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為手持式測量應(yīng)用選擇最佳的微控制器(06-100)

—— 為手持式測量應(yīng)用選擇最佳的微控制器
作者:德州儀器 Juan Alvarez 時間:2008-04-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  由于各種 (MCU) 在成本、外設(shè)設(shè)計與組合、CPU 架構(gòu)以及板級集成度等方面的多樣性日益豐富,因此要為特定的應(yīng)用選擇一款最佳 MCU 也變得更具挑戰(zhàn)性。對于便攜式工業(yè)測量應(yīng)用而言,為應(yīng)用選擇最佳的 MCU 需要優(yōu)先滿足關(guān)鍵應(yīng)用需求,如擁有超長電池使用壽命、高性能模擬外設(shè)以及豐富的用戶接口。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/81424.htm

  超長電池使用壽命

  為了盡可能實現(xiàn)最長的電池使用壽命,設(shè)計人員必須將平均電流消耗降至最低。設(shè)計人員需要考慮相關(guān)運行參數(shù)并根據(jù)各種工作條件來計算平均功耗。如果設(shè)計人員倉促做出決定則可能造成功耗過高。目前的低功耗 MCU 具有多種運行模式,包括工作模式、待機(jī)模式以及斷電模式。在工作模式下,所有時鐘都處于工作狀態(tài)。在待機(jī)模式下,CPU 時鐘處于休眠狀態(tài),但實時時鐘仍在運行,并等待某個中斷事件喚醒 CPU;MCU 通常具有不同級別的待機(jī)操作模式。在斷電模式下,所有時鐘全部處于休眠狀態(tài),等待某個事件喚醒 CPU。為了解每種運行模式的功耗,我們的研究范圍必須超越產(chǎn)品說明書所列的功能。某些產(chǎn)品說明書規(guī)定了非實際工作條件下的電流消耗。為了更準(zhǔn)確地了解情況,應(yīng)當(dāng)對比下列情況下的最大電流消耗,即應(yīng)用將采用各種運行模式工作電壓與工作溫度的最大電流消耗。對于采用鋰電池的應(yīng)用,大多數(shù)情況下工作電壓為 3V、工作溫度為 25℃。

  另一種延長電池使用壽命的方法是盡可能縮短待機(jī)/斷電模式與運行模式之間的切換時間。某些廠商提供“按需”時鐘源,用于在確定已中斷之后立即提供穩(wěn)定的時鐘源。

  MCU 可以采用標(biāo)志輪詢 (flag polling) 或中斷矢量 (interrupt vector) 來喚醒 CPU。由于 CPU 能夠立即響應(yīng)任何事件并且在輪詢外設(shè)時不浪費電流,所以由中斷驅(qū)動的架構(gòu)可以顯著降低功耗。

  待機(jī)模式比工作模式的功耗低。我們必須選擇能夠使 CPU 盡可能保持在待機(jī)模式的 MCU。專為低功率運行設(shè)計的 MCU 可以利用定時器與數(shù)據(jù)自動觸發(fā)模數(shù)轉(zhuǎn)換,而無需 CPU 通過直接存儲器存取(DMA) 與緩沖器的采樣進(jìn)行干預(yù)。當(dāng) CPU 處于空閑狀態(tài)時,我們可將它用于實施其他操作,從而提高系統(tǒng)的吞吐能力,另外,它還可以斷電以降低應(yīng)用的平均功耗。

  降低功耗的關(guān)鍵是盡可能降低泄漏電流。對大多數(shù)便攜式應(yīng)用而言,終端產(chǎn)品一般是成品,因此泄漏電流因素決定平均電流消耗等式。應(yīng)當(dāng)計算端口的總泄漏電流,同時確保采用可以最小化電流消耗的端口配置。

  應(yīng)當(dāng)單獨評估 MCU 的每種功能,以便了解其電流消耗的影響。例如,在集成掉電保護(hù)功能時就應(yīng)當(dāng)慎之又慎。在插入電池過程中或者應(yīng)當(dāng)單獨評估 MCU 的每種功能,以便了解其電流消耗的影響。例如,在集成掉電保護(hù)功能時就應(yīng)當(dāng)慎之又慎。在插入電池過程中或者電源低于正常供電規(guī)格但高于接地規(guī)格時就可能出現(xiàn)掉電情況。大部分 MCU 都集成了斷電保護(hù)功能,但是此功能可能會增加 20mA~70mA 的平均電流消耗。在添加上述保護(hù)功能時應(yīng)當(dāng)選擇不增加電流消耗的 MCU。

  高性能模擬

  在進(jìn)行架構(gòu)決策時應(yīng)當(dāng)研究模擬要求。應(yīng)當(dāng)仔細(xì)查看 MCU 產(chǎn)品提供的外設(shè),確保其能夠支持當(dāng)前和未來需求。例如,MSP430 系列中的部分器件為便攜式測量應(yīng)用提供12 位 A/D、12 位 DAC 以及低功耗運算放大器。選擇能夠提供高性能外設(shè)組合的 MCU 產(chǎn)品系列以使設(shè)計人員能夠確保實現(xiàn)未來的集成策略。另外,如果無法獲得能夠提供理想模擬外設(shè)組合的 MCU,則可以采用外置模擬外設(shè),因為性能比集成更重要。

  如果 MCU 已經(jīng)集成了外設(shè),則應(yīng)當(dāng)檢查外設(shè)的設(shè)計,以確保應(yīng)用能夠正常運行。某些 CPU 具有更高的數(shù)據(jù)處理效率。帶 12 位 A/D 的 16 位 MCU 的數(shù)據(jù)處理速度比8 位 MCU 更快。16 位 MCU 通過一個 16 位寄存器進(jìn)行采樣,而 8 位 MCU 必須利用 2 個 8位寄存器來處理采樣。


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