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開關(guān)電源電磁兼容性問題研究

作者: 時間:2012-10-31 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

5 結(jié)語

如今EMI/EMC問題已成為開關(guān)電源穩(wěn)定工作的一個關(guān)鍵因素,也是開關(guān)電源能否更加廣泛應(yīng)用的關(guān)鍵因素。開關(guān)電源的 EMI抑制技術(shù)在開關(guān)電源設(shè)計中占有很重要的位置。產(chǎn)生開關(guān)電源電磁干擾的因素很多,抑制電磁干擾還有大量的工作。全面抑制開關(guān)電源的各種干擾會使開關(guān)電源得到更廣泛的應(yīng)用。

參考文獻

[1] 錢振宇.開關(guān)電源的電磁兼容性設(shè)計與測試[M].北京:電子工業(yè)出版社,2006.

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2011,28(3).53-55.

作者簡介

姚志樹(1978-),男,江蘇鹽城市人,碩士,講師,研究方向為電力電子技術(shù)、電源技術(shù)?!?/span>


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