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優(yōu)化高分辨率DAC的DC測量

作者:美國模擬器件公司 Rob Whitehouse 時間:2008-03-24 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  在討論一種具有22 bit線性度和存在1.4 V最低有效位噪聲的24 bit數(shù)模轉(zhuǎn)換器()的時候,一位同事問到,“測試時應(yīng)該如何測量微伏(V)級的電壓?”測量高分辨率直流(DC)電壓是很復(fù)雜的。在測試過程中,時間就是金錢,所以這為快速、精確地完成測量提出了一項持久的挑戰(zhàn)。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/80573.htm

  傳統(tǒng)的最優(yōu)化方法采用精密放大器電路和越來越快的測量器件。這些仍然是必需的,但是要想在最短的時間內(nèi)完成最優(yōu)的測量是不夠的。建立時間和信號噪聲之間的反比關(guān)系取決于驅(qū)動待測器件(DUT)電路的有效噪聲帶寬。DUT和測量儀器決定了這個系統(tǒng),從而把建立時間和寬帶噪聲不可分割地聯(lián)系在一起。


圖1 同步鎖相系統(tǒng)的主要組成部分


圖2  Belden 1694A的頻率響應(yīng)

  如果該電路帶寬為零,那么其噪聲也應(yīng)為零,我們僅僅用一個樣本就能進(jìn)行測量。遺憾的是,這樣的電路就永遠(yuǎn)不能達(dá)到穩(wěn)定,那么我們也會得到100%的DC誤差。因此過窄的帶寬會造成很長的測量時間。

  如果該電路的帶寬為無限大,那么建立時間就應(yīng)為零。遺憾的是,寬帶噪聲也為無限大,我們永遠(yuǎn)無法獲得足夠精度的測量。因此,快速放大器實際上會加快測量高分辨率電壓所需的時間。

  下面我們來探討一下這種關(guān)系。

  建立時間

  在測試過程中,在一個階躍電壓作用之后 DUT輸出必需在預(yù)定的誤差帶內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定。假設(shè)一個單極點階躍響應(yīng),建立時間直接取決于帶寬:

  其中:

  Ts:建立時間

  P:建立百分比

  BW:3 dB帶寬

  寬帶噪聲

  每種電壓測量都會從DUT、放大器和電阻器引入寬帶噪聲。放大器存在電壓噪聲和電流噪聲,電阻器存在約翰遜噪聲(又稱熱噪聲)。寬帶噪聲規(guī)定以Vrms/?Hz為單位來表示:

  以電壓有效值(Vrms)為單位,并且假設(shè)服從高斯分布,其中

  En :以Vrms/?Hz為單位的噪聲

  Etot:以Vrms為單位的總噪聲

  BWe:有效噪聲帶寬

  因為濾波器的滾降系數(shù)不是無限陡峭的,噪聲在-3 dB截止帶寬外的影響就變小了。有效噪聲帶寬就是指這個區(qū)域內(nèi)的噪聲。單主極點的有效噪聲帶寬等于其-3 dB帶寬的p/2倍。

  允許測量誤差

  對于給定的寬帶噪聲和有效噪聲帶寬,允許測量誤差決定了所需的樣本數(shù)量?;镜慕y(tǒng)計給出對給定總噪聲平均達(dá)到98%置信度所需的樣本數(shù)量。平均值的這種變化表示對單個DC電壓測量的可重復(fù)性。

  其中:

  Ve :允許測量誤差,以V為單位 

  C:Student T檢驗(對于98%置信度的平均值為1.6)

  N:樣本數(shù)量

  Tm:采集一個樣本的時間,以為秒(s)單位

  Tmeas :測量時間,以為s單位

  BWn:有效噪聲帶寬

  建立時間與測量時間

  圖1通過曲線示出了當(dāng)建立時間和測量時間相等時呈現(xiàn)出的最優(yōu)時序,并且給出了單極點條件的理想帶寬。

  Time(S) = 時間(s)

  Effective Analog Bandwidth = 有效模擬帶寬

  Sampling = 采樣時間

  Settling = 建立時間

  Total Time = 總時間

  圖1的例子示出了在噪聲帶寬為40 nV/肏z和測量誤差為1 V條件下的建立時間必須達(dá)到1 ppm。每個樣本需要2 s。如圖所示,最佳的帶寬介于10 kHz~20 kHz之間。

  令Tmeas等于Ts,我們就可以從數(shù)字上得到最優(yōu)的帶寬:

  采用上述公式,本例的最佳帶寬為13.07 kHz。樣本數(shù)量為85。達(dá)到1 ppm的建立時間為168 s。根據(jù)定義,總測量時間是建立時間的兩倍,為336 s。


圖3  HD-SDI信號通過同軸電纜后眼圖變化


圖4  經(jīng)過均衡處理后的輸出信號


圖5  電纜均衡器LMH0044的典型應(yīng)用電路圖

  其它考慮

  進(jìn)行高分辨率測量的問題相當(dāng)多,這里的討論絕對沒有涵蓋全部。下面的幾點考慮在解決總體問題時很重要:

  1) 測量設(shè)備的建立時間:如果測量電路中的某個元件存在建立時間問題,那么會把它加至總測量時間上。轉(zhuǎn)換速率的限制是一個很常見的原因。所以任何時候都要采用小信號建立時間進(jìn)行計算。介質(zhì)吸收會造成特別不利的影響,所以要謹(jǐn)慎地選擇濾波器電容。

  2) 設(shè)置目標(biāo):設(shè)置目標(biāo)很容易設(shè)置為很小的值,例如0.0001%,結(jié)果會顯著增加測量時間。因為設(shè)置目標(biāo)會對階躍電壓起作用,所以當(dāng)階躍電壓為測量動態(tài)范圍的分?jǐn)?shù)倍時,應(yīng)采用較大的目標(biāo)值。針對不同的測量過程單獨地設(shè)定帶寬是有必要的。

  3) 設(shè)置誤差電壓:上述原則同樣也適用于設(shè)置允許誤差電壓。通常會對所有的測量設(shè)置太小值。統(tǒng)計結(jié)果表明,如果采用1.6的Student T檢驗,在測量中所見的偏差應(yīng)該在所需要時間誤差的98%以內(nèi)。

  4) 基準(zhǔn)電壓源:基準(zhǔn)電壓源可能會引入噪聲,包括寬帶噪聲和1/ f噪聲。在情況下,噪聲可能依賴于具體的數(shù)碼。

  5) 測量帶寬噪聲:采用一種高質(zhì)量的頻譜分析儀直接測量電路的寬帶噪聲。對于典型的電路中給定的多個噪聲源,在紙上進(jìn)行精確的計算是很冗長乏味的,而且很容易出錯。

  6) 測量精度和分辨率:假設(shè)測量設(shè)備的精度和分辨率比實際測量中的允許誤差小得多。一般地,測試工程操作要求測量設(shè)備的分辨率要比允許誤差高一個數(shù)量級。

  7) 放大器:在信號鏈路中采用低噪聲的運(yùn)算放大器。保證低電阻值是一種很好的思想,但是也不能太低以至于引起放大器的電流驅(qū)動和散熱等問題。 


圖6  同步鎖相系統(tǒng)中的主要組件


圖7  LMH1981同步分離器與PLL產(chǎn)生像素時鐘的框圖

  結(jié)語

  測試成本要求對傳統(tǒng)的低速、高分辨率測量進(jìn)行優(yōu)化。這種方法允許我們縮短測量時間并節(jié)約資金。它還可做為測試設(shè)計的一級近似。在設(shè)計周期的早期是讓開發(fā)團(tuán)隊了解測試經(jīng)費是否很高的最佳時機(jī),例如,18 bit 的全部代碼測試。半導(dǎo)體工業(yè)正處于產(chǎn)生20 bit DC電路的關(guān)鍵時刻。未來的挑戰(zhàn)需要高素質(zhì)的測試工程師。



關(guān)鍵詞: DAC DC測量

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