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ROHM發(fā)布新SPICE模型“ROHM Level 3(L3)”

—— 功率半導(dǎo)體的仿真速度實(shí)現(xiàn)質(zhì)的飛躍
作者: 時(shí)間:2025-06-11 來(lái)源:EEPW 收藏


本文引用地址:http://2s4d.com/article/202506/471272.htm

全球知名半導(dǎo)體制造商(總部位于日本京都市)近日宣布,推出新 Level 3(L3)”,該模型提升了收斂性和仿真速度。

功率半導(dǎo)體的損耗對(duì)系統(tǒng)整體效率有重大影響,因此在設(shè)計(jì)階段的仿真驗(yàn)證中,模型的精度至關(guān)重要。以往提供的SiC MOSFET用“ROHM Level 1(L1)”,通過(guò)提高每種特性的復(fù)現(xiàn)性,滿(mǎn)足了高精度仿真的需求。然而另一方面,該模型存在仿真收斂性問(wèn)題和運(yùn)算時(shí)間較長(zhǎng)等問(wèn)題,亟待改進(jìn)。

新模型“(L3)”通過(guò)采用簡(jiǎn)化的模型公式,能夠在保持計(jì)算穩(wěn)定性和開(kāi)關(guān)波形精度的同時(shí),將仿真時(shí)間較以往L1模型縮短約50%。由此,能夠高精度且快速地執(zhí)行電路整體的瞬態(tài)分析,從而有助于提升應(yīng)用設(shè)計(jì)階段的器件評(píng)估與損耗確認(rèn)的效率。

(L3)”的第4代(共37款機(jī)型)已于2025年4月在官網(wǎng)上發(fā)布,用戶(hù)可通過(guò)產(chǎn)品頁(yè)面等渠道下載。新模型L3推出后,以往模型仍將繼續(xù)提供。另外,ROHM還發(fā)布了詳細(xì)的使用說(shuō)明白皮書(shū),以幫助用戶(hù)順利導(dǎo)入新模型。

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用戶(hù)可從第4代SiC MOSFET相應(yīng)產(chǎn)品頁(yè)面的“設(shè)計(jì)模型”中下載

未來(lái),ROHM將繼續(xù)通過(guò)提升仿真技術(shù),助力實(shí)現(xiàn)更高性能以及更高效率的應(yīng)用設(shè)計(jì),為電力轉(zhuǎn)換技術(shù)的革新貢獻(xiàn)力量。



關(guān)鍵詞: ROHM SPICE模型 ROHM Level 3 SiC MOSFET模型

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