新聞中心

EEPW首頁 > 網(wǎng)絡(luò)與存儲(chǔ) > 業(yè)界動(dòng)態(tài) > 非易失性存儲(chǔ)器和易失性存儲(chǔ)器的對(duì)比

非易失性存儲(chǔ)器和易失性存儲(chǔ)器的對(duì)比

作者: 時(shí)間:2019-01-23 來源:愛電子 收藏

  非易失性技術(shù)是在關(guān)閉計(jì)算機(jī)或者突然性、意外性關(guān)閉計(jì)算機(jī)的時(shí)候數(shù)據(jù)不會(huì)丟失的技術(shù)。非易失性技術(shù)得到了快速發(fā)展,非易失性主要分為塊尋址和字節(jié)尋址兩類。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201901/397016.htm

  

非易失性存儲(chǔ)器和易失性存儲(chǔ)器的對(duì)比


  在很多的存儲(chǔ)系統(tǒng)的寫操作程序中,內(nèi)存作為控制器和硬盤之間的重要橋梁,提供更快速的性能,但是如果發(fā)生突然間斷電的情況,如何保護(hù)內(nèi)存中的數(shù)據(jù)不丟失,這是存儲(chǔ)系統(tǒng)中老生常談的議題。易失性存儲(chǔ)器就是在關(guān)閉計(jì)算機(jī)或者突然性、意外性關(guān)閉計(jì)算機(jī)的時(shí)候,里面的數(shù)據(jù)會(huì)丟失,就像內(nèi)存。非易失性存儲(chǔ)器在上面的情況下數(shù)據(jù)不會(huì)丟失,像硬盤等外存。RRAM是一種非易失性存儲(chǔ)器,也稱為憶阻器,為制造非易失性存儲(chǔ)設(shè)備,模擬人類大腦處理信息的方式鋪平了道路。RRAM由兩個(gè)金屬電極夾一個(gè)薄介電層組成,在正常狀態(tài)下它是絕緣體,它以納米器件加工技術(shù)為基礎(chǔ)是一種有記憶功能的非線性電阻。每個(gè)憶阻器有一個(gè)底部的導(dǎo)線與器件的一邊接觸,一個(gè)頂部的導(dǎo)線與另一邊接觸。

  憶阻器是一個(gè)由兩個(gè)金屬電極夾著的氧化欽層構(gòu)成的雙端,雙層交叉開關(guān)結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體。其中一層氧化欽摻雜了氧空位,成為一個(gè)半導(dǎo)體;相鄰的一層不摻雜任何東西,讓其保持絕緣體的自然屬性,通過檢測(cè)交叉開關(guān)兩端電極的阻性,就能判斷RRAM的“開”或者“關(guān)”狀態(tài)。

  憶阻器除了其獨(dú)特的“記憶”功能外,有兩大特性使其被業(yè)界廣泛看好。一是其具有更短的存儲(chǔ)訪問時(shí)間,更快的讀寫速度,其整合了閃存和的部分特性;二是其存儲(chǔ)單元小和制造工業(yè)可以升級(jí),憶阻器的尺寸可以做到幾個(gè)納米,很有可能將微電子技術(shù)的發(fā)展帶人到下一個(gè)十年,而且其可以與CMOS技術(shù)相兼容等優(yōu)勢(shì),是下一代非易失性存儲(chǔ)技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)。

  易失性存儲(chǔ)器

  它在任何時(shí)候都可以讀寫,RAM通常是作為操作系統(tǒng)或其他正在運(yùn)行程序的臨時(shí)存儲(chǔ)介質(zhì)(可稱作系統(tǒng)內(nèi)存)。不過,當(dāng)電源關(guān)閉時(shí)RAM不能保留數(shù)據(jù),如果需要保存數(shù)據(jù),就必須把它們寫入到一個(gè)長(zhǎng)期的存儲(chǔ)器中(例如硬盤)。正因?yàn)槿绱?,有時(shí)也將RAM稱作“可變存儲(chǔ)器”。RAM內(nèi)存可以進(jìn)一步分為靜態(tài)RAM(SRAM)和動(dòng)態(tài)內(nèi)存()兩大類。由于具有較低的單位容量?jī)r(jià)格,所以被大量的采用作為系統(tǒng)的主記憶。

  不同應(yīng)用在不同的容性負(fù)載下需要不同的工作頻率,這項(xiàng)要求與芯片組的性能以及電路板布局和復(fù)雜性緊密相關(guān)。例如,高頻工作環(huán)境通常對(duì)電性能的優(yōu)化要求嚴(yán)格,設(shè)計(jì)工程師需要考慮整個(gè)電路板上的電噪聲,以降低線路的寄生電容。在這種情況下,降低存儲(chǔ)器輸出驅(qū)動(dòng)器的強(qiáng)度更加受歡迎。此外,還必須根據(jù)工作頻率優(yōu)化指令執(zhí)行速度。有時(shí)候,要想在發(fā)送命令后取得適合的高效的吞吐量,就必須減少空時(shí)鐘周期次數(shù)。

  在應(yīng)用電路板測(cè)試階段,為了正確地激勵(lì)存儲(chǔ)器、查看存儲(chǔ)器的響應(yīng),微控制器需要全套的命令和功能。這項(xiàng)操作靈活性測(cè)試通常用于檢測(cè)全部系統(tǒng)組件,以確保產(chǎn)品在生命周期內(nèi)的功能。相反,標(biāo)準(zhǔn)的客戶最終應(yīng)用只使用一個(gè)精簡(jiǎn)的指令集。例如,在使用SPI閃存時(shí),最終應(yīng)用通常使用讀指令(正常、快速和/或4位I/O輸入輸出),把啟動(dòng)代碼下載到RAM存儲(chǔ)器。

  設(shè)計(jì)人員應(yīng)該優(yōu)化非易失性存儲(chǔ)器,以縮減系統(tǒng)上電期間的代碼讀取和下載時(shí)間。在新的先進(jìn)的平臺(tái)上,如車用電子、計(jì)算機(jī)光驅(qū)或藍(lán)牙模塊,SPI閃存可能用于直接從非易失性存儲(chǔ)器讀取部分系統(tǒng)固件,以縮短系統(tǒng)固件下載到高速易失性存儲(chǔ)器的過程。當(dāng)然,目前出現(xiàn)的最新應(yīng)用對(duì)存儲(chǔ)器的靈活性要求更加嚴(yán)格。



關(guān)鍵詞: 存儲(chǔ)器 DRAM

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉