基于Zynq壓電陶瓷傳感器的高精度采集系統(tǒng)設(shè)計

引言

壓電陶瓷(Piezoelectric，PZT)以其特有的體積小、響應(yīng)快、精度高和微動作功能而成為近年來天文光學(xué)精密測量中廣泛應(yīng)用的材料之一。因此，其采集精度和實(shí)時性是其關(guān)鍵技術(shù)之一。本設(shè)計以Xilinx公司的Zynq-7000雙核ARM處理器作為設(shè)計平臺，實(shí)現(xiàn)對PZT的高速和高精度采集。Zynq是以ARM為核心、以FPGA作為可編程外設(shè)的全新架構(gòu)處理器，其ARM核是由2個Cortex—A9 CPU組成的AMP系統(tǒng)。

目前，PZT的采集系統(tǒng)大多采用PC機(jī)下的采集卡或者類似于單片機(jī)的系統(tǒng)設(shè)計，由于PC機(jī)系統(tǒng)的實(shí)時性比較差，單片機(jī)的數(shù)據(jù)處理能力比較弱，很難滿足類似于天文光學(xué)測量系統(tǒng)的實(shí)時性要求，采用Zynq的PL部分做數(shù)據(jù)采集，可以達(dá)到μs數(shù)量級。利用Zynq的PS部分實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲、數(shù)據(jù)處理和通信，實(shí)時性也可以達(dá)到μs數(shù)量級。

1 數(shù)據(jù)采集和OLED顯示IP核設(shè)計

1.1 OLED顯示IP核設(shè)計

ZedBoard開發(fā)板上使用Inteltronic/Wisechip公司的OLED顯示模組UG-2832HSWEG04，驅(qū)動電路采用所羅門科技的SSD1306芯片。OLED采用SPI方式控制，SPI模式使用的信號線和電源線如下：

①RST(RES)：硬復(fù)位OLED。

②DC：命令/數(shù)據(jù)標(biāo)志。

③SCLK：串行時鐘線。

④SDIN：串行數(shù)據(jù)線。

⑤VDD：邏輯電路電源。

⑥VBAT：DC/DC轉(zhuǎn)換電路電源。

⑦OLED顯示IP核是指在PL中配置相關(guān)外設(shè)，掛到PS中，作為PS部分的外設(shè)使用。

只需要利用Xilinx的嵌入式工具XPS生成硬件系統(tǒng)。主要過程如下：

①根據(jù)XPS工具設(shè)計流程，生成Zynq的最小硬件系統(tǒng)。

②在最小硬件系統(tǒng)中，添加外設(shè)IP my_oled，添加一個6位寄存器，每位和SPI引腳對應(yīng)。

③在系統(tǒng)生成的MPD文件中，設(shè)置相關(guān)引腳和方向信息。

④在系統(tǒng)生成的my_oled.vhd文件中，用VHDL語言進(jìn)行端口設(shè)計。

⑤在系統(tǒng)生成的user_logic.v文件中，用Verilog語言進(jìn)行邏輯設(shè)計，實(shí)現(xiàn)寄存器和SPI對應(yīng)端口連接并實(shí)時讀取。

1.2 數(shù)據(jù)采集IP核設(shè)計

由于壓電陶瓷精度非常高，因此，采用高精度ADS1256轉(zhuǎn)換芯片采集電壓，ADS1256是多路復(fù)用的24位極低噪聲△-∑ADC。其理論采樣精度達(dá)到16 777 216分之一，測量電壓范圍為-5～+5 V，因此，其理論精度為1.6μV，實(shí)際測試達(dá)到10μV數(shù)量級。

ADS1256與zynq是通過SCLK、DIN、DOUT、組成的SPI串行接口，由于其不在ZedBoard開發(fā)板上，需要通過板子上的JA和JB接口連接上述6個引腳。

數(shù)據(jù)采集IP核設(shè)計，主要是完成6個引腳的連接，以及A/D轉(zhuǎn)換過程的命令和數(shù)據(jù)傳送、時鐘設(shè)定，其設(shè)計過程和OLED顯示IP核設(shè)計過程完全一致。

2 Zynq雙核運(yùn)行原理

Zynq是一個可擴(kuò)展處理平臺，它的啟動流程也和FPGA完全不同，而與傳統(tǒng)ARM處理器的類似。

系統(tǒng)上電啟動后，第0階段啟動代碼判斷啟動模式，將第一階段啟動代碼amp_fsbl.elf下載到DDR中，并開始執(zhí)行。FSBL會配置硬件比特流文件，加載CPU0可執(zhí)行文件和CPU1可執(zhí)行文件到DDR對應(yīng)的鏈接地址。在這一階段，所有代碼在CPU0中執(zhí)行，然后執(zhí)行第一個可執(zhí)行文件app_cpu0.elf，把CPU1上將要執(zhí)行的應(yīng)用程序執(zhí)行地址寫入OCM的0xFFFF FFF0地址，然后執(zhí)行SEV匯編指令，激活CPU1。CPU1激活后，將會到OCM的0xFFFF FFF0地址讀取其數(shù)值，其數(shù)值就是CPU1執(zhí)行可執(zhí)行程序的地址，CPU1應(yīng)用程序?qū)脑摰刂穲?zhí)行。

CPU0和CPU1相互之間通過OCM的0xFFFF 0000地址作為共享內(nèi)存，進(jìn)行通信。

Zynq是AMP體系架構(gòu)，CPU0和CPU1各自占用獨(dú)立的DDR空間，其中CPU0占用的DDR地址為0x00100000～0x001F FFFF，CPU1使用的地址空間為0x00200000～0x002F FFFF。雙核運(yùn)行原理如圖1所示。

3 軟件設(shè)計

軟件設(shè)計主要包括CPU0應(yīng)用程序和CPU1應(yīng)用程序，其中CPU0部分主要實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)初始化、啟動CPU1、讀取A/D轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)和對數(shù)據(jù)進(jìn)行初步處理。

FSBL加載完CPU0應(yīng)用程序后，跳轉(zhuǎn)到0x0010 0000處執(zhí)行CPU0程序，首先配置MMU，關(guān)閉Cache，使OCM物理地址為0xFFFF 0000～0xFFFF FFFF和0x00000000～0x0002 FFFF。

關(guān)閉Cache后，CPU0執(zhí)行SEV匯編指令，激活CPU1，CPU1到OCM的0xFFFF FFF0地址讀取CPU1應(yīng)用程序地址，開始執(zhí)行CPU1的應(yīng)用程序。

讀取ADS1256轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)，對前后2次ADS1256轉(zhuǎn)換后的數(shù)值進(jìn)行比較，如果大于0xFF，則認(rèn)為壓電陶瓷有異常，設(shè)置COM_VAL=1，等待CPU1把異常信息在OLED上顯示出來。其流程圖如圖2所示：

CPU1在激活后，將會從DDR的0x00200000地址開始執(zhí)行應(yīng)用程序，由于Zynq是AMP架構(gòu)，各個CPU獨(dú)立使用資源。因此，在CPU1里，仍需要設(shè)置MMU，關(guān)閉Cache。

關(guān)閉Cache后，CPU1讀取共享內(nèi)存COM_VAL變量，如果其值為0，表示壓電陶瓷工作正常，在OLED上顯示正確信息。如果COM_VAL=1，表示壓電陶瓷工作異常，將在OLED顯示異常信息。其流程圖如圖3所示。

4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果

完成軟硬件設(shè)計后，需要將硬件比特流配置到Zynq的PL部分，把軟件部分下載到DDR中運(yùn)行。使用Xilinx的BootGen工具，將FSBL文件、bit文件、CPU0文件和CPU1文件組合并添加到相關(guān)頭部，生成能被Zynq識別的合法鏡像BOOT.BIN文件。把BOOT.BIN拷貝到SD卡中，將ZedBoard設(shè)置成SD卡啟動，將SD卡插入SD卡槽，上電后，會看到OLED顯示壓電陶瓷工作狀態(tài)信息。

實(shí)驗(yàn)中，壓電陶瓷在一固定位置，隨機(jī)讀取部分A/D采集到的數(shù)據(jù)，如表1所列，可以看出，其采集精度達(dá)到10μV數(shù)量級。

使用臺式萬用表進(jìn)行測試，電壓為2.5 V。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，A/D采集精度高達(dá)10μV數(shù)量級，與高精度臺式萬用表測量結(jié)果一致，說明采集結(jié)果是正確的。

結(jié)語

利用高精度ADS1256轉(zhuǎn)換器和Zynq高速處理平臺，實(shí)現(xiàn)了雙核ARM并行運(yùn)行數(shù)據(jù)采集和實(shí)時顯示功能。經(jīng)過24小時不間斷測試，系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定，能夠滿足高速和高精度壓電陶瓷傳感器采集系統(tǒng)的要求。