TI：以太空強(qiáng)化型塑料裝置因應(yīng)低軌道衛(wèi)星應(yīng)用挑戰(zhàn)

新興的太空市場(chǎng)中，近年大量低地球軌道 (LEO) 衛(wèi)星的發(fā)射令人振奮，這些衛(wèi)星體積小、成本合理，能夠耐輻射并且非?？煽?。這些衛(wèi)星可以對(duì)全世界擴(kuò)展通訊和聯(lián)機(jī)。不同于傳統(tǒng)的衛(wèi)星市場(chǎng)，大多數(shù)任務(wù)都在距離地球 22,236 英哩的地球同步軌道上，預(yù)計(jì)將持續(xù) 10 年以上，LEO 衛(wèi)星的軌道距離地球更近，不超過(guò) 1,300 英哩。由于這些衛(wèi)星相對(duì)容易替換，因此任務(wù)壽命通常不到七年。

太空強(qiáng)化型塑料裝置將有助于因應(yīng)低地球軌道應(yīng)用的挑戰(zhàn)

LEO 衛(wèi)星電子設(shè)計(jì)必須同時(shí)滿足嚴(yán)格的預(yù)算并保持競(jìng)爭(zhēng)力，因此面臨的的主要挑戰(zhàn)包括：
?使用體積更小、整合度更高的組件來(lái)縮小電路板尺寸。
?尋找交貨時(shí)間短的裝置進(jìn)行快速設(shè)計(jì)。
?采用能夠承受太空嚴(yán)苛條件的電子組件。
對(duì)于剛接觸太空市場(chǎng)的設(shè)計(jì)師來(lái)說(shuō)，為地面市場(chǎng)設(shè)計(jì)的產(chǎn)品無(wú)法解決太空中的特定挑戰(zhàn)，其中包括：
?輻射性能。
?控制商業(yè)現(xiàn)貨 (COTS) 裝置中常見(jiàn)的制程和材料變化。
?衛(wèi)星環(huán)繞地球時(shí)，熱循環(huán)會(huì)經(jīng)歷極端的溫度波動(dòng)。
?將非密封的塑料包裝釋氣。
TI 的太空強(qiáng)化型塑料 (EP) 認(rèn)證程序能夠解決這些挑戰(zhàn)，而且能消除有時(shí)用于這個(gè)市場(chǎng)的高風(fēng)險(xiǎn)和資源密集型篩檢方法。篩檢是對(duì)零件進(jìn)行電氣或環(huán)境測(cè)試而在產(chǎn)品規(guī)格表規(guī)格之外使用的做法。雖然篩檢有助于對(duì)裝置的太空性能進(jìn)行分類，不過(guò)仍然存在許多風(fēng)險(xiǎn)，而且，如果不完全了解裝置的「原理」以及測(cè)試向量，這可能會(huì)導(dǎo)致現(xiàn)場(chǎng)故障，而且衛(wèi)星將在任務(wù)期間出現(xiàn)錯(cuò)誤的安全感。
耐輻射塑料裝置如何降低風(fēng)險(xiǎn)
TI 的認(rèn)證太空產(chǎn)品可供設(shè)計(jì)人員和組件工程師設(shè)計(jì)和驗(yàn)證自己的電路板，完全不需要顧慮衛(wèi)星在 LEO 太空環(huán)境中的具體考慮因素。太空 EP 產(chǎn)品因應(yīng)的一些考慮因素包括：
?受控制的基準(zhǔn)流程：TI 在單一制造設(shè)施、組裝地點(diǎn)和測(cè)試地點(diǎn)制造每個(gè)太空 EP 裝置，藉以控制材料組、輻射容限和電氣規(guī)格之間的現(xiàn)場(chǎng)差異。
?輻射批次驗(yàn)收測(cè)試。太空 EP 裝置至少要對(duì)每個(gè)晶圓批次的總游離劑量 (TID) 保證進(jìn)行測(cè)試，藉以確實(shí)達(dá)到 20 krad (Si)，對(duì)能夠滿足更高 TID 等級(jí)的裝置進(jìn)行更高等級(jí)的測(cè)試，藉此消除批次間輻射變化的任何風(fēng)險(xiǎn)。在額外輻射性能的鑒定期間，這些裝置的一般表征是 30 至 50-krad (Si) TID。(對(duì)于需要更高等級(jí) TID 性能的計(jì)劃，TI 的傳統(tǒng) QMLV 空間產(chǎn)品通常額定為 100 krad (Si) 或更高。)
?金線：太空 EP 裝置僅使用金鍵合線，在更嚴(yán)格的容差要求下消除銅可能出現(xiàn)的鍵合完整性和可靠性問(wèn)題。
?沒(méi)有錫須的風(fēng)險(xiǎn)：由于太空的嚴(yán)苛條件，即使使用保形涂層，錫須也是一大問(wèn)題。為了避免這種風(fēng)險(xiǎn)，太空 EP 產(chǎn)品不使用錫含量高的端子。飾面則是鎳鈀金或 63% 錫/37% 鉛。
?擴(kuò)大的溫度范圍：太空環(huán)境通常需要 -55℃至125℃的溫度容差。促使太空 EP 零件符合此溫度范圍的要求，就完全不需要為擴(kuò)展的溫度范圍進(jìn)行篩檢，這將導(dǎo)致 TI 的保固失效，并且可能損害飛航中使用的裝置。
?嚴(yán)苛環(huán)境鑒定：由于擴(kuò)展的高加速應(yīng)力測(cè)試、每個(gè)裝置上的溫度循環(huán)和強(qiáng)化的材料集，太空 EP 產(chǎn)品獲得太空環(huán)境的流程有關(guān)的附加功能，藉以滿足 NASA 推動(dòng)的美國(guó)測(cè)試和材料協(xié)會(huì) E-495 釋氣規(guī)格。
加快發(fā)布時(shí)程
TI 太空 EP 裝置的質(zhì)量和可靠性有助于設(shè)計(jì)人員加速洗板和驗(yàn)證新設(shè)計(jì)。在 TI.com 上的裝置產(chǎn)品文件夾中，提供針對(duì) LEO 要求進(jìn)行優(yōu)化的裝置有關(guān)的所有輻射數(shù)據(jù)，以及釋氣數(shù)據(jù)和可靠性報(bào)告。使用TI的詳細(xì)報(bào)告可以節(jié)省大量成本，因?yàn)樵?LEO 衛(wèi)星應(yīng)用中使用 COTS 產(chǎn)品時(shí)，對(duì)于輻射測(cè)試、篩檢和低產(chǎn)量方面進(jìn)行大量投資。TI的報(bào)告包括：
?針對(duì) TID 提供的輻射報(bào)告，其中包括 30-50 krad (Si) 的表征資料和 20-50 krad (Si) 的抗輻射保證數(shù)據(jù)
?單一事件效應(yīng)的輻射報(bào)告、43 MeVcm2/mg 的單一事件閂鎖報(bào)告以及電源管理產(chǎn)品的其他破壞性單一事件和單一事件瞬態(tài)表征。
?釋氣和可靠性報(bào)告，提供有關(guān)產(chǎn)品流程、可靠性數(shù)據(jù)、可追溯性和釋氣測(cè)試的信息。報(bào)告中的信息有助于加快電路板認(rèn)證并減少對(duì)外部認(rèn)證工作的需求，盡可能降低選擇新產(chǎn)品時(shí)的風(fēng)險(xiǎn)，并讓這些裝置從一開(kāi)始就可以正常運(yùn)作。
嚴(yán)苛的太空環(huán)境需要更高等級(jí)的可靠性來(lái)確保系統(tǒng)的安全。使用太空 EP 裝置組合，為日后進(jìn)行發(fā)布時(shí)，節(jié)省時(shí)間并降低風(fēng)險(xiǎn)。