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臺積電推展EDA、IP認證機制

作者: 時間:2009-04-24 來源:DigiTimes 收藏

  將一統(tǒng)?針對65納米混訊與制程推出設(shè)計套件,同時宣布未來客戶將采用由事先認證過的、工具以提升投片成功率。在臺積電揮舞認證的大旗下,未來勢必使廠商想跟臺積電密切合作都要先經(jīng)過認證關(guān)卡,也將促使客戶跟進選用臺積電認可的與EDA工具,臺積電收編IP與EDA市場的用意明顯。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/93771.htm

  臺積電借著技術(shù)論壇期間宣布,推出全球第一套65納米與混訊設(shè)計套件,為了推出這款套件,臺積電與EDA廠商Cadence合作數(shù)年,在臺積電開放創(chuàng)新平臺(OIP)上進行合作研發(fā)。這款設(shè)計套件簡單而言,鼓勵業(yè)者重復(fù)采用IP,降低IC設(shè)計仿真與晶圓制造之間的誤差,業(yè)者表示,臺積電推出65納米與混訊設(shè)計套件可以說把設(shè)計環(huán)境、參考設(shè)計條件基本上都齊備了,大大降低IC設(shè)計業(yè)者設(shè)計門坎,可以盡速進入投片階段。

  值得注意的是,這款設(shè)計套件第二季起將免費開放給特定客戶,據(jù)了解聯(lián)電也積極與EDA業(yè)者設(shè)計類似的套件,不過卻讓臺積電界由2009年第一場技術(shù)論壇的時機捷足先登率先對外宣布。

  此外,臺積電也表示,未來客戶在完成設(shè)計(Sign-Off)流程若選擇事先經(jīng)過臺積電認證的IP與EDA工具、先進制程設(shè)計方法,可以更快速進入量產(chǎn),并且保證第一次投片就擁有高成功率(First Silicon Success)。臺積電的做法除了是加快客戶的量產(chǎn)時程,也激起業(yè)界高度關(guān)注,尤其由臺積電來登高一呼制訂認證標準,未來IP與EDA等次產(chǎn)業(yè)供貨商勢必得通過與臺積電合作,才能為客戶所用,確保后段生產(chǎn)的效率與良率。

  目前不同EDA業(yè)者都各自擁有自行定義設(shè)計的設(shè)計套件與環(huán)境,臺積電率先以認證方式頗具有一統(tǒng)江湖的企圖。不過目前眾多EDA業(yè)者已經(jīng)體認到可開放式設(shè)計套件(interoperable PDK)的重要性,IC設(shè)計業(yè)者在不同設(shè)計套件中可進行轉(zhuǎn)換互通,目前也已有EDA業(yè)者與晶圓代工廠開始著手進行推展可開放式設(shè)計套件,據(jù)傳臺積電也對此也抱持贊成的態(tài)度。不過在可開放式設(shè)計套件尚未正式形成業(yè)界共識之前,臺積電透過認證機制似乎已經(jīng)有一統(tǒng)江湖用意。



關(guān)鍵詞: 臺積電 IP 射頻 EDA IC設(shè)計

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