)JEDEC和IEC標準),加快學習周期。測試自動化縮短了測試時間和再測試錯誤,確??蛻魸M足項目時間表和產(chǎn)品開發(fā)周期計劃。”

Qorvo公司員工系統(tǒng)工程師Masashi Nogawa說,

“在執(zhí)行時,WBG-DPT軟件可以瞬時測量主要參數(shù),如EON、EOFF和QRR。該軟件可以使功率波形和標記以可視化方式立即顯示集成范圍,用來計算電源損耗。相比把波形數(shù)據(jù)導入Excel表格中處理,這提供了一個完美的替代方案?!?/span>

為實現(xiàn)有意義的電源損耗測量,設(shè)計師必須校正測試夾具和探頭引入的延遲。漏極到源極電壓(VDS)和漏極電流(ID)測量的傳統(tǒng)校準技術(shù)要求重新對測試設(shè)置布線,并審慎地進行預測試測量。

WBG-DPT解決方案的主要特點:

WBG-DPT解決方案在業(yè)界率先提供WBG時延校正技術(shù),不需重新布線,甚至可以在進行雙脈沖測量后執(zhí)行。為仿真時延在測試設(shè)置中的效果,該軟件生成了一個校準波形。工程師只需調(diào)節(jié)幾個設(shè)置,就能使校準波形與測得波形匹配,因為該軟件會校正任何時延差。這種新流程把時延校正時間從一小時縮短到5 – 10分鐘。

由于功率轉(zhuǎn)換器必須在各種條件下工作,所以業(yè)界越來越多地需要在不同結(jié)點溫度下測量輸出電荷(QOSS)。泰克WBG-DPT解決方案支持快速準確的QOSS測量功能,可以提供重要數(shù)據(jù),了解器件輸出電容的影響。

泰克WBG-DPT解決方案在業(yè)界率先提供了反向恢復定時繪圖功能,工程師可以更簡便地查看疊加在一個畫面上的多個脈沖的反向恢復細節(jié)。這些測量滿足JEDEC和IEC標準,用戶可以在WBG解決方案中配置測量,查詢雙脈沖集中第一個或第二個或所有脈沖的結(jié)果。這種獨特的反向恢復繪圖方法支持多個雙脈沖集,對每個集合提供可視的測量結(jié)果。這些測量在反向恢復區(qū)域可以簡便縮放,甚至可以調(diào)試系統(tǒng)的反向恢復參數(shù)。

泰克寬禁帶雙脈沖測試解決方案現(xiàn)已在全球供貨。



關(guān)鍵詞: 泰克 示波器 雙脈沖測試 SiC GaN

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