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FPGA工程師應(yīng)如何挑選ADC和DAC

作者: 時(shí)間:2013-07-19 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

將具有信號(hào)處理功能的與現(xiàn)實(shí)世界相連接,需要使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器()或數(shù)模轉(zhuǎn)換器()

本文引用地址:http://2s4d.com/article/189563.htm

一旦執(zhí)行特定任務(wù),系統(tǒng)必須與現(xiàn)實(shí)世界相連接,而所有都知道現(xiàn)實(shí)世界是以模擬信號(hào)而非數(shù)字信號(hào)運(yùn)轉(zhuǎn)的。這意味著需要在模擬信號(hào)域與數(shù)字信號(hào)域之間進(jìn)行轉(zhuǎn)換。針對(duì)手頭工作選擇恰當(dāng)?shù)?a class="contentlabel" href="http://2s4d.com/news/listbylabel/label/FPGA">FPGA時(shí),用戶面臨著林林總總的選擇,在為系統(tǒng)選擇正確的時(shí)也是如此,玲瑯滿目。

選擇時(shí)首先要確定轉(zhuǎn)換信號(hào)所需的采樣頻率。這個(gè)參數(shù)不僅將影響轉(zhuǎn)換器的選擇,同時(shí)也會(huì)影響對(duì)FPGA的選擇,這樣才能確保器件能夠滿足所需的處理速度及邏輯封裝要求。轉(zhuǎn)換器的采樣頻率至少為信號(hào)采樣頻率的2倍。因此,如果信號(hào)的采樣頻率為50MHz,則轉(zhuǎn)換器采樣頻率至少應(yīng)為100MHz。否則,已轉(zhuǎn)換的信號(hào)將引起自身混疊,導(dǎo)致信號(hào)無(wú)法正確表示。但混疊并不總是一件壞事情;事實(shí)上,如果轉(zhuǎn)換器的帶寬足夠高,那么用戶可以利用混疊將信號(hào)混疊至可用的帶寬。

的關(guān)鍵參數(shù)

我們可采用多種不同方法來(lái)構(gòu)建模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。最常見(jiàn)的方法包括閃存、斜坡(Ramp)以及逐次逼近等。

1,閃存轉(zhuǎn)換器以速度快著稱,其使用一系列可擴(kuò)展的模擬比較器對(duì)輸入電壓和參考電壓進(jìn)行比較;ADC利用這些比較器的輸出來(lái)確定數(shù)字代碼。

2,斜坡轉(zhuǎn)換器可利用連接至DAC且可自由運(yùn)行的計(jì)數(shù)器,對(duì)DAC輸出/輸入電壓進(jìn)行比較。當(dāng)二者相等時(shí),保持計(jì)數(shù)不變。

3,逐次逼近轉(zhuǎn)換器(SAR)是斜坡轉(zhuǎn)換器的另一種形式,其可利用DAC和比較器來(lái)處理模擬輸入信號(hào)。但SAR轉(zhuǎn)換器并非執(zhí)行累計(jì)計(jì)數(shù),而是通過(guò)判斷計(jì)數(shù)的模擬表示是否高于或低于輸入信號(hào),并采用試錯(cuò)法(trial-and-error)來(lái)確定數(shù)字代碼。

此外,數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)也可以采用若干種方法來(lái)實(shí)現(xiàn),最常見(jiàn)的方法包括二進(jìn)制加權(quán)、R-2R梯形網(wǎng)絡(luò)、脈寬調(diào)制。

4,二進(jìn)制加權(quán)是速度最快的DAC架構(gòu)之一。這些器件可將各邏輯比特的不同轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行匯總。例如,電阻DAC將根據(jù)電流代碼來(lái)導(dǎo)通或切斷這些電阻。

5,R-2R梯形轉(zhuǎn)換器采用阻值為R-2R的級(jí)聯(lián)電阻結(jié)構(gòu)。由于可以輕松生成并匹配高精度電阻,因而這類DAC的精度比二進(jìn)制加權(quán)轉(zhuǎn)換器更高。

6,脈寬調(diào)制(PWM)是最簡(jiǎn)單的DAC結(jié)構(gòu)類型,可通過(guò)簡(jiǎn)單的低通模擬濾波器傳遞脈寬調(diào)制波形。這些器件通常應(yīng)用于電機(jī)控制領(lǐng)域,但它們也可作為Σ-Δ轉(zhuǎn)換器的基礎(chǔ)。

眾多專家級(jí)器件(specialist device)的制造商已成功開(kāi)發(fā)其自有的內(nèi)部轉(zhuǎn)換架構(gòu),可根據(jù)用途盡可能提供適用于特定領(lǐng)域的最佳性能。每種器件在轉(zhuǎn)換速度、精度以及分辨率方面都各具優(yōu)劣勢(shì)。在選擇FPGA時(shí),您需要考慮I/O數(shù)量、所支持的I/O標(biāo)準(zhǔn)、時(shí)鐘管理、邏輯資源和存儲(chǔ)器,以及其它與器件類型相關(guān)的具體參數(shù):最高采樣頻率、信噪比(SNR)、無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍(SFDR)以及有效位數(shù)(ENOB)等。

采樣頻率非常簡(jiǎn)單,是ADC能夠數(shù)字化輸入信號(hào)的最高速率。SNR表示信號(hào)與噪聲電平的比值,與輸入信號(hào)無(wú)關(guān)。用戶可以利用以下公式來(lái)確定SNR的理論值:

其中N表示分辨率。該方程適用于滿量程正弦波。

在系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程中,用戶可首先對(duì)輸出執(zhí)行快速傅里葉變換(FFT),然后測(cè)量輸入信號(hào)與本底噪聲的比值,這樣即可確定實(shí)際的SNR值。

與此同時(shí),SFDR表示輸入信號(hào)與下一個(gè)最高峰值(通常為基諧波)的比值。通常SFDR用dBc來(lái)表示,會(huì)隨著輸入信號(hào)功率的降低而相應(yīng)減小。

從轉(zhuǎn)換器的測(cè)量結(jié)果可以看出,用戶可利用下列式子來(lái)計(jì)算有效位數(shù):

當(dāng)進(jìn)行這項(xiàng)測(cè)試時(shí),應(yīng)注意選擇合適的FFT點(diǎn)數(shù),從而確保不會(huì)由于一時(shí)疏忽而錯(cuò)誤計(jì)算本底噪聲。FFT點(diǎn)數(shù)不恰當(dāng)將導(dǎo)致錯(cuò)誤的計(jì)算結(jié)果。FFT本底噪聲可通過(guò)下列式子計(jì)算得出:

用戶應(yīng)通過(guò)單音測(cè)試(通常為簡(jiǎn)單的正弦波)執(zhí)行這些步驟,可降低輸出頻譜的復(fù)雜性。為了確保獲取最佳結(jié)果,需要確保對(duì)輸出信號(hào)執(zhí)行相干采樣。如果在數(shù)據(jù)窗口中包括幾個(gè)周期,則執(zhí)行相干采樣。公式如下:

頻譜

另一方面,用戶在實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)時(shí)還必須了解奈奎斯特準(zhǔn)則,以確保正確地轉(zhuǎn)換或量化信號(hào)。這意味著用戶對(duì)所關(guān)注信號(hào)執(zhí)行采樣時(shí),采樣頻率至少為該信號(hào)最高頻率的2倍,才能確保正確進(jìn)行轉(zhuǎn)換。如果未按此標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行采樣,則將發(fā)生混疊;而如果沒(méi)有正確理解混疊,則可能導(dǎo)致性能欠佳。

此外,因?yàn)檫@個(gè)原因,ADC需要利用抗混疊濾波器來(lái)阻止信號(hào)或噪聲混疊至量化的信號(hào)中。但是,頻譜混疊對(duì)于來(lái)說(shuō)非常有用,在ADC具有寬泛輸入帶寬的情況下尤為如此。經(jīng)過(guò)周密安排考慮之后,混疊使用戶無(wú)需借助下變頻器即可直接轉(zhuǎn)換信號(hào)。出于這種考慮,我們將頻譜劃分為幾個(gè)區(qū)域。

利用表1中給出的信息,如果轉(zhuǎn)換器擁有足夠高的帶寬,則可將信號(hào)從一個(gè)奈奎斯特頻帶混疊至另一個(gè)頻帶。

FPGA工程師應(yīng)如何挑選ADC和DAC

通信選擇

正如所有的外部器件一樣,ADC與DAC也配套提供了數(shù)個(gè)并行或串行接口選項(xiàng)。通常情況下,較高速器件用并行接口,較低速器件用串行接口。但是,可以根據(jù)您的應(yīng)用選擇采用特殊的接口方式。例如,采用串行接口比采用并行接口可以更輕松地檢測(cè)出固定比特(stuck-atbit)。實(shí)際上,高速接口可提供多條輸出總線(I和Q)或采用雙數(shù)據(jù)速率(DDR)輸出模式;有些器件甚至可能同時(shí)提供這兩個(gè)選項(xiàng)。提供多條總線或采用DDR輸出模式使用戶能夠保持?jǐn)?shù)據(jù)速率,同時(shí)降低接口所需的運(yùn)行頻率。例如,如果接口的采樣頻率為600MHz,則其輸出頻率為300MHz(為采樣頻率的一半)。

如果時(shí)鐘頻率為75MHz(1/4采樣頻率)并且有兩條可通過(guò)DDR對(duì)器件進(jìn)行采樣的數(shù)據(jù)總線,則可非常輕松地執(zhí)行恢復(fù)操作。這類ADC對(duì)輸入時(shí)序要求較為寬松。眾多高速轉(zhuǎn)換器均可利用其I/O中的LVDS信號(hào),因?yàn)檩^低的電壓擺幅和低電流可降低由其它信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)所引發(fā)的耦合性,如LVCMOS等。這種耦合問(wèn)題會(huì)影響轉(zhuǎn)換器的混合信號(hào)性能。

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