惠瑞捷推出半導(dǎo)體行業(yè)首創(chuàng)可擴(kuò)展測(cè)試機(jī)臺(tái)系列 -V93000 Smart Scale平臺(tái)

        Advantest 集團(tuán)（東京證券交易所：6857；紐約證券交易所：ATE）旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性價(jià)比的測(cè)試機(jī)臺(tái)系列，可用來(lái)測(cè)試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)的芯片。

        Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測(cè)試機(jī)臺(tái)，與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的 V93000 平臺(tái)完全相容。智能測(cè)試意味著每個(gè)通道卡具有獨(dú)立的時(shí)鐘域，通過(guò)匹配受測(cè)器件的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)率要求，實(shí)現(xiàn)全面的測(cè)試覆蓋率。配合電源調(diào)制、抖動(dòng)注入和協(xié)議通訊等其他重要特性，系統(tǒng)級(jí)壓力測(cè)試如今可在 ATE 層執(zhí)行，提高了故障模型覆蓋范圍。

       “憑借我們創(chuàng)新的 V93000 Smart Scale系列的測(cè)試系統(tǒng)和通道卡，惠瑞捷在智能測(cè)試解決方法方面取得領(lǐng)先，這些方法提供了定制的解決方案，可以為客戶降低測(cè)試成本。”Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統(tǒng) (SOC) 測(cè)試部執(zhí)行副總裁)表示。

        四個(gè)等級(jí)的 Smart Scale 測(cè)試機(jī)臺(tái)（A類、C類、S類 和 L類）分別有不同的測(cè)試頭尺寸，使惠瑞捷可為每個(gè)客戶提供最高效的特定應(yīng)用解決方案。

        Wagner 補(bǔ)充道：“由于每個(gè)等級(jí)的測(cè)試機(jī)臺(tái)彼此完全相容，當(dāng)芯片的產(chǎn)量在設(shè)備生命周期內(nèi)變更時(shí)，用戶可快速輕松地把半導(dǎo)體器件從一個(gè)等級(jí)移至另一等級(jí)的Smart Scale機(jī)臺(tái)。目前沒(méi)有其他自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商有能力生產(chǎn)具有此功能的機(jī)臺(tái)。”

        惠瑞捷的獨(dú)特技術(shù)提高了并行測(cè)試的能力，并帶來(lái)了行業(yè)內(nèi)第一個(gè)針對(duì)晶圓測(cè)試的全性能的解決方案,可以滿足高階的片上系統(tǒng) (SOC)器件、系統(tǒng)級(jí)封裝 (SiP)器件和晶圓級(jí)芯片尺寸封裝 (WLCSPs) 的重要性能的測(cè)試需求。

        V93000 Smart Scale 測(cè)試機(jī)臺(tái)推出同時(shí)，惠瑞捷還發(fā)布了三款新的數(shù)字通道卡。

        新的Pin Scale 1600 數(shù)字卡和Pin Scale 1600-ME（存儲(chǔ)器仿真）卡為每個(gè)數(shù)字通道提供了行業(yè)最廣泛的能力范圍。除了提供從DC 到每秒 1.6 千兆比特（Gbps，早期系列的雙倍速率）的數(shù)據(jù)率范圍，這些卡還達(dá)到了先前通道卡密度的兩倍或四倍。高度集成、小外型封裝的新卡具有惠瑞捷 clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™、PRBS per pin 和 SmartLoop™ 等測(cè)試能力，可滿足對(duì)稱高速接口的測(cè)試要求。此外，這些卡具有精確 DC 能力，并可執(zhí)行高效的多路并行異步測(cè)試以及并發(fā)測(cè)試。

        惠瑞捷的新款 Pin Scale 9G 卡使實(shí)速測(cè)試具備了經(jīng)濟(jì)性。它將高達(dá) 8 Gbps 的數(shù)據(jù)率和與Pin Scale 1600同樣的per pin通用性相結(jié)合，盡量提高通道使用率，并盡量減少閑置資源。Pin Scale 9G 卡支持所有通道的雙向功能，以及單端和差分模式。還可執(zhí)行有向量和無(wú)向量測(cè)試，滿足絕大多數(shù)測(cè)試需要，包括面向設(shè)計(jì)驗(yàn)證的并行 I/O 測(cè)試，以及大批量生產(chǎn)中的串行物理層 (PHY) 測(cè)試。